双行程机构制造技术

技术编号:8180548 阅读:196 留言:0更新日期:2013-01-08 23:40
本实用新型专利技术公开了一种双行程机构,包含垂直设置的上模块和下模块;上模块包括平面座和与平面座铰接可摆动的摆动块,摆动块另一端设置一滚轴,位于铰接轴两侧的摆动块与平面座之间分别设置一弹簧;下模块中包括固定座、安装于固定座上且平行的两个侧板,每个侧板上固定一定位块,两个定位块之间形成一可容纳摆动块的空间;定位块的周向包含三个依次相交的面,位于上面的上斜面和位于下面的凹弧面、下斜面,其中,凹弧面可以将沿上斜面滑进该凹弧面中的滚轴卡住。通过将上模块上的滚轴卡入定位块中的凹弧面中,可以精确的控制行程中途的停止位置,为ICT测试提供双行程,使同一块针板上长度不同的两种探针可以分别测试,不影响测试准确性。(*该技术在2022年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种双行程机构,属于机械

技术介绍
在线测试ICT (In-Circuit Test)是通过对在线元器件的电性能及电气连接进行测试来检查生产制造缺陷及元器件不良的一种标准测试手段,具有操作简单、快捷迅速、故障定位准确等特点。ICT测试时,需要对一块电路板中的众多器件、连接线路进行测试,通常需要多块单行程的针板。若在同一块针板上设置长度不同的探针,先由长探针与要测试的部分线路或器件接触并进行测试,然后由短探针与要测试的另一部分线路或器件接触进行测试,则不易控制针板的运动行程,若运动行程不精确,则在长探针测试时,短探针也可能 与线路或器件接触,影响测试准确性。
技术实现思路
本技术所要解决的技术问题是提供一种双行程机构,可以精确的控制行程中途的停止位置,为ICT测试提供双行程,使同一块针板上长度不同的两种探针可以分别测试,不影响测试准确性。为解决上述技术问题,本技术提供一种双行程机构,其特征是,包含垂直设置的上模块和下模块,其中一个模块可以在垂直方向上相对另一个模块运动;所述上模块包括一平面座和一端与所述平面座铰接可摆动的垂直的摆动块,所述摆动块另一端设置一垂直于所述摆动块本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种双行程机构,其特征是,包含垂直设置的上模块和下模块,其中一个模块可以在垂直方向上相对另一个模块运动;所述上模块包括一平面座和一端与所述平面座铰接可摆动的垂直的摆动块,所述摆动块另一端设置一垂直于所述摆动块平面的滚轴,位于所述铰接轴两侧的所述摆动块与所述平面座之间分别设置一弹簧;所述下模块中包括一固定座、安装于固定座其中一面上且平行的两个侧板,两个侧板形成一夹持空间;夹持空间中,每个侧板上固定一定位块,两个定位块之间形成一可容纳上模块中垂直的摆动块的空间;所述定位块的周向包含三个依次相交的面,位于上面的上斜面和位于下面的凹弧面、下斜面,其中,凹弧面可以将沿所述上斜面最高处运动至最低处并滑进该...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:陈艳飞
申请(专利权)人:昆山迈致治具科技有限公司
类型:实用新型
国别省市:

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