使用力印记来确定质量认可规范的方法技术

本发明专利技术提供了一种方法以使用来第一和第二元件集合上测得的力印记来确定质量认可标准。第一集合不具有质量缺陷且第二集合具有故意的质量缺陷。基于在两个集合中的力印记上的力数据的统计学分析进行初始时间点子集的选择。质量认可标准包括使用马氏距离（MD）值建立的质量阈值，且MD值是从为两个集合中每一个元件所选择的初始时间点子集处的力数据所产生的。所确定的质量认可标准的输出是使用所定义的质量阈值来将具有力印记的元件分类到不具有质量缺陷的元件组或具有类似故意质量缺陷的质量缺陷的元件组。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及在元件的力印记上确定质量认可规范，更具体地，确定质量阈值的方法，该质量阈值是根据沿两个元件集合中的元件的力印记的时间点的选中子集中所定义的，且用于将具有力印记的元件分在不具有质量缺陷的元件组中或具有质量缺陷的元件组 中。背景已知施加力至电线导体和端子来使得电线导体压接至端子。需要来产生压接部分、或芯线压接部分元件的力，是芯线压接力。产生芯线压接部分元件的所施加的芯线压接力具有芯线压接力印记。期望的是在压接过程中施加芯线压接力后，在芯线压接部分元件的质量上呈现一致性的、可靠的质量判定。小于18AWG的较小规格电线导体在具有较少的截面积的电线导体的内部电导体部分中包括多个小股线，作为比较，较大规格电线导体的内部电导体部分中包含有类似的多个小股线。在小于18AWG的电线导体中的内部电导体部分中的较少的截面积使得检测芯线压接部分中电线的未被压接的(missing)小股线(strand)的质量检测越发困难。在产生将电导体部分连接至端子的芯线压接部分元件的制备过程中，在电线导体的电线压接操作过程中多个小股电线中的一个或多个被切断而暴露出内部电导体部分，这可造成在内部电导体部分中多个小股电线中的未被压接的小股线。如果质量缺陷内在于电线导体的电导体部分中，内部导体芯线中电线的未被压接的小股线也会产生。当连接电线导体至端子的芯线压接部分元件被制造成后续被用于产品应用的线束组件时，具有与多个小股电线分离的至少一个未被压接的小股电线的质量缺陷的未被检测到的芯线压接部分元件可产生不期望的不利的下游质量问题。因此，所需要的是改进的芯线压接部分元件的改进质量评估来检测质量缺陷并增加有缺陷的芯线压接部分元件不被用于制造使用该芯线压接部分元件的下游产品应用中的概率。芯线压接部分元件的检测质量缺陷对于被压接至小于18AWG的电线导体尺寸的端子是特别期望的。
技术实现思路
对于产生可靠的芯线压接部分的将电线导体连接至端子的所施加的芯线压接力印记的分析被认为是用于检测包含在芯线压接部分元件中所包含的未被压接的电线导体小股线这样的质量缺陷的合适的质量指标，对于连接至相应端子的具有小于18AWG尺寸的小规格电线导体而言是特别合适的。由于所施加的芯线压接力印记是具有质量缺陷的芯线压接部分元件相对于不具有质量缺陷的芯线压接部分的合适的质量指标，所以期望的是分析芯线压接力印记的质量。对于产生芯线压接部分元件的所施加的芯线压接力印记的分析还包括考虑可具有质量缺陷的芯线压接部分元件和不具有质量缺陷的芯线压接部分元件的构造中正常处理变化。这对于可靠且一致地做出对于芯线压接部分元件质量判定是关键的。根据本专利技术的一个方面，提供了对于在元件上产生的力印记来确定质量认可规范的方法。从第一和第二元件集合中获得力印记。第一元件集合不具有质量缺陷且第二元件集合具有故意的质量缺陷。统计地分析两元件集合中的力数据来在沿力印记、或力印记曲线的时间范围中的多个时间点中选择初始的时间点子集。来自所选择的初始的时间点子集处的力印记的力数据作为马氏距离(Mahalanobis Distance) (MD)算法的输入,为两个集合中的每一个元件产生单个马氏距离(MD)值。通过估算对应于两元件集合的MD值的分布 来定义初始质量阈值。确定质量认可规范的输出是使用所定义的初始质量阈值来将具有力印记的元件分类到不具有质量缺陷的元件组或具有像故意质量缺陷的质量缺陷的元件组。根据本专利技术的另一个方面，提供了用于将电线导体连接至端子的制造过程方法，其使用所确定的芯线压接部分元件的质量认可规范来在具有力印记的新近被制造的芯线压接部分元件上提供质量判定。在其中芯线压接部分元件不具有脱离多个小股电线的未被压接的小股电线的情况下，所给予的质量判定是可认可的质量，或者在其中芯线压接部分元件具有脱离于芯线压接部分元件中的多个小股电线的至少一个未被压接的小股电线的情况下，所给予的质量判定是质量缺陷。根据本专利技术的又一个方面，提供了包含对于在元件上产生的力印记来确定质量认可规范的计算机可读指令的介质。所确定的质量认可规范的输出是使用用所选择的初始时间点子集来定义的经定义质量阈值来将具有力印记的元件分类到不具有质量缺陷的元件组或具有像故意质量缺陷的质量缺陷的元件组。附图说明将参考附图进一步描述本专利技术，附图中图I是正被施加的、作为芯线压接力来产生具有芯线压接力印记的芯线压接部分元件的压力的立体图，且芯线压接部分元件将电线导体连接至端子；图2是通过施加芯线压接力来产生图I的芯线压接部分元件的单个芯线压接力印记的图的示图；图3是根据本专利技术的方法的流程图，示出从第一和第二芯线压接部分元件集合(两个集合中的每一个元件具有类似于图2的芯线压接力印记的力印记)来确定质量认可规范的方法步骤；图4是压力装置的截面图，该压力装置产生被单独地应用为图I的芯线压接力，该芯线压接力产生具有图2的芯线压接力印记的芯线压接部分元件，且如所示，压力未被施加；图5是根据图3的方法，第一和第二芯线压接部分元件集合的局部视图，以及其细节；图6是其中MD值被混合在一起的情况下所绘制的MD值的图的示图；图7是流程图，示出执行从图3的方法中进一步定义的优化过程的方法子步骤，来确定使用优化的时间点子集所建立的优化质量阈值；图8示出其中第二组的MD值与第一组相展开所绘制的MD值的图的示图；图9是流程图，示出根据图3的方法，用于统计地分析力数据的预定统计的方法子步骤；图10是流程图，示出执行验证过程来确定从图7的子步骤中进一步定义的优化时间点子集的稳健质量的方法子步骤；和图11是使用根据图3、7、和10的方法所确定的质量认可规范的制造过程的流程图。具体实施例方式根据本专利技术的示例性实施例，参看图1，压力10被施加至置于端子14中的电线导体12来将导体12压接至端子14。电线导体12包括电导体部分16和围绕电导体部分16的绝缘电线部分18。压力10的一部分被作为芯线压接力20施加至置于端子14中的电线导体12的电导体部分16，以在芯线压接力20被施加后产生芯线压接部分元件22。所施加的压力10的一部分还被作为绝缘压接力26施加至置于端子14中的电线导体12的绝缘电线部分18来产生绝缘压接部位元件28。如图I中所示，就在芯线压接部分元件22和绝缘压接部位元件28被制造前，芯线压接力20和绝缘压接力26被分别施加至置于端子14中的电导体部分16和绝缘电线部分18。电线导体优选地与尺寸匹配于电线导体尺寸的端子相压接。电线导体优选地具有小于18AWG的尺寸。等效于18AWG的度量为O. 8_2。大写的AWG指代美国电线规格且是规定电线规格尺寸的一种表示方法。参看图I和2，产生芯线压接部分元件22的芯线压接力20具有相应的芯线压接力印记曲线、或芯线压接力印记24。芯线压接力印记24，如图2中所示，其示出随着力增长的芯线压接力印记的一部分。本领域技术人员将了解，芯线压接力印记曲线的互补部分还包括跟在增长的力部分后续的力减少的芯线压接力印记的一部分(未示出)。电导体部分16可由编织线(未示出)形成。编织线由多个独立的小股电线(未示出)形成。当多个小股电线中的所有小股电线都被包含在芯线压接部分元件22中时，芯线压接部分元件22可具有可认可的质量。当偏离于多个小股电本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：J·M·亨德尔，R·W·卡文，
申请(专利权)人：德尔福技术有限公司，
类型：
国别省市：