温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明提供了一种方法以使用来第一和第二元件集合上测得的力印记来确定质量认可标准。第一集合不具有质量缺陷且第二集合具有故意的质量缺陷。基于在两个集合中的力印记上的力数据的统计学分析进行初始时间点子集的选择。质量认可标准包括使用马氏距离（MD）...
该专利属于德尔福技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过德尔福技术有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。