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基于微波光子信号正交锁定的测距装置制造方法及图纸

技术编号:8121752 阅读:235 留言:0更新日期:2012-12-22 11:58
本实用新型专利技术公开了一种基于微波光子信号正交锁定的测距装置。现有相位式激光测距鉴相电路复杂,成本高。本实用新型专利技术将扫频信号发生器产生的射频信号经功分器分成两路,一路送至马赫增德尔强度调制器,另一路送至混频器本振口;激光器输出经马赫增德尔强度调制器后,送至三端口环形器第一端口,再由第二端口送至光纤准直器发射;目标反射的光信号经光纤准直器后回到三端口环形器,由第三端口输出至光放大器,放大后进入光电探测器,检测出的射频信号送至混频器射频口,混频器中频口与低通滤波器相连,滤波后信号送至计算机。本实用新型专利技术继承了相位式激光测距的优势,可实现高精度中短距离测量,精度达毫米级。(*该技术在2022年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术属于相位式激光测距领域,涉及一种基于微波光子信号正交锁定的测距与装置。
技术介绍
激光测距是随着科学技术尤其 是激光技术的发展而发展起来的一种高精度距离测量技术,其涉及光学、激光、光电子和集成电子等多种技术。由于激光具有单色性好、角分辨力高、抗干扰能力强,所以与其他测距技术相比,激光测距可以避免微波贴近地面的多路径效应及地物干扰问题,因其良好的精确度特性而广泛的应用在军事和民用领域。根据不同的测量环境和测量领域,激光测距主要有干涉法、反馈法、脉冲法、相位法四种。其中相位式激光测距精度较高,常被用在精密测距中,其测距测量精度可达毫米量级,相对误差可达百万分之一。相位式激光测距技术利用测量发射的调制光和反射的接收光之间光波的相位差所包含的距离信息来实现对目标距离的测量。通常是通过测量调制激光信号的射频信号在待测距离上往返传播所产生的相位差,间接地测量信号传播时间,从而得到待测距离的,在此过程中,相位差的测量就比较关键。目前测相单元所使用的方法很多,可分为模拟测相法和数字测相法两大类,而传统的模拟测相法为达到较高的测相精度,选用的基本测尺频率往往较高,这样对电路要求也较高,从而使精本文档来自技高网...

【技术保护点】
基于微波光子信号正交锁定的测距装置,包括具有扫频功能的射频信号发生器(1)、功分器(2)、窄线宽半导体激光器(3)、马赫增德尔强度调制器(4)、三端口光环形器(5)、光纤准直器(6)、光放大器(7)、高速光电探测器(8)、混频器(9)、低通滤波器(10)和计算机(11),其特征在于:具有扫频功能的射频信号发生器(1)产生的射频信号通过功分器(2)分成两路,其中一路送至马赫增德尔强度调制器(4)射频输入端,另外一路送至混频器(9)的本振输入口;窄线宽半导体激光器(3)的输出光经过马赫增德尔强度调制器(4)后,送至三端口光环形器(5)的第一端口(5?1),并由第二端口(5?2)输出至光纤准直器(6...

【技术特征摘要】
1.基于 微波光子信号正交锁定的测距装置,包括具有扫频功能的射频信号发生器(1)、功分器(2)、窄线宽半导体激光器(3)、马赫增德尔强度调制器(4)、三端ロ光环形器(5)、光纤准直器(6)、光放大器(7)、高速光电探测器(8)、混频器(9)、低通滤波器(10)和计算机(11),其特征在干具有扫频功能的射频信号发生器(I)产生的射频信号通过功分器(2)分成两路,其中一路送至马赫增德尔强度调制器(4)射频输入端,另外一路送至混频器(9)的本振输入口;窄线宽...

【专利技术属性】
技术研发人员:卢春燕王翌金晓峰章献民池灏郑史烈
申请(专利权)人:浙江大学
类型:实用新型
国别省市:

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