退卷设备制造技术

本发明专利技术涉及一种退卷设备，它具有用于退卷出带（２）的退卷机（１）。在该退卷机（１）的后面设有厚度测量装置（３）。由该厚度测量装置可测得已退卷的带（２）的厚度（ｄ）。在厚度测量装置（３）的后面设有校正机（５），由该校正机可校正已退卷的带（２）。在校正机（５）后面设有加工装置（８），由该加工装置可继续加工已校正的带（２）。带（２）的厚度（ｄ）可输送给控制装置（４）。由控制装置根据所测量的带（２）的厚度（ｄ）可对校正机（５）和／或加工装置（８）进行控制。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】本专利技术涉及一种退卷设备，它包括下述部件：用于退卷出带的退卷机，-设置在退卷机后面的厚度测量装置，用于测量已退卷的带的厚度，-设置在厚度测量装置后面的校正机，用于校正已退卷的带，-设置在校正机后面的高度测量装置，用于检测已校正的带的高度位置，-设置在高度测量装置后面的加工装置，用于继续加工已校正的带，-控制装置，由所述厚度测量装置测得的已退卷的带的厚度和测取的高度位置输送给该控制装置，由该控制装置借助计算规则根据已退卷的带的已测取的厚度计算出用于校正机的控制值，并且由该控制装置能够对至少校正机进行控制。DE 10 2004 041 732 A1已公开这种类型的退卷机，例如多个带需要彼此焊接时使用这种退卷机。为了对带头和带尾的正确的高度位置进行调节，必须对校正机进行正确的控制。本专利技术的任务是提供一种可更加最佳化运行的退卷设备。这个任务通过具有权利要求1特征的退卷设备得以完成。根据本专利技术，所述计算规则可由控制装置根据所测得的高度位置进行适配。厚度测量装置优选地构造为基于距离的厚度测量装置。这种类型的厚度测量装置的实例是基于涡流的测量装置和基于运行时间的测量装置。后一种测量装置是以超声波为基础，或者以光为基础，特别是用激光工作。在本专利技术中，基于距离的厚度测量装置之所以特别优选，是因为它紧凑、成本有利且可靠。特别是这种类型的厚度测量机甚至可加装到已存在的退卷机上。厚度测量装置可以在一侧扫描已退卷的带。在这种情况中，必须保证带的未经扫描的一侧位于规定的水平上。例如可以使被已退卷的带在由厚度测量装置对其进行扫描的位置处经过基准辊。代替地厚度测量装置可在两侧扫描已退卷的带。虽然厚度测量装置-->的这一方案要求更高的设备费用，然而带的厚度的检测可与带的高度位置无关地进行。可由控制装置附加地对退卷设备进行控制。从下述对实施例的说明结合附图和其它的权利要求得到本专利技术的其它优点和细节。这些附图是：图1：根据本专利技术的退卷设备，图2：流程图，图3-5：厚度测量装置的可能构造，图6：加工装置的可能构造。根据图1，退卷设备包括退卷机1。借助该退卷机1可退卷出带2。通常带2是一种薄的金属带，例如钢带。通常这种钢带具有0.1至8.0毫米的带厚d。厚度测量装置3设置在退卷机1的后面。借助该厚度测量装置3可动态地测量带2的厚度d。厚度测量装置3将测得的带厚d输送到控制装置4。在厚度测量装置3的后面设置校正机5。校正机5具有多个辊6。这些辊6沿着带的运行方向x错开地布置。它们可从上面和/或从下面交替地靠放到带2上。借助校正机5的这些辊可校正带2，也就是说调节出水平的高度位置h。以这个高度位置，带2的带头7和带2的带尾进入到加工装置8中。这个加工装置8设置在校正机5的后面。带2由该加工装置进行继续加工。在校正机5和加工装置8之间设置有高度测量装置9。由该高度测量装置检测带2的高度位置h，并且将其输送到控制装置4。通常控制装置4控制着整个退卷设备，也就是退卷机1、校正机5和加工装置8。下面结合图2说明这种情况。然而从原理上讲，控制装置4控制着校正机5—特别是校正机5和加工装置8就足够了。根据图2，控制装置4首先在步骤S1中如此地控制退卷机1，即退卷机1开始退卷出带2。在步骤S2中，控制装置4接收由厚度测量装置3测得的带的厚度d。在步骤S3中，控制装置4检验输送给它的带厚d是否不为零，也-->就是说厚度测量装置3是否已测得带2。如果情况是这样，则在步骤S4中，控制装置4—在必要时以合适的时间差—根据测得的厚度d对校正机5进行控制。特别是在步骤S4的范围中，控制装置4可以借助计算规则根据已退卷的带2的测得的厚度d为校正机5的单个的辊6计算出控制值A*，并且将已计算出的控制值A*输送到校正机5。在步骤S5中，控制装置4—在必要时以合适地确定的时间差—为加工装置8计算出控制值B*，并且将其输送给加工装置8。用于加工装置8的控制值B*也可能与已退卷的带2的测得的厚度d有关。例如可以确定这样的时间点，从该时间点起，实际的带厚d与额定厚度d*最大仅相差允许的厚度公差δd(或者更小)。在这种情况中，例如可如此地控制加工装置8，即在带2的对应的部位处将带头7与带2的剩余部切断。附加地也可以根据已退卷的带2的测得的厚度d，调整出相应切割装置的切刀沿着带行进方向x所具有的那个距离。在步骤S6中，控制装置4检验带2是否已到达高度测量装置9。这点例如可借助一种对于专业技术人员来说已知的简单措施就能办到。在步骤S7中，控制装置4接收由高度测量装置9测得的已校正的带2的高度位置h，并且根据所测取的高度位置h对控制装置4借助其为校正机5计算出控制值A*的计算规则进行跟踪。特别是控制装置4可将所测取的高度位置h和额定高度位置h*进行比较，并且借助这种比较对计算规则进行跟踪(适配)。对计算规则的跟踪通常对于专业技术人员来说是已知的，例如适配性的调节和按照这些原理的基于模型的计算方法。在步骤S8中控制装置4检验带2是否达到加工装置8。这种检验例如也可借助轨迹跟踪法进行。代替地也可以由加工装置8给控制装置4输送合适的反馈。如果带2还未到达加工装置8，则控制装置4返回到步骤S2。如果带2已经达到加工装置8，则控制装置4用步骤S9继续执行此方法。在步骤S9中，控制装置4如此地控制校正机5，使这个校正机不再校正带2。特别是将辊6从带2放下。反之在步骤S9的范围中，保留对退卷机1和加工装置8的控制。在步骤S9的范围内，分别针对继续加工，例如可以提高带2退卷的带速度v。在步骤S10中，控制装置4从厚度测量装置3重新得到带2的厚度-->d。在步骤S11中，控制装置4检验所检测的带厚d是否为零。如果带厚d不为零，则在步骤S12中，控制装置4—在必要时又以合适地确定的时间差—根据所测得的带2的厚度对加工装置8进行控制。例如可以类似于对带头7的做法，检验是从哪个时刻起带的厚度d与额定厚度d*的偏差大于所允许的厚度公差δd。在这种情况中如此地控制加工装置8，使它将在图中未详细示出的带尾与带2的剩余部分切断。然后控制装置4返回步骤S9。如果带2的所检测的厚度d达到零值，则带尾已经通过了厚度测量装置3。在这种情况中，控制装置4在步骤S13中使对退卷机1和加工装置8的控制相应地相适配。本文档来自技高网...

【技术保护点】
退卷设备，它包括下述部件：　－用于退卷出带（２）的退卷机（１），　－设置在退卷机（１）后面的厚度测量装置（３），用于测量已退卷的带（２）的厚度（ｄ），　－设置在厚度测量装置（３）后面的校正机（５），用于校正已退卷的带（２） ，　－设置在校正机（５）后面的高度测量装置（９），用于检测已校正的带的高度位置（ｈ），　－设置在高度测量装置（９）后面的加工装置（８），用于继续加工已校正的带（２），　－控制装置（４），由所述厚度测量装置（３）测得的已退卷 的带（２）的厚度（ｄ）和测取的高度位置（ｈ）输送给该控制装置，由该控制装置借助计算规则根据已退卷的带（２）的已测取的厚度（ｄ）计算出用于校正机（５）的控制值（Ａ＊），并且由该控制装置能够对至少校正机（５）进行控制，其特征在于，所述计算规则能够由控制装置（４）根据测得的高度位置（ｈ）进行适配。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】DE 2006-6-19 102006028102.01.退卷设备，它包括下述部件：
-用于退卷出带(2)的退卷机(1)，
-设置在退卷机(1)后面的厚度测量装置(3)，用于测量已退卷
的带(2)的厚度(d)，
-设置在厚度测量装置(3)后面的校正机(5)，用于校正已退卷
的带(2)，
-设置在校正机(5)后面的高度测量装置(9)，用于检测已校正
的带的高度位置(h)，
-设置在高度测量装置(9)后面的加工装置(8)，用于继续加工
已校正的带(2)，
-控制装置(4)，由所述厚度测量装置(3)测得的已退卷的带(2)
的厚度(d)和测取的高度位置(h)输送给该控制装置，由该控制装置
借助计算规则根据已退卷的带(2)的已测取的厚度(d)计算出用于校
正机(5)的控制值(A*)，并且由该控制装置能够对至少校正机(5)
进行控制，其特征在于，所述计算规则能够由控制装置(4)根据测得
的高度位置(h)进行适配。
2.按照权利要求1所述的退卷设备，其特征在于，厚度测量装置
(3)构造成基于距离的厚度测量装置(3)。
3.按照权...

【专利技术属性】
技术研发人员：B舒尔策，
申请(专利权)人：西门子公司，
类型：发明
国别省市：DE[德国]