本发明专利技术公开了一种单线圈磁保持继电器用弹跳测试装置，其特征在于，包括连接上位机的MCU微控制单元，MCU微控制单元分别连接继电器驱动电路和检测电路，被测试继电器分别和继电器驱动电路以及检测电路连接；所述继电器驱动电路连接直流电源。本发明专利技术还公开了一种单线圈磁保持继电器用弹跳测试装置的测试方法，包括：读取上位机发送的控制脉冲宽度参数；投切控制；上位机绘制出信号的电平图，并输出总的脉冲弹跳时间与最大一次脉冲弹跳时间；MCU微控制单元反复上述投切控制步骤若干次；待投切控制步骤全部结束后，输出上述总的脉冲弹跳时间与最大一次脉冲弹跳时间各自最大的一次，从而完成测试。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及开关电器领域中的磁保持继电器测试领域，特别是。
技术介绍
相比较传统的直流继电器，磁保持继电器只需要在控制端加一脉冲即可以使其动作，继电器内的永磁体可以令动作状态保持，即是掉电也不会复位。这样的控制方式带来了功率的降低与可靠性的增加。因此，直流磁保持继电器作为一种常用的低压电器应用在电气设备的各个领域。但是机械开关固有的弹跳问题一直影响着磁保持继电器的使用，其最主要的原因就是弹跳会引起投入过程中不可避免的剧烈涌流。该浪涌电流会直接对开关及下级负载造 成无法愈合的损伤。因此低压电气设备厂家往往在使用继电器之前都需要进行一定的筛选工作，挑选出适合产品需求的继电器。目前针对继电器弹跳的测试设备关注较少，常用的继电器弹跳设备多是基于激光位移传感器或CCD摄像头等光感应原理进行检测。这种设备并不适合做大批量的检测，仅仅适用于实验室研究。
技术实现思路
专利技术目的本专利技术所要解决的技术问题是针对现有技术的不足，提供。为了解决上述技术问题，本专利技术公开了一种单线圈磁保持继电器用弹跳测试装置，包括连接上位机的MCU微控制单元，MCU微控制单元分别连接继电器驱动电路和检测电路，被测试继电器分别和继电器驱动电路以及检测电路连接；所述继电器驱动电路连接直流电源。本专利技术中，所述继电器驱动电路包括第一三极管、第二三极管、第三三极管、第四三极管、第五三极管、第六三极管、第一二极管、第二二极管、第三二极管以及第四二极管； 其中，第一三极管、第二三极管、第四三极管以及第六三极管的基极各自分别接MCU微控制单元； 第一三极管发射极接地，集电极接第三三极管的基极；第三三极管的发射极接直流电源和第一二极管的负极，集电极接第二三极管的集电极、第一二极管的正极、第二二极管的负极以及被测试继电器的一端；第二三极管的发射极接地以及第二二极管的正极； 第六三极管发射极接地，集电极接第五三极管的基极以及直流电源；第五三极管的发射极接直流电源和第三二极管的负极，集电极接第四三极管的集电极、第三二极管的正极、第四二极管的负极以及被测试继电器的另一端；第四三极管的发射极接地以及第四二极管的正极。本专利技术中，所述检测电路包括分别连接被测试继电器开关的电阻和信号输出端，电阻的另一端接电源，信号输出端连接MCU为控制单元。本专利技术还公开了一种单线圈磁保持继电器用弹跳测试装置的测试方法，包括以下步骤 MCU微控制单元收到测试命令后，开始读取上位机发送的控制脉冲宽度参数； 投切控制MCU微控制单元延时5s,发出relay on控制脉冲,捕捉IOOOus之内，每一次上升及下降沿时刻，将第一个下降沿、最后一个下降沿及中间最大的3次脉冲宽度，按照时间先后顺序发送给上位机；MCU微控制单元延时5s,发出relay off控制脉冲； 上位机接收继电器上传的时间结果，绘制出信号的电平图，并输出总的脉冲弹跳时间与最大一次脉冲弹跳时间； MCU微控制单元反复上述投切控制步骤若干次； 待投切控制步骤全部结束后，输出上述总的脉冲弹跳时间与最大一次脉冲弹跳时间各自最大的一次，从而完成测试。本专利技术中上位机和作为下位机的MCU微控制单元进行通讯，传递测试命令及测试结果，所述上位机可以采用普通的工控机或者电脑。MCU可以拖动若干组继电器驱动电路同时测试或分别测试。按照目前设计，一个MCU带6组测试电路。每一组驱动电路驱动一只继电器进行投切，检测电路则负责检测继电器的弹跳及开关状态，并反馈给MCU。MCU将该继电器的弹跳数据进行打包，再上传给上位机。上位机生成弹跳测试波形，并依据先前制定的弹跳判定规则判断继电器是否合格。使用本设备时，继电器的驱动电压、驱动脉冲宽度皆可以调节，以达到不同额定参数继电器及对继电器不同的控制要求下弹跳的测试。有益效果本专利技术的有益效果为使用本专利技术时，被测试的继电器的驱动电压、驱动脉冲宽度皆可以调节，以达到不同额定参数继电器及对继电器不同的控制要求下弹跳的测试，且造价低，能适合实际生产时批量检测要求。附图说明下面结合附图和具体实施方式对本专利技术做更进一步的具体说明，本专利技术的上述和/或其他方面的优点将会变得更加清楚。图I为本专利技术工作原理图。图2为本专利技术中继电器的驱动和检测电路示意图。图3为本专利技术中测试方法流程图。具体实施例方式如图I所示，本专利技术公开了一种单线圈磁保持继电器用弹跳测试装置，包括连接上位机的MCU微控制单元，MCU微控制单元分别连接继电器驱动电路和检测电路，被测试继电器分别和继电器驱动电路以及检测电路连接；所述继电器驱动电路连接直流电源。如图2所示，本专利技术所述继电器驱动电路包括第一三极管、第二三极管、第三三极管、第四三极管、第五三极管、第六三极管、第一二极管、第二二极管、第三二极管以及第四二极管；其中，第一三极管、第二三极管、第四三极管以及第六三极管的基极各自分别接MCU微控制单元；第一三极管发射极接地，集电极接第三三极管的基极；第三三极管的发射极接直流电源和第一二极管的负极，集电极接第二三极管的集电极、第一二极管的正极、第二二极管的负极以及被测试继电器的一端；第二三极管的发射极接地以及第二二极管的正极；第六三极管发射极接地，集电极接第五三极管的基极以及直流电源；第五三极管的发射极接直流电源和第三二极管的负极，集电极接第四三极管的集电极、第三二极管的正极、第四二极管的负极以及被测试继电器的另一端；第四三极管的发射极接地以及第四二极管的正极。所述检测电路包括分别连接被测试继电器开关的电阻和信号输出端，电阻的另一端接电源，信号输出端连接MCU为控制单元。如图3所示，本专利技术还公开了一种测试方法，包括以下步骤 MCU微控制单元收到测试命令后，开始读取上位机发送的控制脉冲宽度参数； 投切控制MCU微控制单元延时5s,发出relay on控制脉冲,捕捉IOOOus之内，每一次上升及下降沿时刻，将第一个下降沿、最后一个下降沿及中间最大的3次脉冲宽度，按照时间先后顺序发送给上位机；MCU微控制单元延时5s,发出relay off控制脉冲； 上位机接收继电器上传的时间结果，绘制出信号的电平图，并输出总的脉冲弹跳时间与最大一次脉冲弹跳时间； MCU微控制单元反复上述投切控制步骤若干次； 待投切控制步骤全部结束后，输出上述总的脉冲弹跳时间与最大一次脉冲弹跳时间各自最大的一次，从而完成测试。实施例如图I所示，上位机和下位机设备MCU进行通讯,传递测试命令及测试结果。MCU可以拖动若干组继电器驱动电路同时测试或分别测试。按照目前设计，一个MCU可以带6组测试电路。每一组驱动电路驱动一只继电器进行投切，检测电路则负责检测继电器的弹跳及开关状态，并反馈给MCU。MCU将该继电器的弹跳数据进行打包，再上传给上位机。上位机生成弹跳测试波形，并依据先前制定的弹跳判定规则判断继电器是否合格。如图2所示，继电器的驱动电路采用桥式电路。继电器采用桥式电路驱动，Q2^Q5四只三极管组成桥臂，Ql与Q6提供上桥臂驱动逻辑。继电器驱动电路包括三极管Qf Q6、二极管D1 D4 ;其中，三极管D1、D2、D4、D6的基极各自分别接MCU微控制单元，且三极管Dl和D4的触发信号相同，三极管D2和D6的触发信号相同。三极管Ql发射极接地，集电极接三极管Q3的基极；三极管Q3的本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种单线圈磁保持继电器用弹跳测试装置，其特征在于，包括连接上位机的MCU微控制单元，MCU微控制单元分别连接继电器驱动电路和检测电路，被测试继电器分别和继电器驱动电路以及检测电路连接；所述继电器驱动电路连接直流电源。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：徐魁，李邦家，张婷姝，蒋瑀瀛，
申请(专利权)人：江苏华德电力科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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