信息处理设备、三维测量设备和信息处理方法技术

本发明专利技术提供一种信息处理设备、三维测量设备和信息处理方法。信息处理设备包括：获取单元，用于使用从被投射了结构光的测量对象物体反射的光的信息、结构光的光源的位置、以及用于接收反射光并且获取反射光的信息的光接收单元的位置，获取测量对象物体表面上的多个位置；计算单元，用于基于多个位置，获取测量对象物体的表面的位置和方向中的至少一个；以及校正单元，用于基于与在获取多个位置时的测量误差有关的信息、以及测量对象物体的表面的位置和方向中的至少一个，校正多个位置中的至少一个。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及ー种用于对测量对象物体进行三维测量的信息处理设备和信息处理方法。
技术介绍
对于三维空间中的要測量物体的形状、位置姿势的测量，提出了一种用于測量要测量的物体的表面相对于摄像设备的深度信息的測量设备。尤其在非接触式測量设备中，广泛使用通过分析入射至测量对象的光的反射光来測量至测量对象的深度信息的方法。测量方法包括例如光切割方法和空间编码方法，其中，摄像设备(照相机)对被投射了已知结构光的测量对象的图像进行拍摄，并且根据光源位置、照相机位置和拍摄图像上的图案位置，使用三角法计算深度信息。此外，用于计算测量对象的位置姿势的方法通常使用用于使测量对象的形状模型拟合深度信息或ニ维图像的方法。 文献I (P. J. Besl and N. D. Mckay, “A Method for Registration of 3-DShapes，，，IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence, Vol. 14,No. 2，pp. 239-256，1992)讨论了利用模型拟合的位置姿势测量方法。在文献I所述的本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种信息处理设备，包括：获取单元，用于使用来自被投射了结构光的测量对象物体的反射光的信息、所述结构光的光源的位置、以及用于接收所述反射光并且获取所述反射光的信息的光接收单元的位置，获取所述测量对象物体的表面的多个位置；计算单元，用于基于所述多个位置，获取所述测量对象物体的表面的位置和方向中的至少一个；以及校正单元，用于基于与在获取所述多个位置时的测量误差有关的信息、以及所述测量对象物体的表面的位置和方向中的至少一个，校正所述多个位置中的至少一个。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：中里祐介，内山晋二，
申请(专利权)人：佳能株式会社，
类型：发明
国别省市：