本发明专利技术提供能够实现稳定的聚焦控制或者追踪控制的光盘装置。第一检测器(110)接收来自物镜光学系统(107)的反射光，第二检测器(112)接收来自指定的信息层的反射光，位置偏差检测部(121)基于来自第二检测器(112)的信号，检测光束的焦点与记录或再生指定的信息层中的信息的点的位置偏差，杂散光检测部(122)基于来自第一检测器(110)的信号，检测来自位置偏差检测部(121)的信号中所包含的来自光盘(108)表面的反射光即表面杂散光成分，杂散光修正部(117)基于检测出的表面杂散光成分，修正从位置偏差检测部(121)输出的信号。
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及ー种利用从来自激光器等光源的光束生成的近场光(near-fieldlight)再生光盘(包括再生专用以及记录再生用等各种光盘)中的信息、或者在光盘上记录信息的光盘装置，尤其涉及对具有覆盖层的光盘修正杂散光(stray light)的光盘装置。
技术介绍
以往，⑶、DVD或BD(Blu_ray光盘)等光盘广泛用于影像信号以及音响信号的记录以及再生。在对光盘记录以及再生信息的光盘装置中，读出写在光盘信息层中的信息的处理通过由利用拾光器而汇聚于信息层的微小光点扫描细微的轨道来进行。在此情况下，为了正确并且连续地读出光盘中写入的信息，使光点追踪轨道的伺服技术是不可或缺的。 因此,在光盘装置中，一般基于表不光点与光盘信息层的位置偏差的聚焦误差信号(以下称为FE信号)进行使光点追踪信息层的聚焦控制。此外，还基于表示光点与轨道中心的位置偏差的追踪误差信号(以下称为TE信号)进行使光点追踪轨道的追踪控制。另外，一般而言，即使在光盘的反射率发生变化、或者记录或再生时光束照射功率发生变化的情况下，上述FE信号以及TE信号的检测增益也能通过利用返回光的光量对FE信号以及TE信号进行标准化的AGC(Automatic Gain Control,自动增益控制)电路而保持恒定。其结果是，能够实现稳定的聚焦控制以及追踪控制。但是，在利用这种光盘装置对具有覆盖层以及多层信息层的光盘记录或再生信息的情况下，会产生如下问题。例如，在具有覆盖层以及多层信息层的光盘中，为了再生信息而将光束照射于指定信息层后，检测出的光束的返回光中不仅包含来自指定信息层的反射光，还包含来自光盘表面以及其他信息层的反射光(其他层杂散光)。因此，检测出的返回光的量是来自指定信息层的反射光与其他层杂散光的和，无法检测出正确的返回光的量。此处，在光盘具有覆盖层以及ー层信息层的情况下，其他层杂散光是来自覆盖层表面(光盘表面)的反射光，来自覆盖层表面的反射光的量取决于表面反射率以及覆盖层厚度。即，表面反射率越大则反射光越大，覆盖层厚度越小则反射光越大。其结果是，在AGC电路中，用于修正光盘的指定信息层内的反射率变化的标准化、用于修正记录或再生时的光束照射功率变化的标准化无法正确进行，得不到具有适当的检测增益的FE信号以及TE信号。因此，来自覆盖层表面的反射光会造成聚焦控制以及追踪控制的不稳定，导致光盘装置的记录性能以及再生性能的降低。为了解决该问题，提出了一种拾光器，设置用于检测其他层杂散光的专用检测器，从返回光的检测光量中减去其他层杂散光的检测光量，并将其结果用于AGC电路，由此修正返回光的量，生成減少了其他层杂散光的影响的误差信号的(例如參照专利文献I)。另ー方面，近年来正在进行实现光盘的进ー步大容量化的方法以及装置的开发。在光盘装置中，信息的记录密度取决于汇聚于记录介质的光点的大小。因此，光盘的大容量化能够通过减小由拾光器照射的光点来实现。该光点的大小与物镜的数值孔径成比例，与照射的光的波长成反比。因此，为了得到更小的光点，可以使所利用的光的波长更短，或者使物镜的数值孔径更大。但是，在迄今为止得到实用化的光学信息记录再生装置中，光盘与物镜之间的间隔与光的波长相比相差很大，若物镜的数值孔径超过1，则从物镜射出的光被透镜出射面全反射，因此无法提高记录密度。对此，作为利用数值孔径超过I的物镜的光记录再生方法，开发了利用SIUSoIidImmersion Lens,固体浸没透镜)的近场光记录再生方法。设介质的折射率为n,光束在介质中相对于光轴的最大角度为9，则数值孔径NA用NA = n* sin0来定义。通常，若数值孔径超过1，则角度0达到临界角以上，因此该区域的光被物镜的出射端面全反射。该全反射的光作为瞬逝光(evanescent light)从出射端面透出。近场光记录再生方法能够将该瞬逝光从透镜传播到光盘。为此，将物镜的出射端面与光盘表面的间隔(空隙)维持为光束波长的1/4以下的距离、即比瞬逝光的衰减距离短的距离，从而使数值孔径超过I的范围的光从物镜透过至光盘。 在使用这种SIL的光盘装置中，以往，采用对在表面设置信息层的光盘记录或再生信息的结构。但是，从保护信息层的观点出发，较为理想的是，采用对如现有光盘那样设置了覆盖层的光盘记录或再生信息的结构。但是，在使用SIL的光盘装置中对具有覆盖层的光盘记录或再生信息的情况下，会产生如下问题。图17是表示在以往的光盘装置中，近场的空隙(air gap)与表面反射光的大小(level)的关系的图。在图17中，横轴Gap是空隙，纵轴Ref是反射率。此处，反射率表示表面反射光大小相对于射入物镜的光束的光量的比例。如图17所示，在光束的波长为405nm的情况下，在空隙为约IOOnm以下的区域，表面反射率根据空隙急剧地发生变化，表面反射率最大达到约37 %。另ー方面，在现有的光盘装置中，表面反射率为8%左右，与空隙无关而保持恒定。此外，在使用SIL的光盘装置中，光盘的覆盖层厚度需要为数ii m左右。另ー方面，在现有的光盘装置中，具有最薄的覆盖层的BD的覆盖层厚度为lOOym。根据以上所述，在使用SIL的光盘装置的情况下，与现有光盘装置、也就是使用远场光记录再生方法的光盘装置相比，表面杂散光(表面反射光)的影响増大。例如，在考虑了数值孔径为I. 78、SIL以及覆盖层的折射率n为2、覆盖层厚度为I. 2 y m左右的光盘装置的情况下，来自信息层的反射光与来自覆盖层表面的杂散光的比例达到约2 I。因此，来自覆盖层表面的杂散光的影响非常大。但是，关于这种使用SIL的光盘装置的检测表面杂散光的方法，在以往技术中并未公开。专利文献I :日本专利公开公报特开2005-346882号
技术实现思路
本专利技术为了解决上述问题，其目的在于提供能够实现稳定的聚焦控制或追踪控制的光盘装置。本专利技术所涉及的光盘装置包括光源，射出光束；聚光光学系统，接近信息载体的表面配置，将由所述光源射出的光束生成的近场光聚光于所述信息载体；聚焦部，使所述光束聚焦于所述信息载体的指定的信息层；第一受光部，接收由所述聚光光学系统的出射端面反射的反射光；间隙控制部，基于来自所述第一受光部的信号，控制所述聚光光学系统与所述信息载体的表面之间的距离；第二受光部，用被分割为多个的受光区域接收来自所述指定的信息层的反射光；位置偏差检测部，基于来自所述第二受光部的信号，检测所述光束的焦点与记录或再生所述指定的信息层中的信息的点的位置偏差；以及杂散光检测部，基于来自所述第一受光部的信号，检测来自所述位置偏差检测部的信号中所包含的、作为来自所述信息载体表面的反射光的表面杂散光成分，其中，所述位置偏差检测部具有基于由所述杂散光检测部检测出的所述表面杂散光成分，修正从所述位置偏差检测部输出的信号的杂散光修正部。根据该结构，光源射出光束。聚光光学系统接近信息载体的表面配置，将从由光源射出的光束生成的近场光聚光于信息载体。聚焦部使光束聚焦于信息载体的指定信息层。第一受光部接收由聚光光学系统的出射端面反射的反射光。间隙控制部基于来自第一受光部的信号，控制聚光光学系统与信息载体的表面之间的距离。第二受光部被分割为多个的受光区域接收来自指定的信息层的反射光。位置偏差检测部基于来自第二受光本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...
【专利技术属性】
技术研发人员：近藤健二，藤畝健司，山元猛晴，
申请(专利权)人：松下电器产业株式会社，
类型：
国别省市：
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