本发明专利技术提供了氟油粗漏测试配套装置，能够满足大批量SMD产品密封性氟油粗漏测试的工艺要求。其包括提篮，其特征在于：其还包括托盘，在所述托盘上阵列有产品凹槽，两个所述托盘并排布置于所述提篮。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及SMD (表面贴装器件)小型化产品的生产エ艺中的品质检验装置，特别涉及SMD产品密封性检测装置，具体为氟油粗漏测试配套装置。
技术介绍
目前SMD产品氟油粗漏测试是这样的一个过程将被抽检的少量SMD产品置于简单的提篮中，然后将提篮浸入氟油检漏仪的125度氟油中，观察是否有冒泡的不良品，然后将不良品拣出。但是，随着SMD产品越做越小(小型化SMD产品是指封装尺寸在2mmX2. 5mm和3mmX3mm的SMD产品)，在其密封性氟油粗漏测试中，由于氟油大比重的特性，产品容易漂浮在氟油中，使测试控制变得很困难；并且随着市场对SMD产品品质的要求越来越高，其密封性粗漏测试也由抽检形式，逐渐提升到100%全检形式，因此对于进行氟油粗漏测试的 装置也提出了更高要求，必须满足对大批量产品同时准确、稳定地进行粗漏测试，我们采用现有生产线上的产品托盘，试图将托盘置于现有提篮中来解决对批量SMD产品进行氟油粗漏测试，但是，现有托盘的外形尺寸为170_X170mm，针对只有150_宽度内腔的氟油检漏仪是无法直接使用的，并且现有产线上的托盘是两层结构，如果放在氟油中其夹层会渗入氟油而冒泡，干扰产品测试。因此现有技术无法满足对批量SMD小型化产品进行氟油粗漏测试的エ艺要求。
技术实现思路
针对上述问题，本专利技术提供了氟油粗漏测试配套装置，能够满足大批量SMD产品密封性氟油粗漏测试的エ艺要求。其技术方案是这样的，氟油粗漏测试配套装置，其包括提篮，其特征在于其还包括托盘，在所述托盘上阵列有产品凹槽，两个所述托盘并排布置于所述提篮。其进ー步特征在于所述托盘的本体为单层；在所述托盘的本体上还设置有对流孔，所述对流孔为通孔；在所述提篮内设有支板，所述支板的本体为ー长方形板，所述支板平行于所述提篮的长度方向卡装于所述提篮；两个所述托盘的本体一侧边缘的底部分别抵于所述提篮的底板边缘，其另ー侧底部分别搭搁于所述支板的本体上；其还包括托盘架，所述托盘架包括顶板、底板、左侧壁、右侧壁，所述左侧壁、右侧壁的上部固连于所述顶板的两边侧，所述左侧壁、右侧壁的下部固连于所述底板的两边侧；在所述左侧壁、右侧壁的内壁面上分別平行设有卡槽，所述托盘插装于所述卡槽；其更进ー步特征在于所述对流孔阵列于所述托盘上；在所述左侧壁的后侧端连接有挡架，在所述右侧壁的前侧端连接有挡架，所述挡架的本体为C型；两个所述挡架的本体，其开ロ端分别旋接于所述左侧壁的后侧端的顶部、底部，所述右侧壁的前侧端的顶部、底部。本专利技术的有益效果是，批量的SMD产品置于托盘中，两个托盘可并排于提篮内，这样，再将提篮浸入氟油检漏仪的氟油中，就能够克服现有技术仅有单粒或少量SMD产品置于提篮内，不能满足对大批量的SMD产品进行氟油粗漏检测的エ艺要求的缺陷。而且托盘本体设计为单层，不会出现如使用现有托盘，其两层结构的夹层会因渗入氟油而冒泡，干扰产品测试的现象，而托盘本体上设计有阵列的对流孔，对流孔为通孔，这样有利于氟油的排出，可以大大降低SMD产品在氟油中漂浮的机率；而提篮内设有支板，两个托盘的ー侧底部搭搁在支板上，使得托盘在提篮内呈前后倾斜状，这ー改进更加方便了检测完托盘从提篮内取出，也进ー步有利于氟油的排出；另外，托盘架的设计，同一批次的产品托盘可插装于托盘架上，可以保证每个批次的产品在检测前后均可分开，不会混批。因此，本专利技术氟油粗漏测试配套装置，完全能够满足大批量SMD产品密封性氟油粗漏测试的エ艺要求。附图说明 图I、本专利技术托盘的结构示意图2、本专利技术提篮的结构示意图3、本专利技术托盘架的结构示意图。具体实施例方式见图I、图2、图3，本专利技术包括托盘I、提篮2，托盘I本体为单层，在托盘I上阵列有产品凹槽1-1，在托盘I上还阵列有对流孔1-2，对流孔1-2为通孔，通过多次的实验，我们确定了最优化的方案，托盘采用这样的不锈钢单层设计，能够保证在正常使用中即方便测试又不容易使SMD小型化产品在氟油中漂出，同时有利于氟油的排出，为适合SMD小型化产品，我们设计出两种规格的托盘，一种托盘产品凹槽參数2. lmmX2. 6mm、公差一 O. 04_、厚度2mm、产品凹槽数量90个，另ー种托盘产品凹槽參数3. 25mmX 3. 25mm、公差±0. 04mm、厚度2mm、产品凹槽数量90个；在提篮2内设有支板2_1，支板2_1本体为ー长方形板，支板2-1平行于提篮2的长度方向卡装于提篮2，两个托盘I可并排布置于提篮2内，两个托盘I的一侧边缘的底部Ib分别抵于提篮2的底板边缘2-2，另ー侧底部Ia分别搭搁干支板2-1的上端部，托盘I与提篮2的配合设计，首先保证提篮2在能够满足氟油检漏仪内腔尺寸要求的前提下，还能在提篮2内放置两个托盘1，保证每次不漏检的情况下能够测试最多的产品，每次最多可以测试180粒SMD产品，以满足对大批量SMD产品氟油粗漏检测的需求，实现全检形式；本专利技术还包括托盘架3，托盘架3包括顶板3-1、底板3-2、左侧壁3-3、右侧壁3-4，左侧壁3-3、右侧壁3-4的上部固连于顶板3-1的两边侧，左侧壁3_3、右侧壁3_4的下部固连于底板3-2的两边侧，在左侧壁3-3、右侧壁3-4的内壁面上分別平行设有卡槽3-5，托盘I插装于卡槽3-5，这样在SMD产品检测前后，保证每个批次的产品可以分开，不会混批，在左侧壁3-3的后侧端连接有挡架3-6，在右侧壁3-4的前侧端连接有挡架3-6，挡架3-6本体为C型，两个C型挡架3-6，其开ロ端分别旋接于左侧壁3-3的后侧端的顶部3-3a、底部(图中未表达此处底部)，右侧壁3-4的前侧端的顶部3-4a、底部(图中未表达此处底部)，当托盘I插入卡槽3-5后，可将两个挡架3-6分别向内侧旋转，这ー设计可以对托盘I起到保护作用。下面结合附图简单说明采用本专利技术进行氟油粗漏检测的エ艺流程1)将产线上的产品大托盘中的SMD产品转移到本专利技术托盘I中，可利用本公司专用的托盘转移装置来进行产品转移；2)将托盘I依次放到托盘架3上，同批次的SMD产品放到同一个托盘架3上；3)从托盘架3上一次取出两个托盘1，并排放入提篮2内，将两个托盘I的ー侧抵于提篮2的底板边缘2-2，另ー侧搭搁在支板2-1上；4)将提篮2小心浸入到氟油检漏仪中的125度的氟油中，观察一分钟，发现有冒泡的不良品，即副除；5)将盛有检测完的SMD产品的提篮2拎出氟油检漏仪，然后烘干一分钟；6)将烘干后的SMD产品重新放回托盘架3；7)将步骤6中托盘架3内托盘上的SMD产品转移到产线用的大托盘上； 8)一个批次的SMD产品检测完毕，开始下个批次的检测。权利要求1.氟油粗漏测试配套装置，其包括提篮，其特征在于其还包括托盘，在所述托盘上阵列有产品凹槽，两个所述托盘并排布置于所述提篮。2.根据权利要求I所述的氟油粗漏测试配套装置，其特征在于所述托盘的本体为单层。3.根据权利要求I所述的氟油粗漏测试配套装置，其特征在于在所述托盘的本体上还设置有对流孔，所述对流孔为通孔。4.根据权利要求3所述的氟油粗漏测试配套装置，其特征在于所述对流孔阵列于所述托盘上。5.根据权利要求I所述的氟油粗漏测试配套装置，其特征在于在所述提篮内设有支板，所述支板的本体为一长方形板，所述支板平行于所述提篮的长度方向卡装于所述提篮。6.根据权利要求5本文档来自技高网...
【技术保护点】
氟油粗漏测试配套装置，其包括提篮，其特征在于：其还包括托盘，在所述托盘上阵列有产品凹槽，两个所述托盘并排布置于所述提篮。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：杨文刚，
申请(专利权)人：爱普科斯科技无锡有限公司，
类型：发明
国别省市：
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