用于确定介质特征和容器特征的设备及方法技术

根据本发明专利技术的示例性实施方式，物位测量设备包括自学设备，所述自学设备能够计算圆顶通道的长度、容器高度、物料的渗透率值或物料的介电常数值。这通过使用所测量的回波曲线的回波的一个或若干个所确定的速度值来进行。以此方式，可以提高物位确定的精确度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及物位测量。特别地，本专利技术涉及一种用于确定容器内物料的物位位置和/或两种物料之间的界面的位置以在测量任何类型的物位时确定介质特征和容器特征的物位测量设备，并且还涉及相应的方法、程序元件以及计算机可读介质。
技术介绍
在根据调频连续波(FMCW)或脉冲渡越时间(transit time)法的物位传感器中， 电磁波或声波朝向物料表面方向发射。在此之后，传感器记录由物料反射的、由构建在容器中的对象反射的以及由容器本身反射的回波信号，并据此得到容置在容器内的至少一种物料的表面的位置。关于声波或光波的使用，由物位测量设备产生的信号通常朝向待测物料的表面方向自由地传播。在使用雷达波来测量物料表面的设备中，会既考虑朝向待测介质方向的自由传播又考虑在将雷达波从物位测量设备导向介质的波导装置内部的传播。在根据导向微波原理进行操作的设备中，高频信号沿着波导装置导向介质。在待测的介质表面或物位处，一些到达的信号被反射并在相应的渡越时间之后返回到物位测量设备。未被反射的信号分量进入介质并在介质中对应于介质的物理特性朝向容器底部方向继续传播。这些信号还在容器的底部被反射，并在通过介质和覆盖气本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于确定容器内的物料的物位位置和/或两种物料之间的界面的位置的物位测量设备，所述物位测量设备朝向物料表面的方向发射电磁波或声波，所述物位测量设备(701)包括：回波曲线获取设备(104)，用于获取至少一条回波曲线；回波识别设备(7021)，用于在所述至少一条回波曲线中识别至少两个回波；以及速度确定设备(7023)，用于确定所述至少两个回波的速度值；其中，所述物位测量设备还包括用于自动地确定特征值的设备(7027)，所述特征值选自包括与布置在所述容器的顶部区域中的圆顶的圆顶通道长度、所述容器的容器高度、物料的渗透率值以及物料的介电常数值相关的特征值的组中；其中，所述设备(7027)被设计成使...

【技术特征摘要】
...

【专利技术属性】
技术研发人员：卡尔·格里斯鲍姆，罗兰·韦勒，
申请(专利权)人：VEGA格里沙贝两合公司，
类型：发明
国别省市：