在颗粒分析器中产生脉冲参数制造技术

提供一种在颗粒分析器中为颗粒样品产生测量参数的方法。该方法包括，利用分别沿着探询区域的沿着安置的触发探询器和一个以上的次级探询器探询颗粒样品，基于对来自颗粒样品的第一颗粒的探询产生各个脉冲，基于触发脉冲确定初级脉冲检测窗口，基于包含所述初级脉冲检测窗口和激光延迟的因素，确定搜索间隔以找到所述次级脉冲，基于对所述第一颗粒的所述探询，对于激光延迟变化动态地调整所述搜索间隔；识别所述调整的搜索间隔中的所述次级脉冲，和处理所述次级脉冲以确定所述次级脉冲的峰值。还提供相应的设备。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
这个专利技术涉及使用颗粒分析器的颗粒样品的分析。
技术介绍
颗粒分析器使得颗粒样品的快速分析能够检测样品的各种特性以及检测单个颗粒的特性。一些颗粒分析器还包含根据一个以上的检测特性来对颗粒进行分类的功能。诸如流式细胞仪和血液学分析器的颗粒分析器经常用于分析诸如血液或组织的生物细胞样品。在流式细胞仪中，细胞样品在沿着样品的流路的探询区域中经受探询。典型地，鞘液中的细胞一个一个地通过流动池，其中，它们被包含一个以上的光束的探针探询。例如，一个以上的激光源可以沿着细胞流的流动的通道位于流动池中。在其他流式细胞仪中，诸如在喷气式流式细胞仪中，鞘液中的细胞被流动池外的一个以上的探针探询。用于每个经过的细胞产生一些测量数据。当细胞通过探询区域时，通过检测器来测量诸如光散射、光损失和荧光的结果的光特性。测量的光特性用于对于每个受探询的细胞产生相应的电脉冲。分析该电脉冲，以确定诸如脉冲峰值、脉冲宽度和脉冲区域的细胞的参数。分类流式细胞仪例如可以将不同类型的细胞分类到容器中。在被探询之前，可以使用各种荧光染料和/或试剂来制备细胞样品以标记特殊的细胞类型。每种荧光染料和/或试剂可以约定不同类型的细胞。当细胞通过探询区域时，激光源激发荧光染料和/或试剂。通过增加可以检测的不同荧光染料和/或试剂的数目，可以对于细胞类型的增加范围的存在分析细胞样品。然而，例如每个激光源可能仅仅激发限定波长范围之内的荧光染料。因此，理想的是，使用多个激光源，以便能够实现较宽的波长和频率的范围的检测。但是，如果光源之间的距离过小，那么沿着细胞流的流路安置的多个激光源可能导致增加的重合和溢出。重合，即，在检测窗口之内的一个以上颗粒的检测，导致来自分析样品的受影响的颗粒的异常。溢出，即，由相邻的光源产生的光响应的检测，导致由于补偿溢出作用的需要而引起的低效率。因此，为了避免增加的重合和溢出，以彼此之间具有实质距离的方式安置激光源。通过增加多个激光源之间的距离，可以通过减少重合和溢出来提高颗粒分析器的效率。光源之间增加的距离还能够实现颗粒大小的范围的分析，从而更加增加了颗粒分析器的实用性。然而，增加激光源之间的距离导致出乎意料的发现，该发现是当激光源之间的距离增加时，对于颗粒产生的参数常常是不准确的。因此，希望提高在利用多个光源的颗粒分析器中产生的参数的准确度
技术实现思路
本专利技术针对颗粒分析器数据的分析。在一个实施例中，一种在颗粒分析器中为颗粒样品产生测量参数的方法，包括利用分别沿着探询区域的长度安置的探询器来探询所述颗粒样品，所述探询器包含触发探询器和一个以上的次级探询器；基于对来自所述颗粒样品的第一细胞的所述探询，产生各个脉冲，其中，所述脉冲包含与所述触发探询器相对应的触发脉冲以及与所述次级探询器中的一个次级探询器相对应的次级脉冲；基于所述触发脉冲确定初级脉冲检测窗口 ；基于包含所述初级脉冲检测窗口和激光延迟的因素，确定搜索间隔以找到所述次级脉冲；基于对所述第一颗粒的所述探询，对于激光延迟变化动态地调整所述搜索间隔；识别所述调整的搜索间隔中的所述次级脉冲；和处理所述次级脉冲以确定所述次级脉冲的峰值。在另一个实施例中，一种在颗粒分析器中为颗粒样品产生测量参数的方法，包括利用分别沿着探询区域的长度安置的探询器来探询所述颗粒样品，所述探询器包含触发探询器和一个以上的次级探询器；基于对来自所述颗粒样品的第一细胞的所述探询，产生各个脉冲，其中，所述脉冲包含与所述触发探询器相对应的触发脉冲以及与所述次级探询器中的一个次级探询器相对应的次级脉冲；基于所述触发脉冲确定初级脉冲检测窗口 ；基于包含所述初级脉冲检测窗口和激光延迟的因素，确定次级脉冲检测窗口 ；检测施加于所述 第一颗粒的干扰信号的特性；基于干扰信号的特性，偏移所述次级脉冲检测窗口 ；识别所述调整的搜索间隔中的所述次级脉冲；和处理所述次级脉冲以确定所述次级脉冲的测量参数。又一个实施例是包含至少一个处理器、颗粒探询器和脉冲分析器的颗粒分析器。颗粒探询器被配置为利用分别沿着探询区域的长度安置的探询器来探询所述颗粒样品，所述探询器包含触发探询器和一个以上的次级探询器；以及基于对来自所述颗粒样品的第一细胞的所述探询，产生各个脉冲，其中，所述脉冲包含与所述触发探询器相对应的触发脉冲以及与所述次级探询器中的一个次级探询器相对应的次级脉冲。该脉冲分析器包含配置为基于触发脉冲确定初级脉冲检测窗口的初级脉冲检测窗口生成器、配置为基于包含初级脉冲检测窗口和激光延迟的因素，确定与一个所述次级探询器相对应的搜索间隔的次级脉冲检测窗口生成器、以及次级脉冲参数产生器。次级脉冲检测窗口生成器还可以被配置为基于对第一颗粒的探询，动态地调整对于激光延迟变化的搜索间隔。次级脉冲参数产生器被配置为识别调整的搜索间隔中的次级脉冲，以及处理次级脉冲以确定次级脉冲的峰值。以下参考附图详细描述本专利技术的进一步的特征和优势，以及各个实施例的构成与操作。注意，本专利技术不局限于在此描述的具体实施例。在此呈现的这种实施例只是用于说明的目的。基于在此涵盖的教导，其他的实施例对相关领域的技术人员来说是显而易见的。附图说明图I是根据本专利技术的实施例的示范性的颗粒分析器。图2是示范性的脉冲及其相应的检测窗口的图示。图3是在颗粒分析器中引入干扰信号的效果的图示。图4是脉冲的特性相对于施加于细胞流的干扰信号的特性的图示。图5是根据本专利技术的实施例的脉冲分析器的图示。图6是根据本专利技术的实施例的在颗粒分析器中准确地产生参数的方法的图示。图7是根据本专利技术的实施例的将搜索间隔扩大到次级脉冲检测窗口以外的方法的图示。图8是根据本专利技术的实施例的用于计算脉冲的峰值的方法的图示。图9是根据本专利技术的实施例的确定次级脉冲检测窗口的方法的图示。图10是施加于液流的干扰信号的相位和脉冲相对于相应的 脉冲检测窗口的到达时间之间的关系的图不。图11是根据本专利技术的实施例的调整次级脉冲检测窗口的方法的图示。当连同附图时，从以下阐明的详细说明，本专利技术的特征和优势将变得更明显。在附图中，类似的参考数字通常表示相同的、功能类似的和/或结构类似的元件。通常，其中元件首次出现的附图由相应的参考数字中的最左边的数字表示。具体实施例方式本专利技术涉及颗粒分析。虽然在此参考对于特殊应用的说明性的实施例来描述本专利技术，但是应当理解的是，本专利技术并不局限于此。获取此处的教导的那些本领域的技术人员将认识到其范围之内的其他的变形、应用和实施例，以及本专利技术将具有显著的实用性的其他的
如在以上的
技术介绍
部分中描述的，希望诸如激光源和检测器的多个光学探询器可以用来探询细胞样品。各自能够激励和检测来自一部分频谱的光、并且沿着样品的流路中的探询区域的长度安置的多个激光探询器，能够使得细胞样品遍及大范围的波长和频率经受探询，从而增加细胞样品通过颗粒分析器的单独流动的实用性和有效性。诸如减少激光的成本、增加各种荧光染料的可行性以及增加处理能力的可行性的其他因素便于颗粒分析器的发展，该颗粒分析器比常规装置具有更大数量的可用的光学探询器。然而，专利技术人发现增加光学探询器的数目，更特别的是增加光学探询器之间的距离可能引入非预期的后果以及描述颗粒的特性的参数的产生中的不一致。在一些诸如分类流式细胞仪的颗粒分析器中，其中，流过探询区域的细胞流被干扰本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：克里斯多佛·D·罗弗斯托姆，丹尼尔·N·福克斯，托马斯·L·思拉舍，大卫·C·尼克尔斯，
申请(专利权)人：贝克曼考尔特公司，
类型：发明
国别省市：