粘弹性的测定方法以及粘弹性的测定装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供即使测定物质是微量也能够测定其粘弹性的测定方法以及测定装置。使溶液状或者半固体状的测定物质接触到由晶体振子构成的传感器的电极上，测定所述晶体振子的共振频率Fs的变化量ΔFs、和成为作为共振频率Fs的传导率Gmax的半值的传导率1/2Gmax的第1频率F1以及第2频率F2的半值半频率（F1－F2）/2的变化量ΔFw，至少求出所述测定物质的储存弹性率G'和所述测定物质的损失弹性率G″中的至少某一个，其中，根据所述共振频率的变化量ΔFs以及半值半频率的变化量ΔFw各自的平方差，求出所述测定物质的储存弹性率G'，并且根据所述共振频率的变化量ΔFs以及半值半频率的变化量ΔFw之积，求出所述测定物质的损失弹性率G″。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及在化学、材料、生物化学以及物理领域中使用的、测定溶液状或者半固体状的测定物质的粘弹性的方法以及粘弹性的测定装置。
技术介绍
权利要求1.一种粘弹性的测定方法，其特征在于， 使溶液状或者半固体状的测定物质接触到由晶体振子构成的传感器的电极上，测定所述晶体振子的共振频率Fs的变化量△ Fs、和成为作为共振频率Fs的传导率Gniax的半值的传导率l/2Gmax的第I频率F1以及第2频率F2的半值半频率(F1 - F2)/2的变化量A Fw，至少求出所述测定物质的储存弹性率G’和所述测定物质的损失弹性率G"中的至少某一个，其中，根据所述共振频率的变化量AFs以及半值半频率的变化量AFw各自的平方差，求出所述测定物质的储存弹性率G’，并且根据所述共振频率的变化量AFsW及半值半频率的变化量A Fw之积，求出所述测定物质的损失弹性率G "。2.根据权利要求I所述的粘弹性的测定方法，其特征在于， 所述储存弹性率G’如下式(I)所示， 3.根据权利要求I所述的粘弹性的测定方法，其特征在于， 使测定频率成为所述晶体振子的基波或者谐波，其中谐波为3倍波、5倍波、7倍波…。4.根本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：市桥素子，铃木友纪子，伊藤敦，
申请(专利权)人：株式会社爱发科，
类型：发明
国别省市：