大平片光谱测试仪的光学系统技术方案

一种大平片光谱测试仪的光学系统，包括钨灯光源，钨灯光源的光发散到第一球面镜上，光从第一球面镜反射出后，经入射光狭缝射到第一反射镜，光被第一反射镜反射后经由第二球面镜后射到光栅，经光栅色散后的光射至第三球面镜，再经第三球面镜射出后依次经出射光狭缝和滤光片射出的单色光至第一透镜，单色光经第一透镜射出后到达第二反射镜，从第二反射镜射出的单色光通过测试样品台后射至第二透镜，从第二透镜射出的单色光最后到达接收器，其特征在于：所述第二反射镜与入射光成45°角。本实用新型专利技术实现了样品直接平放在工作台上进行测试，确保了小孔径样品的定位，保证了测试精度和准确性。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及物质成分分析的光谱仪器领域，具体讲就是涉及一种可以对大尺寸样品小通光孔进行垂直测试的大平片光谱测试仪的光学系统。
技术介绍
大平片光谱测试仪的基本工作原理是溶液中的物质在光的照射激发下，产生了对光的吸收效应，物质对光的吸收是具有选择性的。各种不同的物质都具有其各自的吸收光谱，因此当某单色光通过溶液时，其能量就会被吸收而减弱，光能量减弱的程度和物质的浓度有一定的比例关系，大平片光谱测试仪就是利用这一原理来对被分析样品和标样光强度的对比来分析物质成分的。 大平片光谱测试仪在农产品、食品、卫生、医药、化工、人民生活等各个领域都有着广泛的应用，是现代工业、农业、科学研究不可缺少的分析仪器。大平片光谱测试仪基本结构由光源、单色器、样品室、光电检测装置和信号指示装置五部分组成。大平片光谱测试仪样品室是放置被检测样品的地方，传统的测试仪器样品室体积较小，一旦待测试样品为板型样品时，样品只能竖立在测试平台上，不利于样品的定位，严重地的影响了测试精度和测试准确性，如果需要测试尺寸大于80mmX IOOmm的样品时，还需要将大块样品进行破坏，裁剪成小于80mmX IOOmm的尺寸才能测试，操作复杂，无法测试尺寸较大且不允许破坏的样品。同时目前传统的测试仪器在测试过程中，测试光斑较大，不适用于现有越来越多科学
对测试光斑的要求。
技术实现思路
本技术的目的提供一种大平片光谱测试仪的光学系统，通过对现有光路的改变，使传统大平片光谱测试仪中光路传输方向发生改变，缩小测试光斑，实现了大尺寸待测样品的小通光孔测试。同时使待测样品可以直接放在工作台上测试，保证了测试精度和测试准确性，操作简便，又可以不破坏测试样品，节约了成本。技术方案为了实现上述的技术目的，本技术设计一种大平片光谱测试仪的光学系统，包括鹤灯光源，鹤灯光源的光发散到第一球面镜上，光从第一球面镜反射出后，反射光路上装有入射光狭缝，光线经入射光狭缝射出射到第一反射镜，光被第一反射镜反射后，进入反射光路上的第二球面镜，经由第二球面镜反射光路上的光栅色散后射至第三球面镜，光经第三球面镜射出后进入装在射出光路上的出射光狭缝，光线从出射光狭缝射出后射至滤光片，从滤光片射出的单色光至第一透镜，单色光经第一透镜射出后到达第二反射镜，从第二反射镜射出的单色光通过射出光路上的测试样品台后射至第二透镜，从第二透镜射出的单色光最后到达接收器，其特征在于所述第二反射镜与入射光成45°角。所述入射光狭缝和出射光狭缝都为可变超小圆形狭缝。有益效果本技术在光路上进行了新的设计，单色光经透镜再经45°的反射镜将单色光垂直穿透过样品再射到光电接收器上，从而实现了样品可以直接平放在工作台上进行测试，确保了小孔径样品的定位，保证了测试精度和准确性。附图说明附图I是本技术的结构示意图。具体实施方式以下结合附图和具体实施例，对本技术做进一步说明。如附图I所示，一种大平片光谱测试仪的光学系统，包括钨灯光源1，钨灯光源I的光发散到第一球面镜2上，光从第一球面镜2反射出后，经可变超小圆形狭缝的入射光狭缝3射到第一反射镜4，光被第一反射镜4反射后经由第二球面镜5后射到光栅6，经光栅6色散后射至第三球面镜7，再经第三球面镜7射出后依次经可变超小圆形狭缝的出射光狭缝8和滤光片9射出的单色光至第一透镜10，单色光经第一透镜10射出后到达与入射光成45°角第二反射镜11，从第二反射镜11射出的单色光通过放置有样品的测试样品台12后射至第二透镜13，从第二透镜13射出的光最后到达接收器14，接收器14分析得到物质成分。本技术在光路上进行了新的设计，单色光经透镜再经45°的第二反射镜11将单色光垂直穿透过样品再射到光电接收器12上，从而实现了样品可以直接平放在工作台上进行测试，确保了小孔径样品的定位，提高了测试精度和准确性。权利要求1.一种大平片光谱测试仪的光学系统，包括钨灯光源(I)，钨灯光源(I)的光发散到第一球面镜(2)上,光从第一球面镜(2)反射出后,反射光路上装有入射光狭缝(3),光线经入射光狭缝(3)射出到第一反射镜(4)，光被第一反射镜(4)反射后，进入反射光路上的第二球面镜(5)，经由第二球面镜(5)反射光路上的光栅(6)色散后射至第三球面镜(7)，光经第三球面镜(7)射出后进入装在射出光路上的出射光狭缝(8)，光线从出射光狭缝(8)射出后射至滤光片(9)，从滤光片(9)射出的单色光至第一透镜(10)，单色光经第一透镜(10)射出后到达第二反射镜(11)，从第二反射镜(11)射出的单色光通过射出光路上的测试样品台(12)后射至第二透镜(13)，从第二透镜(13)射出的单色光最后到达接收器(14)，其特征在于 所述第二反射镜(11)与入射光成45°角。2.如权利要求I所述的一种大平片光谱测试仪的光学系统，其特征在于所述入射光 狭缝(3)和出射光狭缝(8)都为可变超小圆形狭缝。专利摘要一种大平片光谱测试仪的光学系统，包括钨灯光源，钨灯光源的光发散到第一球面镜上，光从第一球面镜反射出后，经入射光狭缝射到第一反射镜，光被第一反射镜反射后经由第二球面镜后射到光栅，经光栅色散后的光射至第三球面镜，再经第三球面镜射出后依次经出射光狭缝和滤光片射出的单色光至第一透镜，单色光经第一透镜射出后到达第二反射镜，从第二反射镜射出的单色光通过测试样品台后射至第二透镜，从第二透镜射出的单色光最后到达接收器，其特征在于所述第二反射镜与入射光成45°角。本技术实现了样品直接平放在工作台上进行测试，确保了小孔径样品的定位，保证了测试精度和准确性。文档编号G02B7/182GK202512053SQ20122011578公开日2012年10月31日 申请日期2012年3月23日 优先权日2012年3月23日专利技术者冯迈东 申请人:上海欣茂仪器有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种大平片光谱测试仪的光学系统，包括钨灯光源(1)，钨灯光源(1)的光发散到第一球面镜(2)上，光从第一球面镜(2)反射出后，反射光路上装有入射光狭缝(3)，光线经入射光狭缝(3)射出到第一反射镜(4)，光被第一反射镜(4)反射后，进入反射光路上的第二球面镜(5)，经由第二球面镜(5)反射光路上的光栅(6)色散后射至第三球面镜(7)，光经第三球面镜(7)射出后进入装在射出光路上的出射光狭缝(8)，光线从出射光狭缝(8)射出后射至滤光片(9)，从滤光片(9)射出的单色光至第一透镜(10)，单色光经第一透镜(10)射出后到达第二反射镜(11)，从第二反射镜(11)射出的单色光通过射出光路上的测试样品台(12)后射至第二透镜(13)，从第二透镜(13)射出的单色光最后到达接收器(14)，其特征在于：所述第二反射镜(11)与入射光成45°角。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：冯迈东，
申请(专利权)人：上海欣茂仪器有限公司，
类型：实用新型
国别省市：