解像力测试装置及其方法制造方法及图纸

一种解像力测试装置及其方法。此解像力测试方法，适用于测试摄像装置，包括提供一图像，并使摄像装置拍摄此图像成测试影像，接着获取此测试影像，利用分析窗口从此测试影像上的定点区块往第一方向移动一特定距离至此测试影像上的第一区块，分析此第一区块，产生第一高通分量，移动分析窗口回到定点区块，分析窗口从定点区块往第二方向移动特定距离至此测试影像上的第二区块，分析此第二区块，产生第二高通分量。根据第一高通分量及第二高通分量产生第三高通分量，并根据此第三高通分量定义摄像装置的解像力。本发明专利技术具有高稳定度及高精确度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种，尤其涉及一种摄像装置近距离。
技术介绍
目前相机在生产过程中都需要测试镜头近距离的解像力(Resolution)，一般测试方法是类似以对比转移函数条形图(Contrast Transfer Function Chart,以下简称为CTFChart)来计算解像力。利用传感器输出的影像，框住所要计算的小区域，计算出镜头解像力，然而这样的测试方式会因为相机、治具摆放的位置或传感器组装方式等因素而造成误 差。而在CTF Chart的频率的挑选，若是CTF Chart的频率过低，也就是黑线与白线的宽度较宽，计算精度会不足。例如图1，虚线框区域110之中为7条黑线，偏移后的实线框区域120所框区域为8条黑线，这两个区域计算的高通分量不同，所对应的解像力即会不同，导致测试不稳定的情况。此外，在图2的对比值测试结果，多组不同的镜头对焦移动步数(Steps)却对应至相同的对比值(Contrast Value),也就是说低频的CTF Chart亦会造成如图2的测试不精确的情况。为解决上述现象，通常会使用频率更高的CTF Pattern，但高频率的CTF Pattern同时也导致产线治具调校上不容易具有一致性，而且在制作上较为困难，花费也较大。因此，产线时常无法制作出良好且具一致性的测试系统，来测试镜头近距离的解像力。
技术实现思路
本专利技术提供一种解像力测试装置，适用于测试一摄像装置的解像力，此解像力测试装置包括测试模组及分析模组。此测试模组，用以提供一图像，并使摄像装置拍摄此图像成测试影像。此分析模组耦接至摄像装置，获取摄像装置拍摄的测试影像，此分析模组的分析窗口从此测试影像上的定点区块往第一方向移动一特定距离至此测试影像上的第一区块，分析此第一区块，产生第一高通分量，接着移动分析窗口回到定点区块，分析窗口从定点区块往第二方向移动特定距离至此测试影像上的第二区块，分析此第二区块，产生第二高通分量，根据第一高通分量及第二高通分量产生第三高通分量，根据此第三高通分量定义摄像装置的解像力。在本专利技术的一实施例中，上述的测试模组包括图像单元及固定治具单元。此图像单元提供上述图像以及均匀光源。此固定治具单元，固定上述摄像装置，使摄像装置拍摄上述测试图像。在本专利技术的一实施例中，上述第一方向与上述第二方向相反且平行。在本专利技术的一实施例中，上述图像为一对比转移函数条形图(Contrast TransferFunction Chart),此对比转移函数条形图为多组黑线与白线相间的条型图样,其中各黑线及各白线的宽度为N个像素单位，其中N为正整数，往第一方向移动的特定距离为X个像素单位，往第二方向移动的特定距离为Y个像素单位，X+Y = N，且X与Y为任意整数。即上述第一方向与第二方向平行，且相差皆为N个像素单位。在本专利技术的一实施例中，上述第一高通分量为使用对称式高频滤波器计算第一区块的第一计算结果，第二高通分量为使用对称式高频滤波器计算第二区块的第二计算结果。在本专利技术的一实施例中，上述第三高通分量为上述第一高通分量及上述第二高通分量的平均值。本专利技术提供一种解像力测试方法，适用于测试一摄像装置的解像力，此解像力测试方法包括提供一图像，并使摄像装置拍摄此图像成测试影像，接着获取摄像装置拍摄的测试影像，利用分析窗口从此测试影像上的定点区块往第一方向移动一特定距离至此测试影像上的第一区块，分析此第一区块，产生第一高通分量，接着移动分析窗口回到定点区块，分析窗口从定点区块往第二方向移动特定距离至此测试影像上的第二区块，分析此第二区块，产生第二高通分量，根据第一高通分量及第二高通分量产生第三高通分量，根据此 第三高通分量定义摄像装置的解像力。 基于上述，本专利技术提供一种测试解像力的装置及其方法。使用低频的对比转移函数条形图来测试摄像装置的解像力，仍具使用高频的对比转移函数条形图做测试时才有的高稳定度及高精确度。为让本专利技术的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合附图作详细说明如下。附图说明图I是已知技术一种解像力测试的示意图。图2是利用已知技术的一种对比值测试结果折线图。图3A及图3B是根据本专利技术一实施例所示的一种解像力测试装置的功能方框图。图4是根据本专利技术一实施例所示的一种解像力测试方法的流程图。图5是根据本专利技术一实施例所示的一种对比转移函数条形图。图6是根据本专利技术一实施例所示的一种解像力测试的示意图。图7是根据本专利技术一实施例所示的一种对比值测试结果折线图。图8是根据本专利技术另一实施例所示的一种对比值测试结果折线图。附图标记110:虚线框区域120 :实线框区域300 :解像力测试装置310 :测试模组320:图像单元322 :液晶面板324 :亚克力板326 :对比转移函数条形图板328 :透明玻璃330:固定治具单元340 :分析模组350 :摄像装置400 :解像力测试方法500 :对比转移函数条形图510 :黑线520:白线600 :测试影像 610 :定点区块620 :第一区块630 :第二区块640 :黑线650:白线710,720,810 :折线712 :最闻点714 :最低点820 :折线最闻点S402 S420 :流程步骤具体实施例方式图3A及图3B是根据本专利技术一实施例所示的一种解像力测试装置300的功能方框图。图4是根据本专利技术一实施例所示的一种解像力测试方法400的流程图。解像力测试装置300包括测试模组310、分析模组340，其中测试模组310包括图像单元320、固定治具单元330，解像力测试装置300用以测试摄像装置350的解像力，其中摄像装置350可为相机、手机、个人数字助理(PDA)或平板计算机等具有摄像功能的电子装置，而分析模组340可为台式计算机、笔记本式计算机、平板计算机或大型计算机主机等具有一般系统处理器功能的电子装置。图像单元320包括提供均匀光源的液晶面板322、亚克力板324、提供被拍摄图像的对比转移函数条形图板326以及透明玻璃328。测试模组310中的图像单元320，利用其中对比转移函数条形图板326提供一图像给摄像装置350拍摄测试影像，液晶面板322提供均匀光源给透明的对比转移函数条形图板326，亚克力板324以及透明玻璃328协助固定，图像单元320的整体结构不限于上述，在不脱离本专利技术的精神和范围内，可有些许更动。请同时参照图3A、图3B及图4。首先，测试模组310中的对比转移函数条形图板326提供图像(步骤S402)，并使摄像装置350拍摄此图像成一测试影像(步骤S404)，接着分析模组340获取摄像装置350所拍摄的测试影像(步骤S406)。承上述，图5是根据本专利技术一实施例所示的一种对比转移函数条形图500。对比转移函数条形图500为图3B中对比转移函数条形图板326所提供的图像，为多组黑线与白线相间的条形图样，其中上述每一黑线(例如黑线510)及每一白线(例如白线520)的宽度为N个像素单位，其中N为正整数，摄像装置350所拍摄的测试影像即为此类图像。图6是根据本专利技术一实施例所示的一种解像力测试的示意图。分析模组340利用一分析窗口框住测试影像600上的特定区块，来计算高通分量。在本实施例中，每一黑线与每一白线的宽度为N个像素单位，N为正整数。首先，分析窗口选定本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种解像力测试装置，适用于测试一摄像装置的解像力，该解像力测试装置包括：一测试模组，用以提供一图像，并使该摄像装置拍摄该图像成一测试影像；以及一分析模组，耦接至该摄像装置，获取该摄像装置拍摄的该测试影像，该分析模组的一分析窗口从该测试影像上的一定点区块往第一方向移动一特定距离至该测试影像上的一第一区块，分析该第一区块，产生一第一高通分量，该分析窗口回到该定点区块，该分析窗口从该定点区块往第二方向移动该特定距离至该测试影像上的一第二区块，分析该第二区块，产生一第二高通分量，根据该第一高通分量及该第二高通分量产生一第三高通分量，根据该第三高通分量定义该摄像装置的解像力。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：张谷年，陈文君，
申请(专利权)人：华晶科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：