异物检查方法和点亮检查装置制造方法及图纸

一边利用透明板均等地按压在相互相对的一对基板之间设置有液晶层的液晶显示面板的表面一边对液晶显示面板照射光，且将信号输入到液晶显示面板来检查液晶显示面板的点亮状态，由此判断混入到液晶层的内部的具有导电性的异物的存在与否。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及异物检查方法和点亮检查装置，特别是涉及检测混入到液晶显示面板的液晶层内部的异物的技术。
技术介绍
液晶显示面板，例如具备有源矩阵基板，其以矩阵状配置有多个像素电极；相对基板，其与该有源矩阵基板相对配置，具有共用电极；以及液晶层，其设置于有源矩阵基板和相对基板之间，在有源矩阵基板和相对基板的与液晶层相反的ー侧的表面分别粘贴有偏振板。该液晶显示面板通过如下步骤制造分别制作上述有源矩阵基板和相对基板，接 着，将这两个基板相互贴合来制作空面板，在两个基板之间注入和密封液晶，其后，在面板的两面分别贴合偏振板。这样的液晶显示面板的制造在无尘室中进行，但即使是无尘室也无法完全消除浮游异物，因此在偏振板粘贴之前等进行点亮检查等产品检查，检查面板内的异物混入。在上述点亮检查中，例如对有源矩阵基板的全部像素电极和相对基板的共用电极分别输入检查用信号来使全部像素成为点亮状态，并且对液晶显示面板从其背面侧(例如有源矩阵基板侧)照射检查用背光源的光，由于具有导电性的异物介于像素电极和共用电极之间而短路的像素即有缺陷的像素作为亮点(看起来比显示画面更亮的点状的异常点亮)被检测。这样的点亮检查一般通过检查员的目视进行。然而，在上述点亮检查中，如果异物的大小是像素电极和共用电极的间隔左右就能检测缺陷像素，但在异物的大小比像素电极和共用电极的间隔小的情况下，由于短路不稳定、像素的缺陷不总是出现，因此有时会忽略缺陷像素。当包含固有这样的不稳定的漏电缺陷的缺陷像素的液晶显示面板流出到后エ序时，产品出厂后，在市场上流通的液晶显示面板中会有缺陷显现的可能。因此，提出了利用辊按压液晶显示面板的表面来縮小有源矩阵基板和相对基板的间隔，由此使有源矩阵基板上的像素电极和相对基板上的共用电极通过异物可靠地短路，从而检测不稳定的漏电缺陷。例如，在专利文献I中公开了利用将偏振板粘贴于液晶显示面板的表面的辊按压液晶显示面板的表面来检测短路的方法。现有技术文献专利文献专利文献I :特开2007-304120号公报
技术实现思路
专利技术要解决的问题但是，在液晶显示面板的制造过程中，当从制造装置的可动部分产生的金属粉、玻璃基板的截断时产生的玻璃屑、从人体产生的皮脂、汗以及毛发、从衣服产生的各种纤维等作为异物附着在面板表面时，在点亮检查中，有时来自检查用背光源的光会在异物附着部分进行漫反射等而使得该部分看起来发亮，从而难以判别面板表面的异物导致的亮点和液晶层内部的异物导致的亮点。因此，检查员会为判断伤脑筋，检查时间变长，进而降低液晶显示面板的制造效率。 本专利技术是鉴于上述方面而完成的，其目的在于，容易地判别面板表面的异物导致的缺陷和液晶层内部的异物导致的缺陷，缩短检查时间。用于解决问题的方案为了达成上述目的，在本专利技术中采用能确定附着在液晶显示面板的表面的异物导致的缺陷的面板按压方案。具体地说，本专利技术是以异物检查方法和进行异物检查的点亮检查装置为对象，采取下面的解决方案。S卩，第I专利技术是异物检查方法，其特征在于，ー边利用透明板均等地按压在相互相对的ー对基板之间设置有液晶层的液晶显示面板的表面一边对该液晶显示面板照射光，且将信号输入到上述液晶显示面板来检查该液晶显示面板的点亮状态，由此判断混入到上述液晶层的内部的具有导电性的异物的存在与否。第2专利技术的特征在于，在第I专利技术的异物检查方法中，利用透明板来分别按压上述液晶显不面板的两面。第3专利技术的特征在于，在第I或者第2专利技术的异物检查方法中，在将偏振板粘贴于上述液晶显示面板的表面之前实施该异物检查。另外，第4专利技术是点亮检查装置，其特征在于，具备面板支撑单元，其支撑在相互相対的ー对基板之间设置有液晶层的液晶显示面板；信号输入单元，其将信号输入到上述液晶显示面板；以及透明板，其用于按压上述液晶显示面板的表面，上述点亮检查装置构成为ー边利用上述透明板均等地按压上述液晶显示面板的表面一边对该液晶显示面板照射光，且将信号输入到上述液晶显示面板来检查该液晶显示面板的点亮状态，由此能判断混入到上述液晶层的内部的具有导电性的异物的存在与否。第5专利技术的特征在于，在第4专利技术的点亮检查装置中，在上述面板支撑单元中，形成有使上述液晶显示面板的显示区域露出的开ロ部，以位于上述液晶显示面板的表侧和里侧的方式隔着上述透明板相对配置有将光的振动限制为规定方向的一对检查用偏振単元，在上述面板支撑单元的外侧，以使出射的光透射过上述检查用偏振単元的方式与上述开ロ部对应配置有对上述液晶显示面板照射光的检查用背光源。-作用_下面说明本专利技术的作用。根据第I和第4专利技术，对液晶显示面板ー边利用透明板均等地按压其表面ー边进行点亮检查，因此在液晶层的内部混入具有导电性的异物的情况下，ー对基板间会通过该异物可靠地短路，从而不稳定的漏电缺陷能作为亮点检测。这时，当面板表面附着有异物吋，该异物导致的光的漫反射等使得异物附着部分看起来发亮，从而该部分也会作为亮点检测，但在检测出的亮点是由附着在液晶显示面板的表面的异物所导致的情况下，该亮点周边的面板表面和透明板之间会产生微小的间隔，因此在亮点的周围确认有干渉条纹。另一方面，在检测出的亮点是由混入到液晶层的内部的异物所导致的情况下，亮点的周围未确认有干渉条纹。因此，根据检测出的亮点周围的干涉条纹的有无，能容易地判别面板表面的异物导致的缺陷和液晶层内部的异物导致的缺陷，能缩短检查时间。根据第2专利技术，不会将附着在液晶显示面板的两面的异物导致的亮点误认为是混入到液晶层内部的异物导致的缺陷，从而能容易地确定附着在面板表面的异物导致的缺陷。根据第3专利技术，与在粘贴于液晶显示面板的偏振板和面板表面之间夹入异物的情况下为了合格品化而损失偏振板相比，在偏振板粘贴之前实施异物检查，由此能够在面板表面附着有异物时提前除去该异物，因此能防止偏振板的损失。 根据第5专利技术，对从检查用背光源出射而透射过一方检查用偏振単元和液晶显示面板的光仅需通过另一方检查用偏振单元来视觉识别，就能检查粘贴偏振板之前的液晶显示面板的点亮状态，从而能够以简化的构成来简单地实施第3专利技术的异物检查方法。专利技术效果根据本专利技术，对液晶显示面板ー边利用透明板按压其表面一边进行点亮检查，因此能够容易地判别面板表面的异物导致的缺陷和液晶层内部的异物导致的缺陷，能够缩短检查时间。其结果是，能够提高液晶显示面板的制造效率。附图说明图I是概要示出实施方式I的点亮检查装置的俯视图。图2是概要示出实施方式I的点亮检查装置的主视图。图3是概要示出实施方式I的点亮检查装置的侧视图。图4是示出在实施方式I中被进行异物检查的液晶显示面板的概要图。图5是示出实施方式I的异物检测方法的流程图。图6是示出实施方式I的异物检测方法的示意图。图7是概要示出实施方式2的点亮检查装置的构成和使用方法的截面图。图8是概要示出在实施方式2中被进行异物检查的液晶显示面板的截面图。图9是概要示出实施方式3的点亮检查装置的俯视图。图10是概要示出实施方式3的点亮检查装置的主视图。图11是概要示出实施方式3的点亮检查装置的侧视图。图12是示出在实施方式3中被进行异物检查的液晶显示装置的概要图。图13是示出实施方式3的异物检查方法的示意截面图。具体实施例方式下面对本专利技术的实施方式基于附图来详细说明。另外，本专利技术不限于下面的各实施方本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：卷口健，
申请(专利权)人：夏普株式会社，
类型：发明
国别省市：