用于胶塞或铝盖清洗系统的温度监控回路校准装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种用于胶塞或铝盖清洗系统的温度监控回路校准装置，包括参数校准模块、可编程控制器、温度探头部件、存储模块以及修正执行模块，温度探头部件用来检测对应温度下的标准源，参数校准模块包括两个以上的微调子模块，存储模块与参数校准模块相连并用来存储不同修正执行模块的校准配置信息，可编程控制器与参数校准模块相连并通过比较测量数据与标准源后调用对应温度下的微调子模块输出控制指令至修正执行模块，修正执行模块用来执行控制指令使清洗系统中仪器仪表对温度监控达到允许的误差范围内。本实用新型专利技术具有结构简单、操作简便、自动化程度高、校准效果好等优点。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

用于胶塞或铝盖清洗系统的温度监控回路校准装置
本技术主要涉及到食品、医药包装设备领域，特指ー种主要适用于胶塞或铝盖清洗系统的温度监控回路校准装置。
技术介绍
在食品、包装设备领域中，常常用胶塞或铝盖对容器进行密封；而在此过程中，往往需要对胶塞或铝盖进行清洗，尤其是在自动化程度很高的联动线或流水线上。因此，有从业者就设计了一种专用的胶塞或铝盖清洗系统，其主要用于对胶塞或铝盖进行自动清洗和灭菌。现有传统胶塞或铝盖清洗系统中，均不对其中的温度监控回路提供调试、管理和维护等功能。一旦温度监控出现偏差后，往往需要操作人员人工查找偏差源头；如果是仪表原因，则需要逐个校准仪器仪表，这种方法耗时费力、工作量大、操作很不方便；同时，这种常规的做法只对仪表部分进行了校准，在信号传输过程中可能因为衰减等其他因素造成的偏差未能一并进行处理，效果并不理想。
技术实现思路
本技术要解决的技术问题就在于针对现有技术存在的技术 问题，本技术提供ー种结构简单、操作简便、自动化程度高、校准效果好的用于胶塞或铝盖清洗系统的温度监控回路校准装置。为解决上述技术问题，本技术采用以下技术方案一种用于胶塞或铝盖清洗系统的温度监控回路校准装置，包括參数校准模块、可编程控制器、温度探头部件、存储模块以及修正执行模块，所述温度探头部件用来检测对应温度下的标准源，所述參数校准模块包括两个以上的微调子模块，所述存储模块与參数校准模块相连并用来存储不同修正执行模块的校准配置信息，所述可编程控制器与參数校准模块相连并通过比较測量数据与标准源后调用对应温度下的微调子模块输出控制指令至修正执行模块，所述修正执行模块用来执行控制指令使清洗系统中仪器仪表对温度监控达到允许的误差范围内。作为本技术的进ー步改进所述參数校准模块包括分别用来对应不同温度的零点微调子模块、K-值微调子模块和K+值微调子模块。所述參数校准模块还包括实时数据显示模块和校准后数据显示模块。所述參数校准模块装设于胶塞或铝盖清洗系统的主机控制器中。与现有技术相比，本技术的优点在于(I)、准确度高。本技术的校准装置不仅解决了仪表自身測量造成的误差，也解决了仪表測量后传输至可编程控制器/上位机过程中因为衰减而可能造成的误差，即其解决的不仅是仪表的偏差，而是整个测量回路的偏差。(2)、适应性好。在胶塞或铝盖清洗系统中仪器仪表可检测的范围内，通过本技术装置的调校，可以很好的适应不同胶塞/铝盖清洗设备对温度测量的不同范围要求； 同时对仪表也有很强的通用性。(3)、效率高。相较于以往的偏差校准需要对偏差源进行分析确定，仪器造成的偏差需要操作人员逐个去校准，传输回路等造成的偏差则需要操作人员反复试验解决，本技术为在上位机上使用參数校准模块结合可编程控制器直接对监控回路进行校准，极大提高了校准的效率和效果，而且操作简单方便，实用性強。(4)、成本低廉，性价比高。可编程控制器及上位机等为胶塞/铝盖清洗机控制系统中的既有部件，不需要额外增加部件，通过本技术完全能满足实际应用的需要。附图说明图I是本技术的框架结构示意图。图2是本技术在具体实施例中的工作流程示意图。图例说明I、參数校准模块；101、零点微调子模块；102、K-值微调子模块；103、K+值微调子模块；104、实时数据显示模块；105、校准后数据显示模块；2、可编程控制器；3、温度探头部件；4、存储模块；5、修正执行模块。具体实施方式以下将结合说明书附图和具体实施例对本技术做进ー步详细说明。如图I所示，本技术的用于胶塞或铝盖清洗系统的温度监控回路校准装置， 包括參数校准模块I、可编程控制器2、温度探头部件3、存储模块4以及修正执行模块5，温度探头部件3用来检测对应温度下的标准源，參数校准模块I包括两个以上的微调子模块， 存储模块4与參数校准模块I相连并用来存储不同修正执行模块5的校准配置信息，可编程控制器2与參数校准模块I相连并通过比较測量数据与标准源后调用对应温度下的微调子模块输出控制指令至修正执行模块5，修正执行模块5用来执行控制指令使清洗系统中仪器仪表及传输回路对温度监控达到允许的误差范围内。本实施例中，參数校准模块I通过通讯接ロ连接可编程控制器2和存储模块4。本实施例中，參数校准模块I包括分别用来对应不同温度的零点微调子模块101、 K-值微调子模块102和K+值微调子模块103。本实施例中，參数校准模块I还包括实时数据显示模块104和校准后数据显示模块105，以方便操作的直观了解。本实施例中，存储模块4中使用ACCESS或SQL数据库存储数据，以方便数据的调用。本实施例中，參数校准模块I装设于胶塞或铝盖清洗系统的主机控制器中。在具体应用实例中，參数校准模块I可以采用研华エ业控制计算机可选电阻式触摸屏，内置Intel Atom 处理器N270 1.6 GHz，可支持高达2 GB DDR2内存，支持ー个内置SATA 2. 5硬盘，支持6个USB 2. 0端ロ。可编程控制器2可以采用西门子200系列PLC， 以CPU216为处理器。參加图2，使用吋，以胶塞或铝盖清洗系统中温度监控回路的測量范围-20°C 120°C为例(I)零点微调——測量零点温度。使用温度探头部件3測量温度为10°C的标准源，直至上位机显示的測量数据稳定；比较测量后的数据与标准源，若有偏差，可编程控制器2通过调用參数校准模块I中的零点微调子模块101来进行调节，直至测量误差保持在 ±0. 15°C。(2 )K-值微调——測量-20 V的标准源。使用温度探头部件3測量-20 V的标准源， 直至上位机显示的数据稳定；比较测量后的数据与标准源，如測量数据存在偏差，则通过调用參数校准模块I中的K-值微调子模块102进行调节，直至测量误差保持在±0. 15°C。(3)K+值微调——測量121°C的标准源。使用温度探头部件3測量121°C的标准源， 直至上位机显示的数据稳定，比较测量后的数据与标准源，如測量数据存在偏差，则通过调用參数校准模块I中的K+值微调子模块103进行调节，直至测量误差保持在±0. 15°C。由此可见，本技术的温度监控回路校准装置在实际应用中的校准不仅解决了仪表自身測量造成的误差，也解决了仪表測量后传输至可编程控制器2、上位机过程中因为衰减而可能造成的误差等，即其解决的不仅是仪表自身的偏差，而是整个测量回路的偏差。以上仅是本技术的优选实施方式，本技术的保护范围并不仅局限于上述实 施例，凡属于本技术思路下的技术方案均属于本技术的保护范围。应当指出，对于本
的普通技术人员来说，在不脱离本技术原理前提下的若干改进和润饰 ， 应视为本技术的保护范围。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于胶塞或铝盖清洗系统的温度监控回路校准装置，其特征在于：包括参数校准模块（1）、可编程控制器（2）、温度探头部件（3）、存储模块（4）以及修正执行模块（5），所述温度探头部件（3）用来检测对应温度下的标准源，所述参数校准模块（1）包括两个以上的微调子模块，所述存储模块（4）与参数校准模块（1）相连并用来存储不同修正执行模块（5）的校准配置信息，所述可编程控制器（2）与参数校准模块（1）相连并通过比较测量数据与标准源后调用对应温度下的微调子模块输出控制指令至修正执行模块（5），所述修正执行模块（5）用来执行控制指令使清洗系统中仪器仪表对温度监控达到允许的误差范围内。

【技术特征摘要】
1.一种用于胶塞或铝盖清洗系统的温度监控回路校准装置，其特征在于包括參数校准模块(I)、可编程控制器(2)、温度探头部件(3)、存储模块(4)以及修正执行模块(5)，所述温度探头部件(3)用来检测对应温度下的标准源，所述參数校准模块(I)包括两个以上的微调子模块，所述存储模块(4)与參数校准模块(I)相连并用来存储不同修正执行模块(5 )的校准配置信息，所述可编程控制器(2 )与參数校准模块(I)相连并通过比较测量数据与标准源后调用对应温度下的微调子模块输出控制指令至修正执行模块(5)，所述修正执行模块(5)用来执行控制指令使清洗系统中仪器仪表对温...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈双好，谭亮，贺建军，唐岳，
申请(专利权)人：楚天科技股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：