红外辐射照度测量仪及应用该测量仪测量红外辐射照度的方法技术

技术编号:7840643 阅读:268 留言:0更新日期:2012-10-12 18:03
红外辐射照度测量仪及应用该测量仪测量红外辐射照度的方法,属于光学领域,本发明专利技术为解决现有辐照度测量仪器的标定不精确合理、误差大、检测微弱信号的精度低、体积大以及不方便携带的问题。本发明专利技术所述红外辐射照度测量仪,主物镜将入射的平行光束汇聚,由调制盘调制输出光束至第一中继透镜、滤光片、衰减片组、第二中继透镜后入射至光电探测器的光敏面上,光电探测器输出电信号,对该电信号放大、锁相、AD转换输出电压信号给计算机,调制盘电机转速控制及驱动电路控制调制盘的调制,和控制锁相放大器的锁相。该测量仪用标准黑体进行标定,得到电压信号与红外辐射照度的关系,实现对红外目标模拟器的红外辐射照度的测量。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及红外辐射照度测量仪及其测量方法,属于光学领域。
技术介绍
红外目标模拟器在军事武器的研究中有非常广泛的应用,例如红外寻的弹头、星载和机载红外遥感遥测设备的检测中。红外目标模拟器的精确性与稳定性需要通过对其出瞳处辐射照度的校准与测量来保证。随着工业生产和军事科学研究的不断深入,辐射照度的测量方法有了很大的进步,很多国家都投入了大量的人力物力来对辐射照度的标定和测量方法进行深入的研究。红外成像目标/干扰模拟器的输出辐射照度的测量,从原理上可分为两种,一种是以被标定的辐射源作为标准,对应的测量方法是对比比较的方法;另外一 种是以被使用的探测器作为标准,对应的测量方法为绝对测量法。对于红外辐射照度测量技术的研究,国外开展的较早,1989年美国军方(Aerospace Guidance and Metrology Center, Newark Air Force Base)石开制了红夕卜目标模拟器校准设备,该设备将待校准的红外目标模拟器和标准辐射源置于平移台上,红外辐射计交替对准接收红外福射。2001年美国红外测试中心(Infrared Training Center,FLIR本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.红外辐射照度测量仪,其特征在于,它包括主物镜(I)、调制盘(2)、第一中继透镜(3)、滤光片(4)、衰减片组(5)、第二中继透镜(6)、光电探测器(7)、前置放大器(8)、锁相放大器(9)、AD转换模块(10)、计算机(11)和调制盘电机转速控制及驱动电路(12), 平行光束入射至主物镜(1),主物镜(I)输出汇聚光束并入射调制盘(2),调制盘(2)输出调制光束并入射至第一中继透镜(3),第一中继透镜(3)输出平行光束并入射至滤光片(4),滤光片(4)输出的透射光束经衰减片组(5)后的平行衰减光束入射至第二中继透镜(6),第二中继透镜(6)输出的汇聚光束入射至光电探测器(7)的光敏面上,光电探测器(7)的电信号输出端与前置放大器(8)的输入端相连,前置放大器(8)的输出端与锁相放大器(9)的输入端相连,锁相放大器(9)的输出端与AD转换模块(10)的模拟信号输入端相连,AD转换模块(10)的电压信号输出端与计算机(11)的输入端相连, 调制盘电机转速控制及驱动电路(12)的调制指令输出端与调制盘(2)的调制指...

【专利技术属性】
技术研发人员:萧鹏杨森戴景民
申请(专利权)人:哈尔滨工业大学
类型:发明
国别省市:

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