辐射测量设备制造技术

发光膜通过转移法被转移到作为转移目标部件的发光板上。发光板包括用于检测β射线的第一闪烁体材料。发光膜包括保护层、防光层和发光层。发光层包括粘结性材料和添加到粘结性材料的用于检测α射线的第二闪烁体材料。发光膜可以通过转移法直接形成在透明部件的表面上、光电倍增管的光接收表面上等。防光层和发光层设置在保护层和转移目标部件之间，从而在物理上保护防光层和发光层。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种辐射测量设备，特别涉及一种包括闪烁体(scintillator)部件 的辐射测量设备。
技术介绍
闪烁体部件用于各种辐射测量设备中，包括表面污染测量仪、体表监测器等。当被 辐射激发时，闪烁体部件发光，所发出的光被引导到光电倍增管(PMT)的光接收表面上。为 了以高灵敏度检测闪烁体部件中发出的光，在闪烁体部件的前部和后部设置为闪烁体部件 屏蔽外部光线的光屏蔽结构或防光结构(黑屋)。对于闪烁体部件的前表面侧(辐射入射的表面)上的光屏蔽，应该考虑经过该表 面的辐射的衰减。特别是，由于a射线和低能量的0射线的穿过物质的能力低，因此如果 具有特定厚度的防光膜设置在闪烁体部件的前表面侧上，则该防光膜将明显阻碍和衰减到 达该表面的a射线和0射线，因此显著地降低测量灵敏度。因此，设置在闪烁体部件的前 表面侧上的防光膜必须很薄。但是，这样的薄防光膜的物理强度很低，容易被损坏或腐蚀。 如果薄膜被损坏、刮擦或通过刮擦形成小孔，那么光能通过诸如小孔或刮痕的孔进入，从而 不能检测闪烁体部件中产生的微弱的光发射。为了克服上述问题，如JP2001-141831A和JP3-231187A中所述，本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种辐射测量设备，包括：发光膜；以及光检测单元，所述光检测单元检测从发光膜的后侧发出的光，其中发光膜包括保护层，所述保护层中透射辐射；设置在保护层的后侧上的防光层，所述防光层透射辐射并防止光的透射；以及发光层，所述发光层设置在防光层的后侧上并包括当辐射进入闪烁体材料时发光的闪烁体材料，以及发光膜是已从转移片上分离的条状膜。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】一种辐射测量设备，包括发光膜；以及光检测单元，所述光检测单元检测从发光膜的后侧发出的光，其中发光膜包括保护层，所述保护层中透射辐射；设置在保护层的后侧上的防光层，所述防光层透射辐射并防止光的透射；以及发光层，所述发光层设置在防光层的后侧上并包括当辐射进入闪烁体材料时发光的闪烁体材料，以及发光膜是已从转移片上分离的条状膜。2.如权利要求1所述的辐射测量设备，其中所述转移片是热转移片，且通过热转移法 形成发光膜。3.如权利要求1所述的辐射测量设备，其中通过热转移法在所述发光膜的上侧上分层 堆积具有光屏蔽特性的一个或多个膜。4.如权利要求1所述的辐射测量设备，其中所述发光层包括粘结材料，所述闪烁体材 料被添加到所述粘结材料中。5.如权利要求1所述的辐射测量设备，其中所述发光膜设置在透明后板的上侧上。6.如权利要求1所述的辐射测量设备，其中所述发光膜设置在所述光检测单元的光接 收表面上。7.一种辐射测量设备，包括发光板，所述发光板是透明的，且包括第一闪烁体材料；设置在所述发光板的上侧上的发光膜；以及光检测单元，所述光检测单元检测所述发光板中产生的光，并检测所述发光膜中产生 的光，其中所述发光膜包括保护层，所述保护层中透射辐射；设置在保护层的后侧上的防光 层，所述防光层透射辐射...

【专利技术属性】
技术研发人员：岩本明宪，
申请(专利权)人：阿洛卡株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]