本发明专利技术公开了一种硅钢宽度方向厚度均匀性检测装置，所述检测装置包括控制面板、测量装置、测量架和轨道，所述控制面板与所述测量装置、测量架相连，所述测量装置安装在所述测量架上，所述测量架连接轨道，所述测量架运行方向与硅钢宽度方向一致，所述测量架为C形测量架。本发明专利技术所提供的技术方案能够代替人工对钢带厚度同板差进行实时一一测量；测量厚度精度高于人工测量厚度精度；数据查询方便快捷，对同板差不符合要求的钢卷，有自动报警功能；大大减少了繁琐的人工劳动。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于应用于钢材制造工艺中辅助检测设备制造
，具体地说，涉及。
技术介绍
在钢材制造
中，常常需要辅助检测设备对硅钢厚度均匀性进行检测，SP对硅钢的同板差进行检测。所谓“同板差”是指在一块钢板上厚度的偏差，指在同一张钢板上任意两点之间的厚度差的最大值。在实际钢材的加工制造过程中，对生产过程的硅钢带的厚度有严格的要求，厚度是根据其中心点处的厚度波动加以控制，需要进行宽度方向和长度方向上的厚度检测，同板差就是根据纵向厚度和横向厚度两种检验结果确定的，它是检验同一张钢板上厚度差是否符合公差标准要求的一项指标。现有技术中，针对硅钢厚度的检测缺少专用的设备，具有如下技术缺陷I、目前硅钢同板差情况都是依靠人工用高精度千分尺进行测量，测量过程中因测量过程中的旋紧力度大小、旋紧快慢、测量时手抖动等不同的情况影响，造成厚度结果波动较大，导致测量的结果不准确，给同板差分析带来了严重的影响；2、现有技术中采用人工测量的方法，费时费力，对于机组高节奏的生产方式，人工测量远远跟不上生产节奏，不能对生产过程中的硅钢进行在线检测，无法做到对异常钢卷的实时监控，导致同板差不合格产品出现，使得产品品质下降，给用户带来很大的困难。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是，现有技术中，缺少针对硅钢厚度的检测缺少专用的设备，目前硅钢同板差情况都是依靠人工用高精度千分尺进行测量，造成厚度结果波动较大，导致测量的结果不准确，给同板差分析带来了严重的影响；同时，人工测量远远跟不上生产节奏，不能对生产过程中的硅钢进行在线检测，无法做到对异常钢卷的实时监控，导致同板差不合格产品出现，使得产品品质下降，给用户带来很大的困难等技术问题，而提供了。本专利技术所提供的技术方案是，一种硅钢宽度方向厚度均匀性检测装置，所述检测装置包括控制面板、测量装置、测量架和轨道，所述控制面板与所述测量装置、测量架相连，所述测量装置安装在所述测量架上，所述测量架连接轨道，所述测量架运行方向与硅钢宽度方向一致。所述测量装置为单点射线测厚仪。所述检测装置还包括测量系统平台、自动分析数据库和显示屏幕，所述射线测厚仪与所述测量系统平台、自动分析数据库和显示屏幕相连。所述测量架为C形测量架。所述测量系统平台内设有分析模块，所述分析模块通过逻辑分析，可计算出硅钢宽度方向厚度各测量点的最大值、最小值、平均值，所述测量系统平台与所述显示屏幕相、连。所述测量系统平台还包括移动控制模块，移动控制模块分别控制所述C形测量架停留在硅钢宽度方向的预设位置，所述测量系统平台与所述控制面板相连。一种硅钢宽度方向厚度均匀性检测方法，其特征在于，第一步，单点射线测厚仪安装在C形检测架上，检测架连接轨道；第二步，在硅钢宽度方向上预设A、B、C、D、E等间隔测量点；第三步，C形检测架通过轨道带动单点射线测厚仪硅钢宽度方向运行，其中，测量A点时，在控制面板上按“A”按键，C形测量架I向A点移动，移动到位停止后，指示灯报警，然后按“测量”按键，测厚仪测量，测量到一定的数据后，按“停止”，取消测量，以此类推，对B、C、D、E点进行测量； 第四步，运行自动分析数据库，数据改卷卷号，就可显示各个测量点的厚度最大值、最小值、平均值、各个测量点之间的厚度差最大值、最小值、平均值等信息，及图表分析；第五步，按结束按钮，单点射线测厚仪停止工作时，C形检测架通过轨道自动开出生产线。采用本专利技术所提供的技术方案，能够有效解决现有技术中，缺少针对硅钢厚度的检测缺少专用的设备，目前硅钢同板差情况都是依靠人工用高精度千分尺进行测量，造成厚度结果波动较大，导致测量的结果不准确，给同板差分析带来了严重的影响；同时，人工测量远远跟不上生产节奏，不能对生产过程中的硅钢进行在线检测，无法做到对异常钢卷的实时监控，导致同板差不合格产品出现，使得产品品质下降，给用户带来很大的困难等技术问题，同时，本专利技术所提供的技术方案还具有，能够代替人工对钢带厚度同板差进行实时一一测量；测量厚度精度高于人工测量厚度精度；数据查询方便快捷，对同板差不符合要求的钢卷，有自动报警功能；大大减少了繁琐的人工劳动。附图说明结合附图，对本专利技术作进一步的说明图I为本专利技术C形测量架I与硅钢结构示意图；其中，I为C形测量架。具体实施例方式现有技术中根据样本结果进行数据分析，反应整体的同板差质量状况，但是对于个别同板差质量异常的钢卷不能一一监控，导致在不知道的情况下将同板差不合格品销售给用户，给用户的使用带来了困难。在硅钢退火机组入口一般配有一台单点式射线测厚仪，对薄板宽度中心点进行厚度测量，其功能是操作工人根据检测厚度值，发现厚度偏差超过标准范围时进行处理；本专利技术属于钢材制造
，是在线监测硅钢宽度方向厚度均匀性(以下简称“同板差”)情况的一种方法，避免了同板差人工测量误差，和繁重测量劳动量，解决了同板差质量问题不能一一监控技术难题。如图I所示，本专利技术所提供的技术方案是，一种硅钢宽度方向厚度均匀性检测装置，所述检测装置包括控制面板、测量装置、测量架和轨道，所述控制面板与所述测量装置、测量架相连，所述测量装置安装在所述测量架上，所述测量架连接轨道，所述测量架运行方向与硅钢宽度方向一致。所述测量装置为单点射线测厚仪。所述检测装置还包括测量系统平台、自动分析数据库和显示屏幕，所述射线测厚仪与所述测量系统平台、自动分析数据库和显示屏幕相连。所述测量架为C形测量架I。所述测量系统平台内设有分析模块，所述分析模块通过逻辑分析，可计算出硅钢宽度方向厚度各测量点的最大值、最小值、平均值，所述测量系统平台与所述显示屏幕相连。所述测量系统平台还包括移动控制模块，移动控制模块分别控制所述C形测量I架停留在硅钢宽度方向的预设位置，所述测量系统平台与所述控制面板相连。本专利技术的目的是对单点式测厚仪进行改造，使单点测厚仪既能实现厚度偏差检测的功能，又能够完成同板差测量，实现每一卷硅钢产品厚度同板差精确监控。 本专利技术的技术方案I)单点射线测厚仪工作方式是C形测量架I通过轨道带动射线发射装置直接开到带钢宽度的中部，然后开启射线，测量厚度，停止工作时，C形测量架I通过轨道自动开出生产线；技术改造点在带钢宽度方向上拟定几个测量需求点，例如从带钢中部到边部分别为A、B、C、D、E等等，在C形测量架I移动轨道上做对应的制动点，C形测量架I移动到需要测量的点时，停止、测量，电脑记录量数据；2)自主开发测厚仪测量系统平台；需要测量A点时，在控制面板上按“A”按键，C形测量架I向A点移动，移动到位停止后，指示灯报警，然后按“测量”按键，测厚仪测量，测量到一定的数据后，按“停止”，取消测量，以此类推，对需求点进行测量。3)开发自动分析数据库，数据改卷卷号，就可显示各个测量点的厚度最大值、最小值、平均值、各个测量点之间的厚度差最大值、最小值、平均值等信息，及图表分析。本专利技术利用原来的单点测厚仪的测量架、轨道、和射线测量系统，对新的测量点进行预设，并完成各个测量点的定位、测量及数据保存；测量方法需要测量A点时，在控制面板上按“A”按键，C形测量架I向A点移动，移动到位停止后，指示灯报警，然后按“测量”按键，测厚仪测量，测量到一定的数据后，按“停止”，取消测量，以此类推，对需求点进行测量。开发自动分析数据库，就可显本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种硅钢宽度方向厚度均匀性检测装置，其特征在于，所述检测装置包括控制面板、测量装置、测量架和轨道，所述控制面板与所述测量装置、测量架相连，所述测量装置安装在所述测量架上，所述测量架连接轨道，所述测量架运行方向与硅钢宽度方向一致。2.根据权利要求I所述的一种硅钢宽度方向厚度均匀性检测装置，其特征在于，所述测量装置为单点射线测厚仪。3.根据权利要求I或2所述的一种硅钢宽度方向厚度均匀性检测装置，其特征在于，所述检测装置还包括测量系统平台、自动分析数据库和显示屏幕，所述射线测厚仪与所述测量系统平台、自动分析数据库和显示屏幕相连。4.根据权利要求3所述的一种硅钢宽度方向厚度均匀性检测装置，其特征在于，所述测量架为C形测量架(I)。5.根据权利要求3所述的一种硅钢宽度方向厚度均匀性检测装置，其特征在于，所述测量系统平台内设有分析模块，所述分析模块通过逻辑分析，可计算出硅钢宽度方向厚度各测量点的最大值、最小值、平均值，所述测量系统平台与所述显示屏幕相连。6.根据权利要求3所述的一种硅钢宽度方向厚度均...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈友根，
申请(专利权)人：马钢集团控股有限公司，马鞍山钢铁股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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