一种对包括在引导操作期间被选择性地测试的易失性存储器器件的信息处理系统进行引导的方法，该方法包含：从信息处理系统读取当前系统配置信息的步骤；把当前系统配置信息与非易失存储器器件中相应的预先存储的系统配置信息进行比较的步骤；以及根据比较结果选择性地执行对易失性存储器器件的测试的步骤。一种信息处理系统包含：电路板；安装在电路板上的处理器；安装在电路板上并耦合到处理器的易失性存储器器件；以及被配置成存储电路板、处理器和易失性存储器器件的序列号的非易失性存储器器件，其中，处理器被配置成用于监视测试易失性存储器器件的触发条件，并被配置成选择性地执行用于检查易失性存储器器件中的存储器单元的测试和用于优化连接在易失性存储器器件和处理器之间的信道的信号完整性的训练。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术概念涉及引导信息处理系统的方法和执行该方法的信息处理系统。更具体地，本专利技术概念涉及通过选择性地测试信息处理系统中的易失性存储器系统来減少引导时间。
技术介绍
信息处理系统复杂性的増加已导致信息处理系统引导时间的相应的增加。相反， 信息处理系统的客户已要求与系统复杂性程度无关地能够尽可能快地激活和使用的信息处理系统。因此，需要減少引导时间
技术实现思路
在本专利技术概念的实施例中，ー种对包括在引导操作期间被选择性地测试的非易失存储器器件的信息处理系统进行引导的方法，该方法包含从信息处理系统读取当前系统配置信息的步骤；把当前系统配置信息与非易失存储器器件中相应的预先存储的系统配置信息比较的步骤；以及根据比较结果选择性地执行对易失性存储器器件的测试的步骤。在进ー步的实施例中，信息处理系统包括处理器、电路板和易失性存储器器件作为系统配置。易失性存储器器件是多个动态随机存取存储器(DRAM)的存储器模块。或者，易失性存储器器件是ー个或多个移动动态随机存取存储器(DRAM)。存储器模块包括串行存在检测(SPD)存储器的非易失性存储器器件。或者，非易失性存储器器件是基本输入输出系统(BIOS)存储器器件。在进ー步的实施例中，读取当前系统配置信息的步骤包含从处理器提取处理器的当前序列号的步骤，从BIOS存储器器件提取电路板的当前序列号的步骤；以及从串行存在检测(SPD)存储器器件提取存储器模块的当前序列号的步骤。在进ー步的实施例中，选择性地执行测试的步骤包含步骤如果当前系统配置信息不和预先存储的系统配置信息匹配，则执行用于检查易失性存储器器件的存储器単元的测试；把执行用于检查存储器単元的测试的步骤的测试结果存储在非易失性存储器器件中；以及把当前系统配置信息存储在非易失性存储器器件中。执行检查存储器単元的测试的步骤由内置自测逻辑执行。选择性地执行测试的步骤还包含用于优化连接到易失性存储器器件的信道的信号完整性的训练步骤。选择性地执行测试的步骤还包含以下步骤如果当前系统配置信息和相应的存储的系统配置信息匹配，则把预先存储在非易失性存储器器件中的测试结果应用于信息处理系统而不执行用于检查存储器単元的测试和用于优化信道的信号完整性的训练。在本专利技术概念的另ー实施例中，ー种对包括易失性存储器器件的信息处理系统进行引导的方法包含监视用于测试易失性存储器器件的触发条件的步骤。所述方法还包含以下步骤如果检测到触发条件，则执行用于检查易失性存储器器件中的失效存储器単元的测试和用于优化连接到易失性存储器器件的信道的信号完整性的训练。所述方法还包含以下步骤如果未检测到触发条件，则跳过用于检查失效的存储器单元的测试和用于优化信道的信号完整性的训练。在进ー步的实施例中，触发条件是系统配置变化、工作温度变化的预定量、先前操作的异常终止、和在不测试易失性存储器设备的情况下连续引导操作的预定数量中的ー个或多个。系统配置变化是当前引导操作中的处理器、电路板和易失性存储器器件的序列号与存储在非易失性存储器器件中的处理器、电路板和易失性存储器设备的序列号的任何变化。工作温度的变化是存储在非易失性存储器器件的工作温度和当前引导操作的工作温度之间的预定量的差。异常终止是通过检查指示信息处理系统在先前操作中如何終止的終止标志来检测的。在进ー步的实施例中，所述方法还包含把引导计数和连续引导操作的预定数量进 行比较的步骤；以及每次在信息处理系统被引导而在先前引导操作期间未测试易失性存储器器件时把引导计数増加I的步骤。在本专利技术概念的另ー实施例中，ー种信息处理系统包含电路板；安装在电路板上的处理器；安装在电路板上并耦合到处理器的易失性存储器器件；以及被配置成存储电路板、处理器和易失性存储器器件的序列号的非易失性存储器器件，其中，处理器被配置成用于监视测试易失性存储器器件的触发条件，并被配置成选择性地执行用于检查易失性存储器器件中的存储器単元的测试和用于优化连接在易失性存储器器件和处理器之间的信道的信号完整性的训练。在进ー步的实施例中，触发条件是系统配置变化、工作温度变化的预定量、先前操作的异常终止、和在不测试易失性存储器设备的情况下连续引导操作的预定数量中的ー个或多个。系统配置变化是当前引导操作中的处理器、电路板和易失性存储器设备的序列号与存储在非易失性存储器设备中的处理器、电路板和易失性存储器设备的序列号的任何变化。附图说明根据结合附图的以下详细描述，将更清晰地理解说明性、非限制性的示例实施例。在附图中图I是示出根据本专利技术概念的实施例的、引导信息处理系统的方法的流程图；图2是示出根据本专利技术概念的实施例的、信息处理系统的例子的框图；图3是示出根据本专利技术概念的实施例的、引导信息处理系统的方法的流程图；图4是示出执行图3的引导方法的信息处理系统的例子的框图；图5是示出执行图3的引导方法的信息处理系统的另一例子的框图；图6是示出根据本专利技术概念的实施例的、引导信息处理系统的方法流程图；图7是示出执行图6的引导方法的信息处理系统的例子的框图；图8是示出执行图6的引导方法的信息处理系统的另一例子的框图9是示出根据本专利技术概念的实施例的、引导信息处理系统的方法的流程图；图10是示出执行图9的引导方法的信息处理系统的例子的框图；图11是示出执行图9的引导方法的信息处理系统的另一例子的框图；图12是示出根据本专利技术概念的实施例的、引导信息处理系统的方法的流程图；图13是示出执行图12的引导方法的信息处理系统的例子的框图；图14是示出执行图12的引导方法的信息处理系统的另一例子的框图；图15A到图15F是示出根据本专利技术概念的实施例的存储器模块的例子的图；图16A到图16D是示出根据本专利技术概念的实施例的存储器接ロ的例子的 图17是示出根据本专利技术概念的实施例的移动系统的框图；以及图18是示出根据本专利技术概念的实施例的服务器系统的框图。具体实施例方式此后将參考附图更全面地描述各种示例实施例，在附图中示出了某些示例实施例。但是，本专利技术概念可以用很多不同的形式具体实施，并且不应被解释为受限于这里所阐述的示例实施例。在附图中，为了清晰可能对层和区域的大小和相对大小进行放大。将会理解，当元素或者层被称为在另一元素或者层“上”、“连接到”或者“耦合到”另ー元素或者层时，该元素或者层可能直接在该另一元素或者层上、连接或者稱合到该另一元素或者层，或者，可能存在中间元素或者层。相反，当元素被称为“直接在...上”、“直接连接到”或者“直接耦合到”另ー元素或者层时，则不存在中间元素或者层。相同的数字通篇指示相同的元素。如这里所使用的，术语“和/或”包括所列举的相关项目中的ー个或多个的任意组合和全部组合。将会理解，尽管本文可能使用术语第一、第二、第三等来描述各种元素、部件、区域、层和/或部分，但是这些元素、部件、区域、层和/或部分不应受这些术语限制。这些术语仅用来将ー个元素、部件、区域、层或部分与另一元素、部件、区域、层或部分区別。因此，下面讨论的第一元素、第一部件、第一区域、第一层或第一部分可以被称为第二元素、第二部件、第二区域、第二层或第二部分而不偏离本专利技术概念的教导。为了便于描述如图所示的ー个元素或者特征与其他元素或者特征的关系，本文可能使用空间上相対的术语，例如“在...之下”、“在...下面”、“本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
2011.01.25 KR 10-2011-00071191.一种对包括在引导操作期间被选择性地测试的易失性存储器器件的信息处理系统进行引导的方法，所述方法包含以下步骤 从所述信息处理系统读取当前系统配置信息； 把当前系统配置信息与非易失存储器器件中相应的预先存储的系统配置信息进行比较；以及 根据比较结果选择性地执行对易失性存储器器件的测试，其中，选择性地测试的步骤包含以下步骤 如果当前系统配置信息不和预先存储的系统配置信息匹配，则执行用于检查易失性存储器器件的存储器单元的测试， 把执行用于检查存储器单元的测试的步骤的测试结果存储在非易失性存储器器件中，以及 把当前系统配置信息存储在非易失性存储器器件中。2.如权利要求I所述的方法，其中，所述信息处理系统包括处理器、电路板和易失性存储器器件作为系统配置。3.如权利要求I所述的方法，其中，所述易失性存储器器件是多个动态随机存取存储器(DRAM)的存储器模块。4.如权利要求I所述的方法，其中，所述易失性存储器器件是一个或多个移动动态随机存取存储器(DRAM)。5.如权利要求3所述的方法，其中，所述存储器模块包括串行存在检测(SPD)存储器的非易失性存储器器件。6.如权利要求I所述的方法，其中，所述非易失性存储器器件是基本输入输出系统(BIOS)存储器器件。7.如权利要求5所述的方法，其中，读取当前系统配置信息的步骤包含以下步骤 从处理器提取处理器的当前序列号； 从BIOS存储器器件提取所述电路板的当前序列号；以及 从所述串行存在检测(SPD)存储器器件提取所述存储器模块的当前序列号。8.如权利要求I所述的方法，其中，执行用于检查存储器单元的测试的步骤由内置自测逻辑执行。9.如权利要求I所述的方法，其中，选择性地执行测试的步骤还包含用于优化连接到所述易失性存储器器件的信道的信号完整性的训练步骤。10.如权利要求9所述的方法，其中，选择性地执行测试的步骤还包含以下步骤如果当前系统配置信息和相应的存储的系统配置信息匹配，则把预先存储在所述非易失性存储器器件中的测试结果应用于所述信息处理系统而不执行检查存储器单元的测试和用于优化信道的信号完整性的训练。11.一种对包括易失性存储器器件的信息...
【专利技术属性】
技术研发人员：李钟旻，崔炯讚，崔熙柱，辛承万，
申请(专利权)人：三星电子株式会社，
类型：发明
国别省市：
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