薄膜检测方法及检测装置制造方法及图纸

本发明专利技术揭露了一种薄膜检测方法及检测装置，用于检测贴附于显示面板的待测薄膜，该薄膜检测方法包含以下步骤：(A)读取待测薄膜的参考位置；(B)于该待测薄膜对应该显示面板的像素排列方向上以固定的间隔距离撷取多张检测影像；(C)计算该多张检测影像中对应该参考位置的校准位置与该参考位置的距离差，并对应产生多个偏移值；及(D)输出该多个偏移值。本发明专利技术可图形化待测薄膜贴于显示面板上的表现，更精准地检测待测薄膜，并可应用于自动化检测待测薄膜，减少检测的人力耗费，提高检测效率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术有关于一种检测方法及检测装置，特别是指一种薄膜检测方法及检测装置。
技术介绍
参阅图1，为现有贴附于显示面板(图未示)的相位延迟膜900，主要功能为产生3D影像。该相位延迟膜900包含复数个第一相位显示区域910及复数个第二相位显示区域920，该复数个第一相位显示区域910及该复数个第二相位显示区域920相互平行且间隔排列。在实际应用中，由于相位延迟膜900会受其高分子膜本身胀缩的特性，导致第一相位显示区域910及第二相位显示区域920的宽度Dpixel产生改变，而无法准确对应面板上的像素，进而影响影像的3D效果。 然而，现今常见的检测方法是测量相位延迟膜900的总长度Dtotal，接着计算相位延迟膜900所具有第一相位显示区域910及第二相位显示区域920的数量，最后将相位延迟膜的总长度Dtotal除以总相位显示区域的数量，即可得到各相位显示区域的平均宽度Dpixel (average)。并以Dpixel (average)是否介于预定范围内，进而预估相位延迟膜900于面板的表现，但此检测方法并无法得知该相位延迟膜900中各个相位显示区域的宽度Dpixel数据，因此无法准确预估该相位延迟膜900上各相位显示区域于显示面板上的3D效果。
技术实现思路
因此，鉴于现有技术的不足，本专利技术提供一种可更精确检测待测薄膜的均匀度的薄膜检测方法及检测装置。根据本专利技术的目的之一提出一种薄膜检测方法，用于检测贴附于显示面板的待测薄膜，该薄膜检测方法包含以下步骤(A)读取待测薄膜的参考位置；(B)于该待测薄膜对应该显示面板的像素排列方向上以固定的间隔距离撷取多张检测影像；(C)计算该多张检测影像中对应该参考位置的校准位置与该参考位置的距离差，并对应产生多个偏移值；及(D)输出该多个偏移值。作为可选的技术方案，该步骤(D)是将处理单元所产生的所有偏移值以图形化的方式输出。作为可选的技术方案，该待测薄膜包括复数个相互平行且间隔排列的第一相位显示区域及第二相位显示区域，该参考位置的起始点位于其中一第一相位显示区域及其邻近的第二相位显示区域的交界位置。作为可选的技术方案，该参考位置位于各该检测影像的中心位置。作为可选的技术方案，该校准位置为位于各该检测影像中间区域的第一相位显示区域与第二相位显示区域的交界位置。根据本专利技术的另一目的提出一种薄膜检测方法，用于检测贴附于显示面板的待测薄膜，该薄膜检测方法包含以下步骤(A)读取该待测薄膜的参考影像；(B)于该待测薄膜对应该显示面板的像素排列方向上以固定的间隔距离撷取多张检测影像；(C)将该多张检测影像分别与该参考影像相减，以产生多个差值影像；(D)根据该多个差值影像，产生对应该待测薄膜的均匀度的偏移量 '及(E)输出该偏移量。作为可选的技术方案，该步骤(A)是于该待测薄膜上撷取该参考影像。作为可选的技术方案，若该差值影像的灰阶值高于该预设值，则视该差值影像为全白画面，若该差值影像的灰阶值低于该预设值，则视该差值影像为全黑画面。作为可选的技术方案，该步骤(D)包括以下子步骤(D-I)计算该多个差值影像的灰阶值高于预设值的数量；(D-2)将所计算的灰阶值高于预设值的差值影像的数量与该多个检测影像的解析度相除，以求得该多个检测影像中灰阶值高于该预设值的比例；及(D-3)根据该多个检测影像中灰阶值高于该预设值的比例，产生对应该比例的偏移量。 根据本专利技术的另一目的提出一种检测装置，用于检测贴附于显示面板的待测薄膜，该检测装置包含储存单元，储存该待测薄膜的参考位置；摄像单元，用以于该待测薄膜对应该显示面板的像素排列方向上以固定的间隔距离撷取多张检测影像；处理单元，耦接于该储存单元及该摄像单元，该处理单元从该储存单元中读取该参考位置，并计算该多个检测影像中对应该参考位置的校准位置与该参考位置的距离差而对应产生多个偏移值；及输出单元，耦接于该处理单元，用以输出该多个偏移值。作为可选的技术方案，该输出单元将该处理单元所产生的所有偏移值以图形化的方式输出。作为可选的技术方案，该输出单元输出该多个偏移值至检测电路，该检测电路将该多个偏移值分别与标准差值进行比较，以检测该待测薄膜。作为可选的技术方案，该待测薄膜包括复数个相互平行且间隔排列的第一相位显示区域及第二相位显示区域，该参考位置的起始点位于其中一第一相位显示区域及其邻近的第二相位显示区域的交界位置。作为可选的技术方案，该参考位置位于各该检测影像的中心位置。作为可选的技术方案，该校准位置为位于各该检测影像中间区域的第一相位显示区域与第二相位显示区域的交界位置。根据本专利技术的在一目的提出一种检测装置，用于检测贴附于显示面板的待测薄膜，该检测装置包含摄像单元，用以于该待测薄膜对应该显示面板的像素排列方向上以固定的间隔距离撷取多张检测影像；储存单元，储存该摄像单元所撷取的参考影像；处理单元，耦接于该储存单元及该摄像单元，该处理单元读取该待测薄膜的参考影像，且将该多个检测影像分别与该参考影像相减，以产生多个差值影像，并根据该多个差值影像，产生对应该待测薄膜均匀度的偏移量；及输出单元，耦接于该处理单元，用以输出该偏移量。作为可选的技术方案，还包含耦接于该处理单元的计数单元，当该处理单元判断该多个差值影像的灰阶值高于预设值时，控制该计数单元计数，该处理单元并将该计数单元所计数的差值影像中全白画面的数量与该多个检测影像的解析度相除，以求得该多个检测影像中灰阶值高于该预设值的比例，再将根据该比例产生该偏移量。作为可选的技术方案，该参考影像由该摄像单元于该待测薄膜上撷取，并储存于该储存单元，该处理单元再从该储存单元中读取该参考影像；或者，该参考影像预先储存于该储存单元，该处理单元于该储存单元中读取该参考影像。本专利技术的好处在于，可图形化待测薄膜贴于显示面板上的表现，更精准地检测待测薄膜，并可应用于自动化检测待测薄膜，减少检测的人力耗费，提高检测效率。附图说明图I是说明现有技术的相位延迟膜的示意图；图2是说明第一实施例的薄膜检测方法的流程图；图3是说明第一实施例的检测装置的示意图；图4是说明本专利技术待测薄膜的示意图；图5是说明摄像单元于待测薄膜对应显示面板的像素排列方向上撷取多张检测 影像的示意图；图6是说明摄像单元所撷取的其中四张检测影像的示意图；图7是说明待测薄膜均匀度的一种特性曲线图；图8是说明待测薄膜均匀度的另一种特性曲线图；图9是说明本专利技术检测装置配合测试机台使用的示意图；图10是说明检测通过的待测薄膜所对应的特性曲线图；图11是说明检测未通过的待测薄膜所对应的特性曲线图；图12是说明第二实施例的薄膜检测方法的流程图；图13是说明第二实施例的检测装置的示意图；图14是说明摄像单元于待测薄膜对应显示面板的像素排列方向上撷取多张检测影像的示意图；图15是说明检测影像与参考影像完全重叠的示意图；图16是说明检测影像与参考影像出现偏差的示意图；图17是说明检测影像与参考影像偏差达一个像素距离的示意图；图18是说明第二实施例的处理单元根据该多个差值影像而产生偏移量的流程图；图19是说明全白画面比例与偏移量的对照表。具体实施例方式为使对本专利技术的目的、构造、特征、及其功能有进一步的了解，兹配合实施例详细说明如下。参阅图2至图4，为本专利技术薄膜检测方法的第一实施例，此本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种薄膜检测方法，用于检测贴附于显示面板的待测薄膜，其特征在于，该薄膜检测方法包含以下步骤 (A)读取该待测薄膜的参考位置； (B)于该待测薄膜对应该显示面板的像素排列方向上以固定的间隔距离撷取多张检测影像； (C)计算该多张检测影像中对应该参考位置的校准位置与该参考位置的距离差，并对应产生多个偏移值；及 (D)输出该多个偏移值。2.如权利要求I所述的薄膜检测方法，其特征在于，该步骤(D)是将处理单元所产生的所有偏移值以图形化的方式输出。3.如权利要求I所述的薄膜检测方法，其特征在于，该待测薄膜包括复数个相互平行且间隔排列的第一相位显示区域及第二相位显示区域，该参考位置的起始点位于其中一第一相位显示区域及其邻近的第二相位显示区域的交界位置。4.如权利要求3所述的薄膜检测方法，其特征在于，该参考位置位于各该检测影像的中心位置。5.如权利要求4所述的薄膜检测方法，其特征在于，该校准位置为位于各该检测影像中间区域的第一相位显示区域与第二相位显示区域的交界位置。6.一种薄膜检测方法，用于检测贴附于显示面板的待测薄膜，其特征在于，该薄膜检测方法包含以下步骤 (A)读取该待测薄膜的参考影像； (B)于该待测薄膜对应该显示面板的像素排列方向上以固定的间隔距离撷取多张检测影像； (C)将该多张检测影像分别与该参考影像相减，以产生多个差值影像； (D)根据该多个差值影像，产生对应该待测薄膜的均匀度的偏移量'及 (E)输出该偏移量。7.如权利要求6所述的薄膜检测方法，其特征在于，该步骤(A)是于该待测薄膜上撷取该参考影像。8.如权利要求6所述的薄膜检测方法，其特征在于，若该差值影像的灰阶值高于该预设值，则视该差值影像为全白画面，若该差值影像的灰阶值低于该预设值，则视该差值影像为全黑画面。9.如权利要求6所述的薄膜检测方法，其特征在于，该步骤(D)包括以下子步骤 (D-I)计算该多个差值影像的灰阶值高于预设值的数量； (D-2)将所计算的灰阶值高于预设值的差值影像的数量与该多个检测影像的解析度相除，以求得该多个检测影像中灰阶值高于该预设值的比例；及 (D-3)根据该多个检测影像中灰阶值高于该预设值的比例，产生对应该比例的偏移量。10.一种检测装置，用于检测贴附于显示面板的待测薄膜，其特征在于，该检测装置包含 储存单元，储存该待测薄膜的参考位置； 摄像单元，用以...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄献颐，洪群泰，
申请(专利权)人：明基材料有限公司，明基材料股份有限公司，
类型：发明
国别省市：