无基准条件之配合间隙检测方法技术

技术编号:7784328 阅读:370 留言:0更新日期:2012-09-21 03:19
本发明专利技术涉及测量技术领域,特指一种无基准条件之配合间隙检测方法,包括如下步骤:将按子轮廓生产得到的实体产品放入光电测量仪器的测量平台,光电测量仪器通过测量镜头获得实体产品影像,并根据影像任意抓取实体产品外轮廓上多段线段;将取得的多段线段与母轮廓的标准图嵌合比较,找出多段线段中与母轮廓的标准图相应嵌合部位之间的法向间隙最小的线段并作为基准线,用于定位待被测的以子轮廓生产得到的实体产品,即可由光电测量仪器将实体产品之影像准确嵌合于母轮廓的标准图中,检测实体产品与母轮廓的标准图之间的配合间隙,达到间隙检测;操作工序简单,应用面广,符合产业大批量、自动化生产的使用;有效节约原材料,降低成本。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及测量
,特指一种结合光电仪器测量产品加工质量的检测方法。
技术介绍
现有技术中,对于产品加工质量的检测,有的是采用目测方式,有的是采用简单的游标卡尺或螺旋测量仪对产品检测,但无论是目测还是简单的工具检测,检测精度都相对低,误差大,且较为劳累。随着科技的发展,对精密定位测量提出了越来越高的要求,因而传统的游标卡尺或螺旋测量仪很难满足测量要求。随后出现光电测量仪器,其利用影像攫取器(如CCD)将被测物之影像转换为电子信号,再电子信号送到电脑,由电脑的图像处理芯片将影像放大显示在显示器上,再利用电脑三维坐标对应捕捉测量,这种方式可降低测量误 差,提升测量精度。由此,利用光电测量仪器来检测所加工产品是否满足质量要求则成为目前常用的手段,但现有的光电检测时,对于固有基准线或基准点的产品来说,检测相对容易,直接对应即可;而对于无固有基准来说,检测就相对复杂,难以找到对应点或线,不利于批量快速检测,如对于无基准的子母轮廓嵌接配合的间隙检测,在难以采用光电快速检测的情况下,目前只好是加工好子母产品后,将两者嵌接在测量间隙大小,这种方式效率低,且浪费人力、物力,极大影响了生产检测本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.无基准条件之配合间隙检测方法,其特征在于该方法用于子母轮廓嵌接配合的间隙检测,包括如下步骤 .1)、将母轮廓的标准图A输入光电测量仪器的电脑中存储,再将按子轮廓生产得到的实体产品B放入光电测量仪器的测量平台,光电测量仪器通过测量镜头获得实体产品B影像,并根据影像任意抓取实体产品B外轮廓上多段线段BI ; .2)、将步骤I)取得的多段线段BI与母轮廓的标准图A嵌合比较,找出多段线段BI中与母轮廓的标准图A相应嵌合部位之...

【专利技术属性】
技术研发人员:徐春云
申请(专利权)人:东莞七海测量技术有限公司
类型:发明
国别省市:

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