本发明专利技术涉及测量技术领域，特指一种结合光电仪器测量产品加工质量的检测方法。该方法配合光电测量仪器进行，具有普检步骤和精检步骤：其中，普检步骤是通过光电测量仪器上大范围测量镜头进行，光电测量仪器分别对大范围测量镜头抓取的影像内产品的多个被检单元进行逐一或选择的与标准比对检测；精检步骤是通过光电测量仪器上小范围测量镜头进行，小范围测量镜头的精度高于上述的大范围测量镜头，小范围测量镜头放大产品的被检单元后由光电测量仪器对该放大的被检单元与标准比对检测；所述精检步骤是依据普检步骤的检测结果有需进行。本发明专利技术操作工序简单、方便，应用面广，符合产业大批量、自动化生产的使用；检测效率高，质量有保证。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及测量
，特指一种结合光电仪器测量产品加工质量的检测方法。
技术介绍
现有技术中，对于产品加工质量的检测，有的是采用目测方式，有的是采用简单的游标卡尺或螺旋测量仪对产品检测，但无论是目测还是简单的工具检测，检测精度都相对低，误差大，且较为劳累。随着科技的发展，对精密定位测量提出了越来越高的要求，因而传统的游标卡尺或螺旋测量仪很难满足测量要求。随后出现光电测量，利用影像攫取器(如CCD)将被测物之影像转换为电子信号，再电子信号送到电脑，由电脑的图像处理芯片将影像放大显示在显示器上，再利用电脑三维坐标对应捕捉测量，这种方式可降低测量误差，提升测量精度。但对于不同测量镜头精度不同，其测量的精度也就不同，用于比对检测时，低精度镜头检测范围一般较大，检测速度快，但误差较大，而高精度镜头检测范围一般较小，检测速度慢，误差较小。因而在实际生产中，经常出现低精度镜头难以满足小误差的要求，而高精度镜头难以满足检测效率的要求，极大影响了生产检测的进程，影响了整个生产工艺流程。本申请人有鉴于上述习知检测方法之缺失与不便之处，秉持着研究创新、精益求精之精神，利用其专业眼光和专业知识，研究出一种应用范围广，符合产业利用的。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种，可有效提高检测效率的同时还可确保检测的准确和质量，且操作工序简单、方便。为达到上述目的，本专利技术系采用如下技术方案实现，该方法配合光电测量仪器进行，具有普检步骤和精检步骤其中，普检步骤是通过光电测量仪器上大范围测量镜头进行，光电测量仪器分别对大范围测量镜头抓取的影像内产品的多个被检单元进行逐一或选择的与标准比对检测；精检步骤是通过光电测量仪器上小范围测量镜头进行，小范围测量镜头的精度高于上述的大范围测量镜头，小范围测量镜头放大产品的被检单元后由光电测量仪器对该放大的被检单元与标准比对检测；所述精检步骤是依据普检步骤的检测结果有需进行。上述方案中，所述普检步骤的比对检测的误差范围小于产品原始允许的加工误差范围。上述方案中，所述精检步骤的比对检测的误差范围与产品原始允许的加工误差范围一致。上述方案中，光电测量仪器上的小范围测量镜头抓取的影像位于大范围测量镜头抓取的影像内。本专利技术提供的检测方法具有如下优点1、以普检步骤和精检步骤配合，可利用普检步骤有效提升检测效率，促进生产，而利用精检步骤有效确保检测的精度，保证产品的质量，减少不良率。2、操作工序简单、方便，应用面广，符合产业大批量、自动化生产的使用。附图说明附图1为本专利技术其一实施工作示意图；附图2为图1之实施工作的普检步骤示意图；附图3为图1之实施工作的精检步骤示意图。具体实施例方式本专利技术提供的，其是配合光电测量仪器进行，具有普检步骤和精检步骤其中，普检步骤是通过光电测量仪器上大范围测量镜头进行，光电测量仪器分别对大范围测量镜头抓取的影像内产品的多个被检单元进行逐一或选择的与标准比对检测；普检步骤的比对检测的误差范围小于产品原始允许的加工误差范围。精检步骤是通过光电测量仪器上小范围测量镜头进行，小范围测量镜头的精度高于上述的大范围测量镜头，小范围测量镜头放大产品的被检单元后由光电测量仪器对该放大的被检单元与标准比对检测；精检步骤的比对检测的误差范围与产品原始允许的加工误差范围一致；所述精检步骤是依据普检步骤的检测结果有需进行，即当普检步骤中出现有超出其检测的误差范围时才启动精检步骤，否则不需要启动精检步骤。实施例1 图1、2、3所示，以检测筛网孔大小为例。先是在光电测量仪器的电脑中输入标准孔尺寸，然后将被测产品放入光电测量仪器的测量工作区，先进行普检步骤，即模糊检测，光电测量仪器上大范围测量镜头获取产品的全部或局部影像1 (如图1、2所示)，这时操作者通过光电测量仪器逐一或选择的对大范围测量镜头抓取的影像内产品的多个被检单元与标准孔的尺寸比对检测，具体操作是根据影像1内的被检单元抓取其轮廓线并算出其值与标准值比对，如果符合设定的普检步骤的比对检测误差范围，则为合格，否则待定。多个被检单元通过逐一比对检测或选择比对检测，选择比对检测可以是先找出多个被检单元中最大和最小的实际孔去比对检测，合格的则可确定该影像1内的所有被检单元均合格，由此提升检测速度，如果最大和最小中有一不合格，则可进一缩小相应端的范围，即找第二大或第二小的重复上述检测工作，直至得到合格区域。如图3所示，当普检步骤中出现有超出其检测的误差范围时启动精检步骤，进一步放大产品的被检单元，有针对性的精确抓取其轮廓线并算出其值与标准值比对，如果符合设定的精检步骤的比对检测误差范围，则为合格，否则为不合格，由此可确定产品质量。本专利技术中，光电测量仪器上的小范围测量镜头抓取的影像2位于大范围测量镜头抓取的影像1内，因而移动捕捉相对更容易，操作更方便。当然，还可进一步设定小范围测量镜头抓取的影像中心点与大范围测量镜头抓取的影像中心点在一起，这样，镜头移动的方向、位置更容易确定，提升操作速度。本专利技术是有机的将普检步骤和精检步骤配合，可利用普检步骤有效提升检测效率，促进生产，而利用精检步骤有效确保检测的精度，保证产品的质量，减少不良率；操作工序简单、方便，应用面广，符合产业大批量、自动化生产的使用。权利要求1.，其特征在于该方法配合光电测量仪器进行，具有普检步骤和精检步骤其中，普检步骤是通过光电测量仪器上大范围测量镜头进行，光电测量仪器分别对大范围测量镜头抓取的影像内产品的多个被检单元进行逐一或选择的与标准比对检测；精检步骤是通过光电测量仪器上小范围测量镜头进行，小范围测量镜头的精度高于上述的大范围测量镜头，小范围测量镜头放大产品的被检单元后由光电测量仪器对该放大的被检单元与标准比对检测；所述精检步骤是依据普检步骤的检测结果有需进行。2.根据权利要求1所述的，其特征在于所述普检步骤的比对检测的误差范围小于产品原始允许的加工误差范围。3.根据权利要求1所述的，其特征在于所述精检步骤的比对检测的误差范围与产品原始允许的加工误差范围一致。4.根据权利要求1所述的，其特征在于光电测量仪器上的小范围测量镜头抓取的影像位于大范围测量镜头抓取的影像内。全文摘要本专利技术涉及测量
，特指一种结合光电仪器测量产品加工质量的检测方法。该方法配合光电测量仪器进行，具有普检步骤和精检步骤其中，普检步骤是通过光电测量仪器上大范围测量镜头进行，光电测量仪器分别对大范围测量镜头抓取的影像内产品的多个被检单元进行逐一或选择的与标准比对检测；精检步骤是通过光电测量仪器上小范围测量镜头进行，小范围测量镜头的精度高于上述的大范围测量镜头，小范围测量镜头放大产品的被检单元后由光电测量仪器对该放大的被检单元与标准比对检测；所述精检步骤是依据普检步骤的检测结果有需进行。本专利技术操作工序简单、方便，应用面广，符合产业大批量、自动化生产的使用；检测效率高，质量有保证。文档编号G01B11/24GK102384727SQ20111033741公开日2012年3月21日 申请日期2011年10月31日 优先权日2011年10月31日专利技术者徐春云 申请人:东莞七海测量技术有限公司本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：徐春云，
申请(专利权)人：东莞七海测量技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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