一种触控装置，包含有多个重叠设置的触控板，每一触控板包含有一基板；多个检测线，设置于该基板上；一检测单元，耦接于该多个检测线，用来检测该多个检测线的电气特性变化，以输出一检测结果；以及一逻辑单元，耦接于该多个触控板，用来根据该每一触控板所产生的该检测结果，判断至少一触控事件的内容；其中，该多个触控板所包含的该多个检测线设置于该基板的方式为相异。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种触控装置，尤其涉及一种可检测三维方向触控情形并适用多点触控的应用的触控装置。
技术介绍
触控装置具有操作方便、反应速度快及节省空间的优点，能提供使用者更直觉与便利的操控方式，因而成为重要的输入接口，广泛地用于各式的消费性电子产品中。具体而言，触控装置由一感测电路及多条以矩阵方式排列的走线，感测电路可感测这些走线的电气信号，并将之转换为数字形式的感应数据值，以判读触摸事件。然而，已知触控装置仅适用于二维方向的应用，无法提供不同的操作变化。除此之外，已知触控装置主要适用于单点触控，如果针对多点触控的情况时，将可能面临误判的问题。举例来说，请参考图5，图5为已知一投射电容感应装置50的示意图。投射电容感应装置50包含有感应电容串行X1 Xm与Y1 Yn，每一感应电容串行由多个感应电容所串接成的一维结构。已知触控检测方式为检测每一感应电容串行的电容值，来判断是否有触控事件发生。假设感应电容串行X1有a个感应电容，每一感应电容的电容值为C，则正常情况下，感应电容串行X1的电容值为aC。如果人体(例如手指)接触到感应电容串行X1上的某一感应电容时的电容变化量为AC，当检测到感应电容串行X1的电容值为(aC+AC)时，即表示目前手指正接触于感应电容串行X1上的某处。然而，针对多点触控的情况，如图5所示，由于同时有两只手指接触到投射电容感应装置50，感应电容串行X3J1^Y3Jlri会同时感应到电容变化，因而将会判断成在(X3，Y3)、(X3, Ylri)、(Xm+ Y3)、(Xm^1, Ylri)处有触控事件发生。但是，实际上，仅有(X3，Y3)与(Xn^Ylri)为真实触控点，而(X^Yn-HpY3)并非真实触控点。在此情况下，投射电容感应装置50发生错误判断的结果，而使检测结果误报了两个非真实触控点，也就是导致了所谓幽灵键(ghost key)的情况。因此，当有多点触控的情形时，仅能得知有哪些感应电容串行的交会处可能有触控事件发生，而无法确实定位出真实触控点。
技术实现思路
因此，本专利技术主要提供一种触控装置。本专利技术公开一种触控装置，包含有多个重叠设置的触控板，每一触控板包含有一基板；多个检测线，设置于该基板上；一检测单元，耦接于该多个检测线，用来检测该多个检测线的电气特性变化，以输出一检测结果；以及一逻辑单元，耦接于该多个触控板，用来根据该每一触控板所产生的该检测结果，判断至少一触控事件的内容；其中，该多个触控板所包含的该多个检测线设置于该基板的方式为相异。附图说明、图I为本专利技术实施例一触控装置的示意图。图2为触控装置10中任一触控板的示意图。图3为图2的触控板的俯视透视图。图4为图2的触控板检测触控事件的示意图。图5为已知一投射电容感应装置的示意图。图6为本专利技术实施例一触控装置的触控板的透视示意图。图7为图6的触控装置适用于多点触控的示意图。图8为本专利技术实施例一触控装置的触控板的透视示意图。图9为本专利技术实施例一触控装置的触控板的透视示意图。图10为本专利技术实施例一触控装置的触控板的透视示意图。主要元件符号说明10、60、80、90、110触控装置PAD_1 PAD_n、PAD_x触控板100逻辑单元200第一基板202第二基板WRV_1 WRV_s、WRH_1 WRH_t、Al A6、 检测线BI B6、Cl C6、Dl D6、AXl AX4、BXl BX4、AYl AY3、BYl BY3、CYl CY3、AZl AZ6、BZ1 BZ6204、206检测单元DUV、DUH感应单元50投射电容感应装置Xl Xm、Yl Yn感应电容串行具体实施例方式请参考图1，图I为本专利技术实施例一触控装置10的示意图。触控装置10不仅可检测二维方向的触控情形，同时可检测垂直方向的触控情形。触控装置10主要由触控板PAD_1 PAD_n及一逻辑单元100所组成。触控板PAD_1 PAD_n以粘合、贴合等方式重叠设置，且每一触控板可感应物体触控情形，并据以产生触控结果。逻辑单元100则根据触控板PAD_1 PAD_n所产生的触控结果，判断触控事件的内容，更精确来说，触控事件的内容包含位置与强度，即三维方向的触控情形。详细来说，请参考图2及图3，图2为触控装置10中任一触控板PAD_x的示意图，图3为触控板PAD_x的俯视透视图。触控板PAD_x包含有一第一基板200、一第二基板202、检测线WRV_1 WRV_s、WRH_1 WRH_t及检测单元204、206。如图2及图3所示，检测线WRV_1 WRV_s沿垂直方向平行设置于第一基板200上，且固定间距处设有感应单元DUV，而检测线WRH_1 WRH_t则沿水平方向平行设置于第二基板202上，且固定间距处设有感应单元DUH。其中，感应单元DUV与DUH设置于相对位置，如图3所示，用以感应相同位置、的触控情形。另外，检测单元204耦接于检测线WRV_1 WRV_s，用来检测检测线WRV_1 WRV_s的电气特性变化，以输出一检测结果DET_V至逻辑单元100，而检测单元206耦接于检测线WRH_1 WRH_t，用来检测检测线WRH_1 WRH_t的电气特性变化，以输出一检测结果DET_V至逻辑单元100。因此，根据检测单元204所产生的检测结果DET_V，逻辑单元100可判断触控事件发生的垂直位置，而根据检测单元206所产生的检测结果DET_H，逻辑单元100则可判断触控事件发生的水平位置。举例来说，请参考图4，图4为任一触控板PAD_x检测触控事件的示意图。如图所示，如果一手指触压检测线WRV_1与WRH_2的交点，则检测单元204所输出的检测结果DET_V会指示检测线WRV_1上有电气信号变化，同理，检测单元206所输出的检测结果DET_H会指示检测线WRH_2上有电气信号变化。因此，逻辑单元100可判断触控事件发生于(2，I)的位置。更进一步地，检测单元204、206所输出的检测结果DET_V、DET_H可包含电气信号强度，例如当手指较靠近时，信号较强，当手指较远时，信号较弱。如此一来，逻辑单元100除了可判断触控事件的位置，另可判断触控事件的强度，亦即三维方向的触控情形。因此，通过将触控板PAD_1 PAD_n重叠，触控装置10可检测出三维方向的触控情形，藉此可提升操作变化性。需注意的是，本专利技术的主要精神在于将触控板PAD_1 ？八0_11重叠设置，藉此检测出三维方向的触控情形，凡依此所做的各种变化皆属本专利技术的范围。举例来说，在图2中，第一基板200及第二基板202虽分开绘示，但两者可为一双层或多层电路板中的两布线层。另外,触控板PAD_1 PAD_n的材质亦未有所限，如果采用透明材质，则可用于触控显示装置中，也就是说，以图2为例，即第一基板200、第二基板202、检测线WRV_1 WRV_s、WRH_1 WRH_t皆采用透明材质。除此之外，触控板PAD_1 PAD_n所检测的电气特性变化可以是电荷量变化或任何可反映触控情形的电气信号。再者，如果适当调整逻辑单元100的运作方式，本专利技术的触控装置10可进一步应用于三维的多点触控操作中，如此，可再增加操作的变化性。需注意的是，在触控装置10中，触控板PAD_1 PAD_n的大小本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
2011.02.21 TW 1001056071.一种触控装置，包含有 多个重叠设置的触控板，每一触控板包含有 一基板； 多个检测线，设置于该基板上； 一检测单元，耦接于该多个检测线，用来检测该多个检测线的电气特性变化，以输出一检测结果；以及 一逻辑单元，耦接于该多个触控板，用来根据该每一触控板所产生的该检测结果，判断至少一触控事件的内容； 其中，该多个触控板所包含的该多个检测线设置于该基板的方式为相异。2.如权利要求I所述的触控装置，其中该每一触控板的...
【专利技术属性】
技术研发人员：吴通明，
申请(专利权)人：纬创资通股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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