【技术实现步骤摘要】
本专利技术是一种结构简单的光学三维测量装置，主要用于微小非球面加工的在位测量。
技术介绍
采用非球面光学系统，可消除球差、慧差、像散、场曲，減少光能损失，从而获得高质量的图像效果和高品质的光学特性，可广泛应用于各种现代光电子产品、图像处理产品如数码相机、VCD、DVD、电脑、CCD摄像镜头、大屏幕投影电视机及军事、天文和医疗等行业。在非球面光学元件的加工和实验中，对其表面面形的精确测量是至关重要的；从某种意义上说，没有与加工精度相适应的高精度检测方法及仪器，非球面的精密和超精密加工就难以实现。近些年来，人们提出了许多非球面測量技术和装置，但这些技术和装置都存在着或实现条件苛刻、或速度慢、或精度低、或通用性差、或成本过高等缺点，因此迫切需要开发新的简单实用而且操作方便的技术装置来克服以上所述的不足。在先技术之一(參见“Stylusprofiling at high resolution and low force高分辨率、低接触压カ的探针轮廓测量技木”，J. F. Song and T. V. Vorburger, Appl. Opt.,30,42-50,1991...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：朱勇建，胡汉民，潘卫清，耿德英，丁家伟，孙健，
申请(专利权)人：丹阳市民杰光学仪器有限公司，
类型：发明
国别省市：
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