一种测量不同温度下光缆伸缩率的方法，该方法是这样的：对每种已明确使用温度范围的光缆取3根或3根以上约10000mm长的样品，然后分别将每根样品盘绕在光缆盘具的直径1m左右的筒体上，两端成自然状态向下弯曲，再将光缆盘具放入恒温试验箱，根据光缆的使用温度范围的低温值和高温值分别作低温和高温的24小时试验；再对试验后的样品分别在15分钟内完成长度测量；根据每个样品的试验前的长度以及低温和高温试验后的长度计算出其不同温度下的伸缩率，将所有样品的伸缩率的算术平均值作为样品的伸缩率。本发明专利技术可以准确地测量在不同温度下光缆的伸缩率，从而根据不同使用环境的温度需求设计和制造出适用的光缆。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种光缆性能的测试方法，尤其是。
技术介绍
温度性能是光缆的一项重要指标，目前在光缆制造行业中只有通过温度循环试验验证光缆的温度性能，却不能精确测量光缆在不同温度下的伸缩率，导致光缆缺乏伸缩率的监控指标。这使光缆在使用中容易引发事故，如架空光缆可能因伸缩率过大使光缆负载变化大，导致光缆中的光纤因余量不够而造成在接头盒内断纤；直埋光缆在极寒地区(如冻土层环境中)因光缆的线性膨胀系数与周围土壤环境线性膨胀系数不匹配而导致断缆现象发生。因此，提供，准确地测量在不同温度下光缆的伸缩率，可以根据不同使用环境需求设计出匹配线性膨胀系数的光缆。在制造光缆时也可以严格控制光缆材料的选择，改善光缆制造工艺和结构，制成适应不同使用环境的光缆，延长使用寿命。
技术实现思路
为了测量光缆在不同温度下的伸缩率，本专利技术提供，通过这种方法可以准确地测量在不同温度下光缆的伸缩率。本专利技术提供的，该方法是这样的对每种已明确使用温度范围的光缆取3根或3根以上约IOOOOmm长的光缆样品，每根样品端面中各部分的长度偏差不超过5mm，测量长度以套管为基准；然后分别对每根样品进行这样相同的操作，将样品盘绕在光缆盘具的直径Im左右的筒体上，且两端成自然状态向下弯曲，以减少约束力，使整个光缆在不同温度环境下能自然伸缩，再将光缆盘具放入恒温试验箱，分别根据光缆的使用温度范围的低温值和高温值作低温的24小时试验和高温的24小时试验，再对低温试验后和高温试验后的样品分别作长度测量，测量时从恒温试验箱内取出样品到测量结束在15分钟内完成；根据每个样品的试验前的长度以及低温试验后的长度、高温试验后的长度计算出其不同温度下的伸缩率，取所有样品的伸缩率的算术平均值作为光缆样品的伸缩率的测量结果。本专利技术的有益效果是可以准确地测量在不同温度下光缆的伸缩率，从而根据不同使用环境需求设计出匹配线性膨胀系数的光缆。在制造光缆时也可以严格控制光缆材料的选择，改善光缆制造工艺和结构，制成适应不同使用环境的光缆，避免光缆在使用中发生断纤或断缆事故，延长使用寿命。 具体实施例方式下面以对型号为GYTA531+6-2. 0的光缆的不同温度下的伸缩率的测量为例对本专利技术作进一步的说明。光缆使用的温度范围为_40°C +60°C，则测量温度定为低温Ta = -400C，高温Tb= +60°C。取3根光缆样品，样品端面中各部分的长度偏差不超过5mm，测量长度以套管为基准；然后分别对每根样品进行这样相同的操作，将样品盘绕在光缆盘具的直径Im左右的筒体上，且两端成自然状态向下弯曲，以减少约束力，使整个光缆在不同温度环境下能自然伸缩，再将光缆盘具放入恒温试验箱，分别根据光缆的使用温度范围的低温值_40°C和高温值+60 °C作低温的24小时试验和高温的24小时试验，再对低温试验后和高温试验后的样品分别作长度测量，测量时从恒温试验箱内取出样品到测量结束在15分钟内完成；根据每个样品的试验前的长度以及低温试验后的长度、高温试验后的长度计算出其不同温度下的伸缩率，取3个样品的伸缩率的算术平均值作为光缆样品的伸缩率的测量结果。具体数据详见下表权利要求1.，其特征在于该方法是这样的对每种已明确使用温度范围的光缆取3根或3根以上约IOOOOmm长的光缆样品，每根样品端面中各部分的长度偏差不超过5mm，测量长度以套管为基准；然后分别对每根样品进行这样相同的操作，将样品盘绕在光缆盘具的直径Im左右的筒体上，且两端成自然状态向下弯曲，以减少约束力，使整个光缆在不同温度环境下能自然伸缩，再将光缆盘具放入恒温试验箱，分别根据光缆的使用温度范围的低温值和高温值作低温的24小时试验和高温的24小时试验，再对低温试验后和高温试验后的样品分别作长度测量，测量时从恒温试验箱内取出样品到测量结束在15分钟内完成；根据每个样品的试验前的长度以及低温试验后的长度、高温试验后的长度计算出其不同温度下的伸缩率，取所有样品的伸缩率的算术平均值作为光缆样品的伸缩率的测量结果。全文摘要，该方法是这样的对每种已明确使用温度范围的光缆取3根或3根以上约10000mm长的样品，然后分别将每根样品盘绕在光缆盘具的直径1m左右的筒体上，两端成自然状态向下弯曲，再将光缆盘具放入恒温试验箱，根据光缆的使用温度范围的低温值和高温值分别作低温和高温的24小时试验；再对试验后的样品分别在15分钟内完成长度测量；根据每个样品的试验前的长度以及低温和高温试验后的长度计算出其不同温度下的伸缩率，将所有样品的伸缩率的算术平均值作为样品的伸缩率。本专利技术可以准确地测量在不同温度下光缆的伸缩率，从而根据不同使用环境的温度需求设计和制造出适用的光缆。文档编号G01N3/18GK102628778SQ201110036699公开日2012年8月8日 申请日期2011年2月3日 优先权日2011年2月3日专利技术者吴金华, 周春东, 孙国华, 孙国芳, 孙春权, 沈新华, 王英明, 钱建林, 钱建荣, 韦冬, 顾利国 申请人:江苏亨通光电股份有限公司本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：钱建林，沈新华，王英明，周春东，韦冬，钱建荣，孙国芳，吴金华，顾利国，孙国华，孙春权，
申请(专利权)人：江苏亨通光电股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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