带电粒子束能量的光学测量方法技术

本发明专利技术涉及一种带电粒子束能量的光学测量方法，包括以下步骤：带电的粒子束经过准直后进入填充有气体闪烁体的密封的闪烁发光腔体中，使得气体闪烁体发光，用设置在闪烁发光腔体上的至少一个成像组件记录粒子束在发光的气体闪烁体中的空间分布图像信息；对所记录的信息进行后处理，获得入射粒子束的能量信息。本发明专利技术解决了现有的带电粒子束能量测量方法结构复杂、使用时受辐射场强度限制等技术问题，能同时应用于稳态和脉冲辐射场，具有测量直观、能量分辨好、适用于多种带电粒子束能量测量、量程范围宽且简单方便可调的优点。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种粒子束能谱的光学测量方 法。
技术介绍
能谱是表征辐射场特性的主要参数指标，是核物理研究、核技术应用时不可或缺的重要参数。入射粒子能量决定了核反应的过程和性质、截面、反应出射道等，因此核物理研究中需要知道粒子数目随能量的变化即粒子能谱。在离子治疗中为准确计算受照区域的剂量，也需要准确的知道入射离子的能量及其沉积分布的信息。例如在质子(重离子)治疗癌症案例中，质子的辐射剂量当量在10. OkeV I. OMeV能量区间变化非常陡，该区间内的质子剂量当量转换因子最大值是最小值的40多倍。又如在聚变能研究中，D-T聚变能谱分布指示了许多的聚变反应信息14. IMeV初级中子能谱的多普勒展宽反应了聚变区燃料的温度，三次中子(大于20. OMeV)与向下散射中子(6. OMeV-IO. OMeV)产额与初级中子产额的比值反映了 D-T聚变区燃料面密度信息。测量单个粒子或者单能粒子束能量是辐射场能谱测量的基础。在核物理与辐射探测领域，测量粒子能量常见的方法是将粒子部分或全部的能量沉积在探测器灵敏体积内，测量与所沉积能量对应的电信号或光信号来获得入射粒子能量信息，常见的谱仪可分本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：欧阳晓平，刘金良，张忠兵，陈亮，韩长才，
申请(专利权)人：西北核技术研究所，
类型：发明
国别省市：