记忆卡检测分类设备制造技术

技术编号:7622871 阅读:544 留言:0更新日期:2012-07-31 08:30
一种记忆卡检测分类设备,包括一待测预备模块、一检测模块、一分类模块、一良品收取模块、一空盘预备模块、一不良品汇整模块、一不良品收取模块、以及一良品暂存模块;上述各模块以特定的排列组构于一机台上,该特定之排列组合使得检测和分类步骤得以一贯化的循序进行,提升检测效率,且分类更为精确。(*该技术在2021年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术系关于记忆卡检测分类机,更详而言之,系一种利用各模块之时序搭配作动,以一贯化作业自动执行记忆卡检测及分类作业之设备。
技术介绍
以半导体制程所制做之记忆卡需进行检测及分类,将符合产品标准的良品与不符合产品标准的次级品或不良品分开排列收置。在以往,测试作业系仰赖人工将待测记忆卡插置于测试台上进行电性检测之后,再以人工依测试结果,将记忆卡依等级分类收置。然而,人工进行检测及分类,已面临了效能低,准确率低的问题。为解决上述问题,厂商研发全自动检测分类设备,其系将待测记忆卡整列于一料盘上,再以取放装置将料盘上的复数个记忆卡取出,将其输送至检测位置进行检测,完测之后,再以取放装置将记忆卡从检测位置取出,并依测试结果将记忆卡输送至良品匣或不良品匣。近期另有整盘式记忆卡检测设备,系将待测记忆卡整列于一料盘上,将该料盘输送至检测位置进行检测,完测之后,依检测结果将记忆卡从该料盘上取出分配于良品匣或不良品匣。
技术实现思路
依据
技术介绍
一栏所描述的,本技术创作人认为整盘式检测其经济效益显然是较佳的,因此研发一新颖的记忆卡整盘式检测分类设备。本技术之目的系在提供一记忆卡检测分类设备。为了实现目的,采用技术方案如下一种记忆卡检测分类设备,包含一机台;该机台上设有一待测预备模块、一检测模块、一分类模块、一良品收取模块、一空盘预备模块、一不良品汇整模块、一不良品收取模块、以及一良品暂存模块;其特征在于,所述的待测预备模块、检测模块、分类模块、良品收取模块构成一第一序列行程;所述的空盘预备模块、不良品汇整模块以及不良品收取模块构成一第二序列行该不良品汇整模块位于该分类模块的第一邻侧;该良品暂存模块位于该分类模块的第二邻侧;—第一输送装置,设于上述第一序列行程上;一第二输送装置,设于上述第二序列行程上;—横移机构,连接该分类模块和该良品暂存模块;一取放机构,设于该分类模块、不良品汇整模块、和良品暂存模块之所在区域。其更包含一第一输送循序单元,由所述的的第一输送装置、待测预备模块、检测模块、分类模块所组成。其更包含一第二输送循序单元,由所述的第二输送装置、空盘预备模块、以及该不良品汇整模块所构成。其更包含一不良品拣取单元,是由所述的取放机构、分类模块、以及不良品汇整模块所构成。其更包含一不良品汇整输送单元,是由所述的第二输送装置、不良品汇整模块、以及不良品收取模块所构成。其更包含一良品拣取单元,是由所述的取放机构、分类模块、横移机构、良品暂存模块所构成。其更包含一良品汇整输送单元,是由所述的第一输送装置、分类模块、以及该良品收取模块所构成。本技术之的积极有益效果是(一 )上述各模块以特定的排列组合方式构成本技术记忆卡检测设备,该特定之排列组合使得检测和分类步骤得以一贯化的循序进行,顺利、快速、效率高、分类精确。( 二)本技术记忆卡检测设备是一次将整个料盘中的待测记忆卡同步进行检测(整盘检测),随后即依检测结果进行良品和不良品之分类拣取,可缩短检测和分类时间。(三)本技术记忆卡检测设备最终将不良品和良品分别汇整于良品匣和不良品匣,亦为整盘式输出,便于后续作业之执行。(四)上述各模块系为单站模块化装置,任一模块需维修时,可用新的模块替换之,不影响检测分类作业流程。附图说明图I为本技术平面配置图。图2为本技术执行步骤一之示意图。图3为本技术执行步骤二之示意图。图4为本技术执行步骤三之示意图。图5为本技术执行步骤四之示意图。图6为本技术执行步骤五之示意图。图7为本技术执行步骤六之示意图。图8为本技术执行步骤七之示意图。附图编号说明I-机台93-横移机构10-待测预备模块95-取放机构20-检测模块30-分类模块40-良品收取模块50-空盘预备模块60-不良品汇整模块70-不良品收取模块80-良品暂存模块91-第一输送装置92-第二输送装置具体实施方式为便于说明本技术于上述
技术实现思路
一栏中所表示的中心思想,兹以具体实施例表达。实施例中各种不同对象系按适于说明之比例、尺寸、变形量或位移量而描绘, 而非按实际组件的比例予以绘制,合先叙明。且以下的说明中,类似的组件是以相同的编号来表不。如图1,本技术记忆卡检测分类设备,包含一机台1,该机台I上设有一待测预备模块10、一检测模块20、一分类模块30、一良品收取模块40、一空盘预备模块50、一不良品汇整模块60、一不良品收取模块70、以及一良品暂存模块80。上述待测预备模块、检测模块、分类模块、良品收取模块构成第一序列行程;上述空盘预备模块、不良品汇整模块以及不良品收取模块构成第二序列行程;该不良品汇整模块60位于该分类模块30的第一邻侧,该良品暂存模块80位于该分类模块30的第二邻侧。一第一输送装置91设于上述第一序列行程上,用以输送料盘于该序列行程中位移。一第二输送装置92设于上述第二序列行程上,用以输送料盘于该序列行程中位移。一横移机构93,设于该分类模块30和该良品暂存模块80之所在位置,用以将该分类模块30 上的料盘移至该良品暂存模块80暂置。一取放机构95,设于该分类模块30、不良品汇整模块60、和良品暂存模块80之所在位置上,该取放机构95依据检测模块20的检测结果,从该分类模块30的料盘上,将不良品挑取出并移送至该不良品汇整模块60的料盘上,并将该良品暂存模块80之料盘中的良品挑取出并移送至该分类模块30的料盘上。在本技术实施例中,该待测预备模块10上定置堆栈有复数个料盘,每一料盘中以矩阵排列方式盛装多数个待测之记忆卡。空盘预备模块50则备有至少一空的料盘, 藉由该第二输送装置92将该空的料盘51移送至该不良品汇整模块60,以便接收从分类模块30挑取出来的不良品。兹以下列步骤并配合图2至图8,说明本技术之循序动作。步骤一,第一输送装置91将待测预备模块10中盛有待测料品(记忆卡)之料盘输送至该检测模块20。该第二输送装置92将一个空盘从该空盘预备模块50输送至该不良品汇整模块60。(如图2)步骤二,检测完成后,第一输送装置91将该检测模块20的料盘输送至该分类模块 30。于此同时,第一输送装置91再将待测预备模块10的一个料盘输送至该检测模块20。 (如图3)步骤三,该取放机构95依据检测模块20的检测结果,从该分类模块30的料盘上, 将不良品挑取出并移送至该不良品汇整模块60的料盘上。(如图4)步骤四,不良品挑完后,该分类模块30的料盘上只剩下良品,该横移机构93将分类模块30上的料盘拉至该良品暂存模块80暂置。该检测模块20业已完成第二个料盘之记忆卡检测。(如图5)步骤五,该第一输送装置91将第二个完成检测的料盘输送至该分类模块30。同样的,该取放机构95依据检测模块20的检测结果,从该分类模块30的料盘上,将不良品挑取出并移送至该不良品汇整模块60的料盘上,并将该良品暂存模块80之料盘上的良品挑取出并移送至该分类模块30的料盘上。(如图6)步骤六,该分类模块30的料盘填满了良品后,该第一输送装置91将该料盘输送至该良品收取模块40堆栈。该不良品汇整模块60的料盘填满了不良品后,该第二输送装置 92将之输送至该不良品收取模块70堆栈。于此同时,一个完成检测的料盘再从该检测模块20输送本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:姚圳杰黄耿彻
申请(专利权)人:益明精密科技有限公司
类型:实用新型
国别省市:

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