轴承高度验具制造技术

技术编号:7524340 阅读:135 留言:0更新日期:2012-07-12 05:13
本实用新型专利技术属于验具领域,具体的说应用于检验轴承高度的尺寸公差。轴承高度验具,主要由测量基准套、开口铜销、千分表、表固定架以及平板构成;其特征在于:所述的千分表外设有开口铜套,所述的表固定架与平板连接。与现有常规量具相比,本实用新型专利技术的有益效果是:精度高、耐磨;能方便、准确、快速、直观地检测零件的高度尺寸公差,解决了使用常规量具无法测量的问题。(*该技术在2021年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

轴承高度验具
本技术属于验具领域,具体的说应用于检验轴承高度的尺寸公差。技术背景目前对轴承高度尺寸公差的检测,常使用卡尺、千分尺等常规验具测量,存在不好操作、测量数据不准以及误差大等问题。因此需要设计轴承高度验具。
技术实现思路
本技术旨在克服现有技术缺陷,提供一种轴承高度验具。轴承高度验具,主要由测量基准套、开口铜销、千分表、表固定架以及平板构成;其特征在于所述的千分表外设有开口铜套,所述的表固定架与平板连接。与现有常规量具相比,本技术的有益效果是精度高、耐磨;能方便、准确、快速、直观地检测零件的高度尺寸公差,解决了使用常规量具无法测量的问题。附图说明图1为本技术结构示意图剖视图其中1、测量基套,2、开口铜套,3、千分表, 4、表固定架,5、螺钉,6、平板,8、待测零件,内孔11。具体实施方式参见附图1,轴承高度验具,主要由测量基准套1、开口铜销2、千分表3、表固定架4 以及平板6构成;其特征在于所述的千分表3外设有开口铜套2,所述的表固定架4与平板6连接。所述的测量基准套1设有内孔11。所述的测量基准套1高度尺寸与待测零件8的标准高度尺寸一致。所述的千分表3通过螺钉5与开口铜本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:吴全党
申请(专利权)人:天津欧波精密仪器股份有限公司
类型:实用新型
国别省市:

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