本发明专利技术提供了一种在线测试装置自动分点系统及其方法，该系统主要包括选点模块、输入模块、处理模块以及导入模块，该方法主要包括以下步骤：a.根据待测试的主板特性选择主板的所有的测试点；b.根据测试覆盖率的需求输入待测试的元件点清单、网络点清单；c.根据元件点清单及网络点清单对待测试的测试点进行测试处理，将未测试的测试点进行处理以生成未测试点信息的文档；以及d.导入生成的未测试点信息的文档，以生成未测试点信息的文档、元件点清单以及网络点清单，再进行测试处理，从而覆盖所需测试的测试点。本发明专利技术不仅节省了时间，而且不容易出现漏掉测试点或重复选择测试点进行测试的情况，利用最少的探针达到最大测试覆盖率。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种自动分点系统及其方法，尤其涉及一种。
技术介绍
目前市面上的在线测试装置(In Circuit Test, ICT)只能对主板上的7168个测试点进行测试，而目前已经有部分主板需测试的测试点已经超过此数目，因此，需要用到2台ICT装置来进行主板的测试，但用2台ICT装置测试时通过选点软件(例如Febmaster软件)去选择测试点，则容易对已进行测试的测试点重复选择或对某些未进行测试的测试点遗漏，不仅耗时，而且容易出现漏掉测试点或重复选择测试点进行测试的情况。
技术实现思路
鉴于上述问题，本专利技术提供了一种。为了达到上述目的，本专利技术采用了如下的技术方案一种，其主要对待测试的主板进行测试点的测试，其中，该系统主要包括选点模块、输入模块、处理模块以及导入模块。其中，所述选点模块根据待测试的主板特性选择主板的所有的测试点；所述输入模块根据测试覆盖率的需求输入待测试的元件点清单、网络点清单；所述处理模块根据元件点清单及网络点清单对待测试的测试点进行测试处理，将未测试的测试点进行处理以生成未测试点信息的文档；所述导入模块，将生成的未测试点信息的文档导入选点模块，以生成未测试点信息的文档、元件点清单以及网络点清单，再进行测试处理，从而覆盖所需测试的测试点。较佳的，本专利技术提供了一种在线测试装置自动分点系统，其中，所述处理模块主要包括测试单元及生成单元，所述测试单元用以根据元件点清单及网络点清单对待测试的测试点进行测试处理，所述生成单元用以对未测试的测试点进行处理以生成未测试点信息的文档。又，本专利技术提供了一种在线测试装置自动分点方法，其主要对待测试的主板的测试点进行测试，其中，该方法主要包括以下步骤a.根据待测试的主板特性选择主板的所有的测试点；b.根据测试覆盖率的需求输入待测试的元件点清单、网络点清单；c.根据元件点清单及网络点清单对待测试的测试点进行测试处理，将未测试的测试点进行处理以生成未测试点信息的文档；以及d.导入生成的未测试点信息的文档，以生成未测试点信息的文档、元件点清单以及网络点清单，再进行测试处理，从而覆盖所需测试的测试点相较于先前技术，本专利技术提供了一种，不仅节省了时间，而且不容易出现漏掉测试点或重复选择测试点进行测试的情况，利用最少的探针达到最大测试覆盖率。附图说明图1为本专利技术的模块示意2为本专利技术的流程示意图具体实施例方式请参考图1及图2所示，本专利技术提供了一种，其主要对待测试的主板进行测试点的测试。其中，所述在线测试装置自动分点系统主要包括选点模块101、输入模块102、处理模块103以及导入模块104。所述选点模块101根据待测试的主板特性选择主板的所有的测试点；所述输入模块102根据测试覆盖率的需求输入待测试的元件点清单、网络点清单；所述处理模块103根据元件点清单及网络点清单对待测试的测试点进行测试处理，将未测试的测试点进行处理以生成未测试点信息的文档，于本实施例中，该处理模块103包括测试单元1031及生成单元1032，所述测试单元1031用以根据元件点清单及网络点清单对待测试的测试点进行测试处理，所述生成单元1032用以对未测试的测试点进行处理以生成未测试点信息的文档；所述导入模块104，将生成的未测试点信息的文档导入选点模块101，以生成未测试点信息的文档、元件点清单以及网络点清单，再进行测试处理，从而覆盖所需测试的测试点。又，再请参考图2所示，本专利技术提供了一种在线测试装置自动分点方法，其主要对待测试的主板的测试点进行测试，其中，该方法主要包括以下步骤步骤201.根据待测试的主板特性选择主板的所有的测试点；步骤202.根据测试覆盖率的需求输入待测试的元件点清单、网络点清单；步骤203.根据元件点清单及网络点清单对待测试的测试点进行测试处理，将未测试的测试点进行处理以生成未测试点信息的文档；以及步骤204.导入生成的未测试点信息的文档，以生成未测试点信息的文档、元件点清单以及网络点清单，再进行测试处理，从而覆盖所需测试的测试点相较于先前技术，本专利技术提供了一种，不仅节省了时间，而且不容易出现漏掉测试点或重复选择测试点进行测试的情况，利用最少的探针达到最大测试覆盖率。权利要求1.一种在线测试装置自动分点系统，其主要对待测试的主板进行测试点的测试，其特征在于，该系统主要包括选点模块，根据待测试的主板特性选择主板的所有的测试点；输入模块，根据测试覆盖率的需求输入待测试的元件点清单、网络点清单；处理模块，根据元件点清单及网络点清单对待测试的测试点进行测试处理，将未测试的测试点进行处理以生成未测试点信息的文档；以及导入模块，将生成的未测试点信息的文档导入选点模块，以生成未测试点信息的文档、元件点清单以及网络点清单，再进行测试处理，从而覆盖所需测试的测试点。2.根据权利要求1所述的在线测试装置自动分点系统，其特征在于，所述处理模块主要包括测试单元及生成单元，所述测试单元用以根据元件点清单及网络点清单对待测试的测试点进行测试处理，所述生成单元用以对未测试的测试点进行处理以生成未测试点信息的文档。3.—种在线测试装置自动分点方法，其主要对待测试的主板的测试点进行测试，其特征在于，该方法主要包括以下步骤a.根据待测试的主板特性选择主板的所有的测试点；b.根据测试覆盖率的需求输入待测试的元件点清单、网络点清单；c.根据元件点清单及网络点清单对待测试的测试点进行测试处理，将未测试的测试点进行处理以生成未测试点信息的文档；以及d.导入生成的未测试点信息的文档，以生成未测试点信息的文档、元件点清单以及网络点清单，再进行测试处理，从而覆盖所需测试的测试点。全文摘要本专利技术提供了一种，该系统主要包括选点模块、输入模块、处理模块以及导入模块，该方法主要包括以下步骤a.根据待测试的主板特性选择主板的所有的测试点；b.根据测试覆盖率的需求输入待测试的元件点清单、网络点清单；c.根据元件点清单及网络点清单对待测试的测试点进行测试处理，将未测试的测试点进行处理以生成未测试点信息的文档；以及d.导入生成的未测试点信息的文档，以生成未测试点信息的文档、元件点清单以及网络点清单，再进行测试处理，从而覆盖所需测试的测试点。本专利技术不仅节省了时间，而且不容易出现漏掉测试点或重复选择测试点进行测试的情况，利用最少的探针达到最大测试覆盖率。文档编号G06F11/22GK102567152SQ20101060643公开日2012年7月11日 申请日期2010年12月27日 优先权日2010年12月27日专利技术者涂辉 申请人:佛山市顺德区顺达电脑厂有限公司本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：涂辉，
申请(专利权)人：佛山市顺德区顺达电脑厂有限公司，
类型：发明
国别省市：
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