本发明专利技术提供了一种三个灰度对称线性编码周期的采样点三维信息获取方法，步骤为:选择编码周期，制备9幅由3个编码周期不同的灰度线性对称相移光栅；将光栅投射到被测物体表面，利用条纹图像获取装置，获得9幅条纹图像；计算得到采样点在此编码周期内对应于编码图案的相对编码点，得到采样点在该频率内的余数方程，联立余数方程，得到采样点在3个不同编码周期内的同余方程组，采用大衍求一术确定同余方程组的乘率，进而得到方程组的解；确定采样点的投影角，根据三角原理确定采样点的三维信息。本发明专利技术方法克服了传统双频相移三维测量中，误差大，测量范围受限，误差累计及传递的缺点。该方法是一种具有非接触，高采样密度，高精度的三维测量技术。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及计算机采样技术，具体涉及一种三维非接触高精度、无误差传递的三维测量技术、三维信息获取与重建方法。
技术介绍
数量众多的光学非接触三维信息获取技术被广泛的应用于现代工农业生产过程中，其中结构光技术由于其主动测量原理，采样密度可调，测量精度高等优点被广泛应用于逆向工程、考古、医学、服饰、人体测量等需要恢复物体的三维形状的领域中。结构光技术是利用普通或者激光作为光源，将已知的图案投射到被测物的表面，根据通过成像装置从另一角度获取的图像，利用三角原理获得采样点的三维信息。结构光技术根据投影图案的不同可以分为单点结构光、单线结构光、多线结构光和编码结构光等。其中单点和单线结构光由于其需要高精度的扫面机械及高精度的定位装置，已经不能引起广大研究者的兴趣。多线结构光由于使用时必须确定条纹对应的问题，也不适用于实际测量中。但编码结构光由于其条纹次序明确，不需考虑其他几何约束的优点已经成为目前该领域的研究热点。编码结构光技术向被测物投射编码图案，测量速度由于不需扫描装置而被大大提高了。在通过预先标定明确系统结构参数的条件下，确定被测物采样点并将其与条纹图像、编码图案对应起来，是编码结构光目前主要的研究问题。编码结构光根据编码方法可分为时间编码、空间编码和直接编码、三者各具优点。 相对于空间编码和直接编码，时间编码具有容易识别、准确度高等优点而具有广阔的应用前景。时间编码又可分为数字编码和连续编码两种技术，连续编码方法具有测量空间编码连续的优点，抗干扰能力强的优点，已经被越来越多研究者所重视。目前连续编码方法主要分为正弦相移编码法和强度比编码法。正弦相移编码法具有采样密度高，在单独一个周期内，相位值连续且唯一，但是在多周编码中存在着周期数判定不准确，容易产生多义性，且该技术涉及大量的正切及反正切计算，计算量大，这些缺点限制了该技术的应用范围。强度比法恰恰弥补了正弦相移法计算量大的缺点。该技术利用线性变化光照下每一像素值与持续光照下像素值的比率，即强度比，替代正弦相位法中的相位值，具有速度快，计算量小的优点，但该技术不可避免的存在着解包裹时，采样点不唯一的问题。大衍求一术被引入到连续正弦编码结构光解码中，目前编码方法采用两个编码频率对被测物进行采样，解码时除了求解同余方程外，还需要查询事先标定好的误差表进行修正，这类技术的采样精度没有明显的提高。三周期正弦编码法也被用来进行正弦相移的解包裹算法，但是该方法不可避免正弦相移方法中计算量大，且投射编码图案众多的问题。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种提高相移编码结构光测量范围，减小测量误差，提高测量精度，克服被测物表面反射率不一致和环境光对测量影响的。本专利技术的目的通过以下的步骤实现(1)选择编码周期，制作编码图案。根据投射源及测量范围确定三个不同的编码周期。 编码图案是由投射源投射到被测物体表面的主动信息，是由在编码图案上，按X和Y方向顺序排列的编码点的灰度级构成。根据投射源与条纹图像获取装的几何位置确定编码方向， 在另一个方向上是编码方向上编码点灰度级的重复。编码周期是指编码点的灰度级从某一个灰度级经历过灰度级最高、灰度级最低，且将此灰度级重复三次时，沿编码方向上编码点的总数。在一个周期内，灰度的编码是线性的，并且关于1/2周期点对称。为了提高编码图像的解码时抗干扰能力和测量精度，对于一个编码周期，制作三幅沿着编码方向依次仅移动1/3周期的编码图案，总计9幅编码图案。将某一个编码周期中的一幅编码图案经由投射源投影到被测物体表面，平面的编码图案受到被测物体表面三维信息的调制，产生变形，利用条纹图像获取装置，获取包含有被测物体及变形编码图案的条纹图像。将其他2幅根据同一个编码周期，但沿编码方向依次移动1/3周期的编码图案经由投射源投射到被测物体表面，获取条纹图像。再将其他2 个编码周期的共计6幅编码图案依次投射到被测物体表面，获取不同编码图案经由被测物体表面改变的6幅条纹图像。对同一个编码周期的3幅条纹图像同一个采样点的灰度数据进行处理，计算得到采样点在此编码周期内对应于编码图案的相对编码点，得到采样点在该周期内的余数方程。针对同一采样点在其余2个不同编码周期的其余6幅条纹图像进行相同处理，总计得到 3个余数方程，联立得到采样点对应绝对编码点的同余方程，采用大衍求一术确定同余方程的乘率，进而等到该同余方程的解，即采样点对应的绝对编码点，进而获得采样点对应的投影角度。在确定采样点的对应的投影角度后，还需根据投射源与条纹图像获取装置的几何关系和三角原理确定采样点的三维信息。本专利技术有以下技术效果1.本专利技术方法通过选择三个不同的编码周期，在保留相位编码方法对投影角连续划分的优点同时，对相位编码法的测量范围拓展了第三个编码周期倍。本专利技术方法在相同测量范围内，可以选择三种周期较小的对称灰度线性编码，这样减少了在同一幅值范围内灰度分布的点数，在同等情况下，与大周期的灰度编码相比，灰度分布的减少更加明显，出现误差的可能性大为降低。本专利技术方法需要投射9幅编码图案，有效地减少了投射图案的数量，提高了三维信息获取的速度。本专利技术方法对同一个编码周期，投射三幅移动1/3周期的编码图案，可以提高抗干扰能力，同时减少了环境光照和被测物表面反射系数不一致对三维信息获取结果的影响。本专利技术方法采用编码点作为确定投影角的中间变量，可以减少计算量，进一步提高了三维信息获取的速度。本专利技术方法在解码时通过第三个编码周期的引入，扩大了绝对编码点的表示范围，与两个编码周期的相位方法相比将投影角进一步细分了。本专利技术方法在解码时，不依靠条纹图像中采样点对应像点周围的像素点的数据， 仅仅依靠本身的灰度信息，从原理上截断了误差传递的可能，避免了累计大误差的出现。本专利技术提出的三个编码周期对称线性灰度编码解码技术即可解决投影角连续划分的问题，又可以提高测量准确度和采样密度。附图说明图1为基于三个灰度对称线性编码周期的采样点三维信息获取技术的实施流程框图2为对称线性灰度编码排列序号； 图3为对称线性灰度编码的三个编码周期灰度示意图； 图4为三个编码周期对称线性灰度编码投射图案； 图5为解码后对应三个周期的相对编码点； 图6为求解同于方程后确定的绝对编码点。具体实施例方式下面结合附图对本专利技术作进一步的说明本专利技术方法在实施中需要投射源，条纹图像获取装置和用于控制及计算的计算机。用来测量被测物表面被采样点的三维信息。其中被采样点的三维信息包括，在以投射源投射光学系统光学中心为原点，以原点与条纹图像获取装置照相光学系统光学中心连线方向为 X轴方向，以投射源投射光学系统的光轴方向为Z轴方向的左手空间坐标系(世界坐标系) 中，被采样点距离三个坐标轴的距离x，y，z，或者根据(x，y，z)及必要的空间解析几何计算方法，可以获取的诸如被采样点处得法向量、曲率或结合其他被采样点可以计算的被测物表面的诸如弯曲、倾斜、扭曲、翘曲之类的信息。图1是基于三个灰度对称线性编码周期的采样点三维信息获取技术的实施流程框图。在使用前需要对测量系统包括的投射器、条纹图像获取装置和两者之间的距离进行标定，本领域的技术人员不难理解这一步骤是利用三角法进行三维信息获取的必要步骤。按3个编码周期生成对称灰度线性编码，每个编码周期各生成沿编码方向移动 1/3周本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：王洋，于晓洋，于双，吴海滨，于舒春，陈德运，
申请(专利权)人：哈尔滨理工大学，
类型：发明
国别省市：
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