一种提高侧发光背光源亮度的系统及方法技术方案

本发明专利技术涉及一种提高侧发光背光源亮度的系统和方法，用于降低背光源研发的成本，提高生产设计的背光源的亮度。所述系统包括中央处理器、亮度测算模块、材料数据库、参数控制单元、参数调整单元和储存单元。中央处理器分别与亮度测算模块、材料数据库、参数控制单元、参数调整单元、储存单元通信连接。所述系统采用上述结构使得背光源研发时间缩短、降低成本、自动完成研发方案的优化，提高了研发方案的质量。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及显示领域，更确切的说涉及一种提高液晶显示器侧发光背光源亮度的系统及方法。
技术介绍
平板液晶显示器(IXD)已经成为市场主流显示器件，然而由于液晶本身不具备发光性，需要附加背光源才能完成显示，背光源的性能好坏直接决定了平板液晶显示器的亮度、颜色、功耗、画质等各项指标。而当前在便携式显示领域，大多数以侧入发光背光源为主。随着平板电脑的兴起，市场对于液晶显示模组提出了高解析度，高亮，超薄的更高需求，与此同时背光源作为影响平板显示的关键组件，对于背光源的更高亮度需要，背光源本身由多层复合材料组成，每一材料的特性都会影响亮度，若对每一种材料的组合、参数都进行设计生产再测试效果必然会对研发生产带来大量的资源浪费同时造成开发时间的延长，并且难以获得高亮度的背光源生产设计方案。
技术实现思路
本方明的主要目的在于提供，降低背光源研发的成本，提高生产设计的背光源的亮度。本专利技术这样解决上述的问题构造一种提高侧发光背光源亮度的系统，包括中央处理器，用于调用系统各组件单元；亮度测算模块，用于测算设计方案的最终背光源亮度； 材料数据库，用于储存背光源组成材料的各种参数资料，包括反射膜、扩散膜、增光膜、导光板、LED光源等；参数控制单元，用于设计者在设计方案时，对于生产材料方案的控制；参数调整单元，用于对设计方案的参数进行调整。系统还包括储存单元，用于保存系统设计的生产方案。中央处理器与参数控制单元、参数调整单元、亮度测算模块、材料数据库通信连接。本专利技术还涉及一种提高侧发光背光源亮度的方法，适用于上述提高侧发光背光源亮度的系统，该方法包括以下的步骤参数控制单元将研发方案中的材料参数以及预期要求亮度发送至中央处理器，即把研发的初始方案信息发送至中央处理器，这些信息包括发光区长边和短边的长度、LED组装间隙、LED数量和单个LED亮度、导光板厚度、LED额定条件、LED亮度公差；中央处理器从材料数据库中匹配项对应的材料光学参数，并将相关的参数发送至亮度测算模块进行亮度计算，这些材料光学参数包括导光板材料透光率、下扩散膜透光率、上增光膜的增益系数、下增光膜的增益系数、上扩散膜透光率、反射膜的反射率、 LED使用条件。亮度测算模块对亮度的测算是这样实现的通过参数控制单元与材料数据库的， 获得如下表所示的参数条件参数控制单元材料数据库发光区长边L导光板透光率T3发光区短达W下扩散膜透光率T2LED组装间隙K1上增光膜增益系数RC2LED亮度Iv下增光膜增益系数RciLED数量Qled上扩散膜透光率T1导光板厚度d反射膜反射率RLED额定条件IFLED使用条件ItLED亮度公差T背光源的组成自下而上分别为反射膜、LED光源、导光板、下扩散膜、下增光膜、上增光膜、上扩散膜，LED光源与导光板间存在组装间隙。不同膜层的材料、厚度都会对整个背光源的整体发光亮度产生影响，根据光线光学原理，背光源的正面亮度理论值Ln为Ln= (LXW)+IO6X KIledXIvX (I-T)] X (It+ IF) X 12. 566+31在实际的设计开发中，膜层间的材质特性和使用的电流不同，会影响正面的亮度， 标准亮度Ln。在考虑膜层间的材质特性和使用的电流的条件下的数值为Lnc= -(0· 5-d)+dX840亮度测算模块测算出实际的标准亮度k。后，将测算结果及各参数发送至储存器储存，同时将测算出实际的标准亮度反馈至中央处理器，中央处理器将测算结果与预期要求亮度进行比较，若测算结果符合或优于预期要求亮度则完成本次设计；若测算结果劣于预期要求亮度，中央处理器激活参数调整单元，对研发方案的参数进行调整；中央处理器将参数调整单元调整后的参数发送至亮度测算模块进行亮度重新测算；中央处理器重复激活参数调整单元及亮度测算模块直到测算结果的亮度优于或符合预期要求亮度。本专利技术采用上述的技术方案带来以下的有益效果使用量度测算，对于研发的方案进行预算，使得研发过程的整体时间缩短并且降低了研发的成本，同时对于研发的产品效果得到预先控制，同时通过参数调整，自动完成研发方案的优化，提高了研发方案的质量。附图说明以下通过附图对本专利技术进行说明。图1为背光源模组结构示意图。图2为本专利技术系统结构关系示意图。图3为本专利技术较佳实施例的系统结构图。图4为本专利技术的方法流程图。图5为本专利技术较佳实施例的方法流程图各组件标号如下中央处理器1、亮度测算模块2、材料数据库3、参数控制单元4、 参数调整单元5、储存单元6、参数测量系统7、背光源8、LED光源801、反射膜807、下扩散膜806、下增光膜805、上增光膜804、上扩散膜803、导光板802。具体实施方式以下结合附图和具体实施例对本专利技术进行详细说明。图1为本专利技术所设计的背光源模组，包括LED光源801、反射膜807、下扩散膜806、 下增光膜805、上增光膜804、上扩散膜803、导光板802。导光板802上设置有用于增加漫反射率的导光板网点。LED光源801为阵列结构，每一个LED光源801间存在间隙，整个LED 光源阵列与导光板间存在组装间隙。图2为本专利技术的系统结构图，系统包括用于调用其余各组件单元的中央处理器1、 用于测算研发方案亮度的亮度测算模块2、控制研发方案初始参数条件以及预期要求亮度的参数控制单元4、对研发方案的参数进行调整优化的参数调整单元5、用于保存各种膜层材料参数的材料数据库3、用于保存研发方案及对应方案的实际亮度效果的储存单元6。中央处理器1分别与参数控制单元4、参数调整单元5、亮度测算模块2、材料数据库3通信连接。图3为适用于图2所述系统的方法流程，参数控制单元4首先对研发方案的初始参数条件进行设置，这些参数包括背光源模组发光区长边和短边的长度、LED组装间隙、LED 数量和单个LED亮度、导光板厚度、LED额定条件、LED亮度公差等。参数控制单元4发送初始参数至中央处理器1，中央处理器1接收参数后，从材料数据库3中下载设计方案中涉及的膜层材料的光学参数，这些光学参数包括导光板材料透光率、下扩散膜透光率、上增光膜的增益系数、下增光膜的增益系数、上扩散膜透光率、反射膜的反射率、LED使用条件等。中央处理器1将所有的参数传送至亮度测算模块2，对研发方案的亮度进行测算， 测算的基础是基于图1所示的背光源模组，背光源8的组成自下而上分别为反射膜807、LED 光源801、导光板802、下扩散膜806、下增光膜804、上增光膜805、上扩散膜803，LED光源 801与导光板802间存在组装间隙。不同膜层的材料、厚度都会对整个背光源的整体发光亮度产生影响，根据光线光学原理，背光源的正面亮度理论值Ln为Ln= (LXW)+IO6X KIledXIvX (I-T)] X (It+ IF) X 12. 566+π在实际的设计开发中，膜层间的材质特性和使用的电流不同，会影响正面的亮度， 标准亮度b。在考虑膜层间的材质特性和使用的电流的条件下的数值为Lnc= -(0· 5-d)+dX840亮度测算模块2测算出实际的标准亮度Ln。后，将测算结果及各参数发送至储存单元6储存，同时将测算出实际的标准亮度反馈至中央处理器1，中央处理器1将测算结果与预期要求亮度进行比较，若测算结果符合或优于预期要求亮度则完成本次设计；若测算结果劣于本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：闫学众，李国军，
申请(专利权)人：深圳市百得力电子有限公司，
类型：发明
国别省市：