光源亮度检测系统及方法技术方案

一种光源亮度检测方法，该方法包括步骤：设置检测参数；拍摄一张发光装置的图片，对所拍摄的发光装置的图片进行解析，以获得发光装置中每个光点的像素亮度值；根据所述检测参数及每个光点的像素亮度值检测发光装置中的每个光点，以得到发光装置的发光信息。本发明专利技术还提供一种光源亮度检测系统。利用本发明专利技术可以在测量发光装置的亮度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种影像量测系统及方法，尤其是一种光源亮度检测系统及方法。
技术介绍
采用各种电子光源(如发光二极管，LightEmittingDiode，LED)进行发光的显示屏或照明设备越来越普及。然而，采用上述电子光源的设备会出现花屏、坏点、亮度分布不均等问题。现有的光源检测系统只能简单地检测出坏点(即光源点阵的某个发光二极管亮或不亮)，并不能很好的反映出光源点阵的亮度分布情况，例如，某片区域偏亮或某片区域显示过暗等问题。
技术实现思路
鉴于以上内容，有必要提出一种光源亮度检测系统，其在测量工件时，能够快速检测发光装置，并能反映发光装置的亮度分布情况。。鉴于以上内容，还有必要提出一种光源亮度检测方法，其在测量工件时，能够快速检测发光装置，并能反映发光装置的亮度分布情况。一种光源亮度检测系统，该系统包括：设置模块，用于设置检测参数；解析模块，用于拍摄一张发光装置的图片，对所拍摄的发光装置的图片进行解析，以获得发光装置中每个光点的像素亮度值；检测模块，用于根据所述检测参数及每个光点的像素亮度值检测发光装置中的每个光点，以得到发光装置的发光信息。一种光源亮度检测方法，该方法包括步骤：设置检测参数；拍摄一张发光装置的图片，对所拍摄的发光装置的图片进行解析，以获得发光装置中每个光点的像素亮度值；根据所述检测参数及每个光点的像素亮度值检测发光装置中的每个光点，以得到发光装置的发光信息。相较于现有技术，本专利技术所提供的光源亮度检测系统及方法其在测量发光装置时，能够快速检测发光装置，并能反映发光装置的亮度分布情况。附图说明图1是本专利技术光源亮度检测系统较佳实施例的硬体架构图。图2是图1中光源亮度检测系统的功能模块图。图3是本专利技术光源亮度检测方法较佳实施例的实施流程图。图4是本专利技术所拍摄的发光装置的图片示意图。图5是本专利技术对所拍摄的发光装置的图片经过分析之后的示意图。图6是本专利技术对所拍摄的发光装置的图片经过分析之后所生成的报告的示意图。主要元件符号说明计算机1影像量测机台2CCD3镜头4发光装置5显示器6影像撷取卡10光源亮度检测系统11设置模块100解析模块102检测模块104生成模块106存储设备12处理器14如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本专利技术。具体实施方式参阅图1所示，是本专利技术光源亮度检测系统较佳实施例的硬体架构图。该光源亮度检测系统应用于计算机1。该计算机1连接有放置发光装置5的影像量测机台2。其中，所述影像量测机台2的Z轴上安装有用于采集连续影像的电荷耦合装置(ChargedCoupledDevice，CCD)3，所述CCD3通过圆筒状结构连接有镜头4，所述CCD3搭配镜头4可以对发光装置5成像。所述发光装置5可以安装于影像量测机台2的工作平台上，例如，嵌入在工作平台内部，与工作平台形成一个无缝的平面，也可以凸出地放置于工作平台。所述发光装置5为点阵式的发光体，即由多个圆形的光点(如图4所示的圆点)所组成的发光装置，例如，发光二极管(LightEmittingDiode，LED)发光体。所述发光装置5可以是影像量测机台2的一部分，也可以是独立于影像量测机台2之外的单独设备。所述计算机1装有影像撷取卡10及光源亮度检测系统11。其中CCD3通过一条影像数据线与所述影像撷取卡10相连，将从影像量测机台2获取的发光装置5的影像传送到影像撷取卡10上，并可以显示与计算机1相连接的显示器6上。所述光源亮度检测系统11控制所述镜头4，以对镜头4的倍率进行调节，并对影像撷取卡10中的发光装置5的影像进行处理，并将经过处理的发光装置5的影像在显示器6上显示出来。所述光源亮度检测系统11将会在图2及图3中做详细描述。参阅图2所示，是图1中光源亮度检测系统11的功能模块图。所述光源亮度检测系统11运行于计算机1中，该计算机1还包括存储设备12，至少一个处理器14。本专利技术所称的各模块是所述光源亮度检测系统11中完成特定功能的各个程序段，比程序本身更适合于描述软件在计算机中的执行过程，因此本专利技术对软件的描述都以模块描述。在本实施例中，所述光源亮度检测系统11以软件程序或指令的形式安装在存储设备12中，并由处理器14执行。在其他实施例中，所述存储设备12可以为计算机1外接的存储器。所述光源亮度检测系统11主要包括：设置模块100、解析模块102、检测模块104及生成模块106。所述设置模块100用于设置检测参数。所述检测参数包括像素亮度值的范围。通常，像素亮度值在0到255之间，所述像素亮度值的范围可以设置为100到200之间。若发光装置5的光点的像素亮度值位于所述像素亮度值的范围内则为合格，小于所述像素亮度值的范围则认为偏暗，大于所述像素亮度值的范围则为过亮。此外，所述设置模块100还可以将所述像素亮度值的范围分段，即划分为多个子范围，例如，分为100～120、120～140、140～160、160～180、180～200等五段，通过分段可以统计位于各个子范围区间的光点数量。所述解析模块102用于拍摄一张发光装置5的图片，对所拍摄的发光装置5的图片进行解析，以获得每个光点的像素亮度值。所述解析模块102发送指令给CCD3，控制CCD3对位于影像量测机台2的工作平台上的发光装置5进行拍摄，之后将所拍摄的图片进行解析。所述获得每个光点的像素亮度值的方式如下：将图片通过二值算法转换成二值图片(即黑白图片)，之后通过循边算法获得每个光点在图片中所占的区域，计算每个区域所拥有的像素点数量，计算每个区域内所有像素点的像素亮度值，并计算每个区域的亮度平均值(即每个区域内所有像素点的像素亮度值汇总之后的平均值)，每个区域的亮度平均值即为一个光点的像素亮度值。举例而言，计算某一个光点A在图片中所占据的区域，计算该区域内所有像素点的数量(例如，有1000个像素点)，计算该1000个像素点的像素亮度值，并计算该区域的亮度平均值(该1000个像素点的像素亮度值汇总之后的平均值)，该亮度平均值即为光点A的像素亮度值。所述检测模块104用于根据所述检测参数及每个光点的像素亮度值检测发光装置5中的每个本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光源亮度检测系统，其特征在于，该系统包括：设置模块，用于设置检测参数；解析模块，用于拍摄一张发光装置的图片，对所拍摄的发光装置的图片进行解析，以获得发光装置中每个光点的像素亮度值；及检测模块，用于根据所述检测参数及每个光点的像素亮度值检测发光装置中的每个光点，以得到发光装置的发光信息。

【技术特征摘要】
1.一种光源亮度检测系统，其特征在于，该系统包括：
设置模块，用于设置检测参数；
解析模块，用于拍摄一张发光装置的图片，对所拍摄的发光装置的
图片进行解析，以获得发光装置中每个光点的像素亮度值；及
检测模块，用于根据所述检测参数及每个光点的像素亮度值检测发
光装置中的每个光点，以得到发光装置的发光信息。
2.如权利要求1所述的光源亮度检测系统，其特征在于，该系统还包
括生成模块，用于根据所述发光装置的发光信息生成检测报告。
3.如权利要求1所述的光源亮度检测系统，其特征在于，所述获得每
个光点的像素亮度值的方式如下：
将图片通过二值算法转换成二值图片；
通过循边算法获得每个光点在图片中所占的区域；
计算每个区域所拥有的像素点数量；及
计算每个区域内所有像素点的像素亮度值，并计算每个区域的亮度
平均值，每个区域的亮度平均值即为一个光点的像素亮度值。
4.如权利要求1所述的光源亮度检测系统，其特征在于，所述检测参
数包括像素亮度值的范围，所述根据所述检测参数及每个光点的像素亮
度值检测发光装置中的每个光点的方式如下：若发光装置的光点的像素
亮度值位于所述像素亮度值的范围，则该光点检测为合格，若发光装置
的光点的像素亮度值不在所述像素亮度值的范围，则该光点检测为不合
格。
5.如权利要求4所述的光源亮度检测系统，其特征在于，所述发光装
置的发光信息包括发光装置中像素亮度值最大的光点、像素亮度值最小
的光点、所有光点的像素亮度值汇总后的平均数、光点的合格率、每个
像素亮度值所对应的光点数量及不合格光点...

【专利技术属性】
技术研发人员：张旨光，吴新元，杨路，
申请(专利权)人：富泰华工业深圳有限公司，鸿海精密工业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44