侧面遮拦式日晕光度计制造技术

本发明专利技术涉及一种侧面遮拦式日晕光度计，该光度计从左至右依次包括外挡板、外窗口、上消杂光光阑、下消杂光光阑、中部光阑、第二衰减片、孔径光阑、物镜、滤光轮和CCD相机；外挡板中部安装第一衰减片，第一衰减片、第二衰减片、孔径光阑、物镜、CCD相机位于同一轴线上；太阳直射光经第一衰减片并经第二衰减片进入光学系统成像在CCD相机像面上；天空亮度经第二衰减片成像在CCD相机像面上，通过CCD相机像面上的亮度比再结合第一衰减片的衰减量级得到天空亮度与太阳亮度的相对值。本发明专利技术的优点是可大大降低内视场衍射光强，提高内视场可观测范围；同时通过侧面观测天空亮度，增大太阳径向视场范围的天空亮度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种日晕光度测量装置，具体的说，涉及一种侧面遮拦式日晕光度计。
技术介绍
日晕光度计主要用于日冕仪选址，通过测量天空散射的亮度来确定是否满足日冕仪观测的需求。目前国际上使用的日晕光度计主要有两种，一种是1948年JohnW.Evans专利技术的EvansSkyPhotometer(ESP),一种是2004年HaoshengLin等人在夏威夷放置的SkyBrightnessMonitor(SBM)。中科院云南天文台于2011年制造的日晕光度计就是仿照SBM制造的一个日晕光度计，但通过一些改进及使用更先进的CCD，使其时间分辨率大大提高。ESP和SBM被放置于多个太阳观测站进行长年的日晕光度测量，而云南天文台的日晕光度计被用于大理、轿子雪山等地的日晕测量。ESP类型的日晕光度计(见文章EvansJ.W.1948,J.Opt.Soc.Am.,38,1083)主要为通过类似于外掩式日冕仪的结构，同时利用光楔式渐变衰减片衰减太阳直射光，通过观察衰减后的太阳直射光和消除衍射光后的天空亮度相同时，通过光楔式衰减片的衰减级次得到天空亮度的参数。这种结构的日晕光度计，仅可观测单波长的天本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种侧面遮拦式日晕光度计，其特征在于：该光度计从左至右依次包括外挡板、外窗口(4)、上消杂光光阑、下消杂光光阑(8)、中部光阑(9)、第二衰减片(10)、孔径光阑、物镜(11)、滤光轮(12)和CCD相机(13)；外挡板垂向设置于该光度计的左部，外挡板高度小于外窗口高度，外挡板中部安装第一衰减片，第一衰减片、第二衰减片(10)、孔径光阑、物镜(11)、CCD相机(13)位于同一轴线上；太阳直射光(14)经第一衰减片并经第二衰减片(10)进入光学系统成像在CCD相机(13)像面上；天空亮度经第二衰减片(10)成像在CCD相机(13)像面上。

【技术特征摘要】
1.一种侧面遮拦式日晕光度计，其特征在于：该光度计从左至右依次包括外挡板、外窗口(4)、上消杂光光阑、下消杂光光阑(8)、中部光阑(9)、第二衰减片(10)、孔径光阑、物镜(11)、滤光轮(12)和CCD相机(13)；外挡板垂向设置于该光度计的左部，外挡板高度小于外窗口高度，外挡板中部安装第一衰减片，第一衰减片、第二衰减片(10)、孔径光阑、物镜(11)、CCD相机(13)位于同一轴线上；太阳直射光(14)经第一衰减片并经第二衰减片(10)进入光学系统成像在CCD相机(13)像面上；天空亮度经第二衰减片(10)成像在CCD相机(13)像面上。2.根据权利要求1所述的侧面遮拦式日晕光度计，其特征在于：该光度计整体呈矩形结构，矩形结构左端为开敞的外窗口(4)，太阳直射光(14)从外窗口(2)左侧水平射入光学系统。3.根据权利要求1所述的侧面遮拦式日晕光度计，其特征在于：所述外挡板共有3块，分别为外挡板一(1)、外挡板二(2)和外挡板三(3)，3块外挡板尺寸一致，且3块外挡板从左至右依次排布；外挡板一(1)设置于外窗口(4)处，外挡板一(1)中部安装第一衰减片、外挡板二(2)中部安装第二通光孔、外挡板三(3)中部安装第三通光孔，且第一衰减片、第二通光孔和第三通光孔位于同一水平线上，第一衰减片的衰减量级为10-4。4.根据权利要求2所述的侧面遮拦式日晕光度计，其特征在于：所述上消杂光光阑采用矩形板结构，上消杂光光阑的上端与矩形结构的上顶内壁连接，上消杂光光阑的下端呈悬空状态，上消杂光光...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙明哲，张红鑫，夏利东，刘维新，卜和阳，
申请(专利权)人：山东大学，中国科学院长春光学精密机械与物理研究所，
类型：发明
国别省市：山东;37