【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种光学晶片,具体的说,涉及了一种航天测控用光学晶片。
技术介绍
航天测控用光学晶片是一种应用于航天、军事领域的光学石英晶体抛光片;该产品长期依赖进口,价格高昂,严重影响了我国的国防建设和航天技术的发展。为了解决以上存在的问题,人们一直在寻求一种理想的技术解决方案。
技术实现思路
本技术的目的是针对现有技术的不足,从而提供了一种结构简单、设计科学、 生产工艺简单、可靠性高、利于实现产业化的航天测控用光学晶片。为了实现上述目的,本技术所采用的技术方案是一种航天测控用光学晶片, 该航天测控用光学晶片是直径为62mm的圆形石英晶体抛光片,所述圆形石英晶体抛光片的上下表面是彼此平行的纳米级抛光平面。本技术相对现有技术具有实质性特点和进步,具体的说,该航天测控用光学晶片采用直径为62mm的圆形晶片和纳米级抛光表面,使得产品满足了航天测控技术的需要,其具有结构简单、设计科学、生产工艺简单、可靠性高、利于实现产业化的优点。附图说明图1是本技术的结构示意图。具体实施方式下面通过具体实施方式,对本技术的技术方案做进一步的详细描述。如图1所示,一种航天测控用光学晶片,该航天测控用光学晶片是直径为62mm的圆形石英晶体抛光片1,所述圆形石英晶体抛光片1的上下表面是彼此平行的纳米级抛光平面2。该航天测控用光学晶片的生产工艺包括晶片精磨、一次粗抛光、二次粗抛光、精抛光、纳米液抛光和多槽超声波清洗。精磨和抛光时,需要将晶片放入专用配套的行星轮内,在研磨砂液、抛光粉或抛光液的作用下,完成作业;一次粗抛光选择国产高精度9B双面抛光机与聚氨酯膜、粗抛粉、行星轮配合;二次粗抛光选择 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1. 一种航天测控用光学晶片,其特征在于该航天测控用光学晶片是直径为62mm的...
【专利技术属性】
技术研发人员:赵玉宏,朱中晓,
申请(专利权)人:北京石晶光电科技股份有限公司济源分公司,
类型:实用新型
国别省市:
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