缺陷硬盘数据擦除装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种缺陷硬盘数据擦除装置，包括正常硬盘扇区擦除电路、缺陷硬盘扇区擦除电路，其特征在于：所述缺陷硬盘扇区擦除电路包括缺陷硬盘扇区位图缓冲电路、与缺陷硬盘扇区位图缓冲电路相连的缺陷硬盘扇区跟踪电路、与缺陷硬盘扇区跟踪电路相连的缺陷硬盘扇区反向寻道擦除电路。本实用新型专利技术的结构简单合理，可以对缺陷扇区内的数据可以有效的、彻底的删除，擦除效果好，并保证了硬盘扇区的完整性。（*该技术在2021年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术属于硬盘数据擦除领域，具体涉及一种缺陷硬盘数据擦除装置。
技术介绍
目前，对硬盘数据的删除存在一定的不足之处，如对硬盘中缺陷的扇区数据不能有效的删除。
技术实现思路
本技术的目的是提供一种能有效删除硬盘中缺陷扇区的缺陷硬盘数据擦除直ο实现本技术目的的技术方案是提供一种缺陷硬盘数据擦除装置，包括正常硬盘扇区擦除电路、缺陷硬盘扇区擦除电路，其特征在于所述缺陷硬盘扇区擦除电路包括缺陷硬盘扇区位图缓冲电路、与缺陷硬盘扇区位图缓冲电路相连的缺陷硬盘扇区跟踪电路、 与缺陷硬盘扇区跟踪电路相连的缺陷硬盘扇区反向寻道擦除电路。进一步，所述缺陷硬盘扇区擦除电路还包括缺陷硬盘扇区擦除模式选择电路。本技术具有积极的效果本技术中，包括正常硬盘扇区擦除电路、缺陷硬盘扇区擦除电路，所述缺陷硬盘扇区擦除电路包括缺陷硬盘扇区位图缓冲电路、缺陷硬盘扇区跟踪电路、缺陷硬盘扇区反向寻道擦除电路，其结构简单合理，通过对硬盘正常扇区和缺陷扇区的数据删除达到完整硬盘数据的删除，通过先对缺陷扇区位图进行缓冲，再对缺陷扇区进行跟踪记录，对缺陷扇区进行反向寻道删除数据，使缺陷扇区内的数据可以有效的、彻底的删除，擦除效果好，并保证了完整性的擦除数据。本技术中，缺陷硬盘扇区擦除电路还包括缺陷硬盘扇区擦除模式选择电路同，可以选择不同的模式进行数据擦除，达到擦除数据的不同速度或获取出厂原始扇区的大小，打开隐藏扇区的访向权限，进一步保证了硬盘的完整性。附图说明为了使本技术的内容更容易被清楚的理解，下面根据具体实施例并结合附图，对本技术作进一步详细的说明，其中图1为本技术的结构框图。具体实施方式(实施例1)图1显示了本技术的一种具体实施方式，其中图1为本技术的结构框图。见图1，一种缺陷硬盘数据擦除装置，包括正常硬盘扇区擦除电路1、缺陷硬盘扇区擦除电路2，缺陷硬盘扇区擦除电路2包括缺陷硬盘扇区位图缓冲电路21、缺陷硬盘扇区跟踪电路22、缺陷硬盘扇区反向寻道擦除电路23，3在擦除时，以特定信号表示1个扇区，记录硬盘扇区数据擦除状况，1代表已擦除， 0代表未擦除，位图信息量根据盘大小决定，硬盘作为缓冲实时将内存位图信号更新到硬盘缓冲，擦除任务完成后，清除硬盘上的缓冲位图信息；擦除数据时会自动记录擦除数据的速率变化状况，根据速率变化状况，自动调整硬盘擦除数据模式步长及跳过扇区数，速率变化变快，调高单步步长及udma模式；速率变化变慢，调低单步步长及udma模式；由于缺陷硬盘扇区坏道分布大多数情况下规律性出现，所以在擦除数据时会自动跟踪硬盘坏道分布散列间距，通过已发现的散列间距值并跳过，实现快速擦除非缺陷区域数据；对于有缺陷硬盘，正向寻道往往会减弱硬盘寻道能力，遇到坏道后可能造成缺陷区域之后的正常区域也无法正常寻道，反方向寻道按扇区擦除数据；这样可以完整的擦除掉因为正向寻道擦除缺陷区域造成的正常区域也无法寻道的扇区。通过正向寻道保证快速擦除数据，反向寻道技术可保证完整的擦除数据；缺陷硬盘扇区擦除电路2还包括缺陷硬盘扇区擦除模式选择电路24。缺陷硬盘扇区擦除模式选择电路24包括高速模式与指令模式，高速模式包括udma33/66/99/133，模式越高，擦除速度越快，指令模式可由硬盘输入信号经相关驱动电路及处理电路可获取硬盘出厂原始扇区大小，打开隐藏扇区访问权限显然，本技术的上述实施例仅仅是为清楚地说明本技术所作的举例，而并非是对本技术的实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。而这些属于本技术的实质精神所引伸出的显而易见的变化或变动仍属于本技术的保护范围。本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种缺陷硬盘数据擦除装置，包括正常硬盘扇区擦除电路、缺陷硬盘扇区擦除电路， 其特征在于所述缺陷硬盘扇区擦除电路包括缺陷硬盘扇区位图缓冲电路、与缺陷硬盘扇区位图缓冲电路相连的缺陷硬盘扇...

【专利技术属性】
技术研发人员：梁效宁，范恒旺，
申请(专利权)人：内江市效率源信息安全技术有限责任公司，
类型：实用新型
国别省市：