一种测试装置，用于测试被测物体的长度。该测试装置包括导轨、装配于该导轨并可沿该导轨滑动的光发射器、光感应器及处理器。光发射器用于发出光线照射被测物体以形成反射光线。光感应器用于接收经被测物体反射后形成的反射光线并根据所接收到的反射光线感应被测物体的反射率，以及当感应到的反射率发生变化时产生侦测信号；处理器器电连接于所述光感应器，用于接收侦测信号，并根据第一次接收到的侦测信号和第二次接收到侦测信号计算出被测特体的长度。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种测试装置，特别涉及一种测试从光盘驱动器中弹出的光盘的长度的测试装置。
技术介绍
光盘驱动器(Optical Disk Driver)作为记录和再现光盘的装置得到了越来越广泛的应用。目前，出现了一种直插式光盘驱动器，光盘无需通过托盘承载而直接插入或弹出光盘驱动器。对于这种直插式光盘驱动器而言，光盘伸出光盘驱动器的长度必需适中，以避免光盘伸出长度较短导致光盘不容易拔出或光盘伸出长度较长导致光盘直接掉落。为避免以上情况的发生，在直插式光盘驱动器的生产过程中，通常需要对光盘伸出光盘驱动器的长度进行反复测试。目前大多通过作业员以人工作业的方式对光盘伸出光盘驱动器的长度进行测量， 并在获得测量数据后手动输入计算机以作为备份或进数据分析。然而，这种人工测试的作业方式，不仅需要耗费大量的人力增加生产成本，而且容易造成作业员疲劳导致工作效率低下。
技术实现思路
有鉴于此，有必要提供一种测试光盘伸出光盘驱动器的长度的测试装置。该测试装置包括导轨、装配于该导轨并可沿该导轨滑动的光发射器、光感应器及处理器。光发射器用于发出光线照射被测物体以形成反射光线。光感应器用于接收经被测物体反射后形成的反射光线并根据所接收到的反射光线感应被测物体的反射率，以及当感应到的反射率发生变化时产生侦测信号；处理器器电连接于所述光感应器，用于接收侦测信号，并根据第一次接收到的侦测信号和第二次接收到侦测信号计算出被测特体的长度。上述测试装置通过发出光线照射光盘并接收经光盘反射后所形成的反射光线来侦测光盘的反射率的变化，反射率的变化来确定光盘伸出光盘驱动器的起始位置与终端位置，并进一肯根据确定的起始位置与终端位置测出光盘伸出光盘驱动器的长度。附图说明图1为本专利技术一较佳实施方式的测试装置测试从光盘驱动器中弹出来的光盘的长度时的示意图。图2为图1所示测试装置的模块图。图3为图1所示测试装置发出的光线经光盘反射后的示意图。主要元件符号说明测试装置100光盘驱动器200光盘210测试台101支架102导轨103镜面104测试头10驱动马达20光发射器110光感应器120位移传感器130输入/输出接140处理器160透视反射镜170透光面171反射面172准直镜物镜190交点S夹角α、β计算机300具体实施例方式请参阅图1，为一较佳实施方式的测试装置100测试从光盘驱动器200中弹出来的光盘210的长度时的示意图。该测试装置100包括测试台101、垂直设置于测试台101—端的支架102、装配于该支架102的测试头10和驱动马达20。该支架102远离测试台101的一端设置有一导轨103。该导轨103朝与测试台101设置有支架102 —侧相对的另一侧水平延伸，用于支撑测试头10。该测试头10装配于该导轨103上并可沿该导轨103延伸方向来回滑动。该驱动马达20，用于驱动测试头10沿导轨103滑动。在本实施例中，该驱动马达20为步进马达或伺服电机，且测试台102台面及光盘驱动器200外壳的材质均不同于被测物体的材质。请一并参考图2，该测试装置100还包括光发射器110、光感应器120、位移传感器 130及处理器160。该光发射器110、光感应器120、位移传感器130及驱动马达20均电连接于处理器160，且该光发射器110、光感应器120、位移传感器130、处理器160及驱动马达 20均安装于该测试头10中。该光发射器110用于发出光线照射被测物体，即光盘210上以形成反射光线。在本实施例中，光发射器110为一激光发射器。被测物体放置于导轨103的正下方，且位于该导轨103相对两端之间的范围内。该光感应器120用于接收经光盘210表面反射后形成的反射光线并根据所接收到的反射光线感应被测物体的反射率，并且当被测物体的反射率发生变化时产生侦测信号。 由于具有不同材质的物体的反射率不同，因此，当光感应器120接收到经不同物体反射后形成的反射光线时，其感应到的反射率会发生改变。例如，光盘210的反射率不同于测试台 101表面的反射率，因此，当测试头10从导轨103 —端(右端)移动至相对的另一端(左端)的过程中，光线的反射面从测试台101变为光盘210时，光感应器120感应到的反射率会发生改变，从而产生一侦测信号；反射面从光盘210变为测试台101时，光感应器120感应到的反射率又会发生改变，从而产生又一侦测信号。同理，当测试头10从导轨103 —端 (左端)移动至相对的另一端(右端)的过程中，光感应器120感应到的反射率会先后发生两次改变，并先后产生两个侦测信号。该位移传感器130用于感测测试头10的坐标信息，具体为，该位移传感器130用于感测测试头10沿导轨103滑动时的坐标信息。该处理器160还用于接收光感应器120所产生的侦测信号，且当第一次接收到侦测信号时控制位移传感器130记录测试头10的第一坐标信息，并当第二接收到侦测信号时控制位移传感器130记录测试头10的第二坐标信息。该处理器160还用于根据位移传感器130所记录的第一坐标信息和第二坐标信息，计算出测试头10沿导轨103滑动的距离。 由于反射率变化时所得到的第一坐标信息和第二坐标信息对应于被测物体相对两端的坐标信息，因此，测试头10沿导轨103滑动的距离即为被测物体的长度。另外，该处理器160 还用于控制驱动马达20驱动测试头10在导轨103相对两端之间来回滑动。请进一步参阅图3，优选的，该光发射器110发出的光线垂直照射光盘210。为使垂直照射光盘210的光线经光盘210表面反射后形成的反射光线能被光感应器120接收， 该测试装置100还包括透视反射镜170，用于将经光盘210表面反射后形成的反射光线进一步反射至光感应器120。该透视反射镜170装设于测试头10中且设置于光发射器110发出的光线的传输方向上，且与光线相交的交点为S。该透视反射镜170包括透光面171及与透光面171相背的反射面172。为保证线经光盘210表面反射后形成的反射光线能被光感应器120接收，光感应器120与交点S连线后所形成的与反射面172的夹角α等于反射面 172与光线传送方向之间形成的夹角β。在本实施例中，α、β均为45度，也即，光感应器 120与交点S的连接与光线的传输方向垂直。此外，为便于光发射器110发出的光线经透视反射镜170后能聚焦至光盘210上， 该测试装置100还包括准直镜180和物镜190。该准直镜180和物镜190设置于所述光线的传送方向上并位于透视反射镜170的反射面172 —侧。另外，为了增强光感应器120的灵敏度，该测试台101上设置一反射率不同于光盘 210的镜面104，以使测试台101表面的反射率保持一致。为便于说明测试装置100的工作原理，下面以测量图1中所示的从光盘驱动器200 中弹出的光盘210的长度为例进行说明。当需要测试从光盘驱动器200中弹出的光盘210的长度时，首先，将光盘驱动器 200固定于测试台101的镜面104上，并使光盘处于导轨103的正下方。开启测试装置100， 光发射器110发出光线，驱动测试头10自导轨103右端向左端滑动。如图1所示，当光发射器110发出的光线移到光盘210的右端Ml (起始位置)时，光线的反射面由测试台101上的镜面104本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：陈鹏宇，
申请(专利权)人：富泰华工业深圳有限公司，鸿海精密工业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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