图像处理装置、程序和显微镜制造方法及图纸

本发明专利技术涉及能够将TIRF图像和共焦图像简单且正确地重合的图像处理装置、程序和显微镜。基准点检测部(111)，从利用全反射显微镜取得的与试料的预定面相关的TIRF图像以及利用共焦显微镜取得的与试料的上述预定面相关的共焦图像中，作为基准点分别检测3点以上的、作为试料的上述预定面的相同位置的像而相互对应的像。坐标变换系数计算部(112)，计算用于使TIRF图像中的基准点的坐标系和共焦图像中的基准点的坐标系相互变换的坐标变换系数。重合部(113)利用该坐标变换系数，使TIRF图像和共焦图像重合。本发明专利技术例如可以应用于对显微镜的观察图像进行图像处理的图像处理装置。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种图像处理装置、程序和显微镜，尤其是涉及适用于使由全反射显微镜拍摄的图像和由共焦显微镜拍摄的图像重合的情况的图像处理装置、程序和显微镜。
技术介绍
以往，提出了如下的显微镜(例如参照专利文献1)：通过切换光学部件而能够用于全反射显微镜(TIRF(Total Internal ReflectionFluorescence)显微镜、全反射照明荧光显微镜)和共焦显微镜双方。在先技术文献专利文献专利文献1：JP特开2004-85811号公报
技术实现思路
专利技术要解决的问题然而，利用由全反射显微镜得到的图像(以下称为TIRF图像)和由共焦显微镜得到的图像(以下称为共焦图像)双方来确认试料的现象时，例如有时会使两个图像重合来判断出现在两个图像中的物体是否相同。但是，在全反射显微镜和共焦显微镜中由于试料的图像取得方法(对试料的照明方法)不同，因此在TIRF图像和共焦图像中观察范围(试料的深度方向)、图像的尺寸等也不同。因此，为了使两个图像重合，需要进行图像的放大、缩小、旋转、平行移动、翻转等校正。但是，在现有的显微镜中，用户必须一边目视确认一边进行图像的校正，来使TIRF图像和共焦图像重合。本专利技术正是鉴于这种状况而完成，能够使例如TIRF图像和共焦图像这样用不同观察方法的显微镜分别取得的图像简单且正确地重合。用于解决问题的手段本专利技术的第一方式的图像处理装置包括：基准点检测单元，从利用第一显微镜取得的与试料的预定面相关的第一图像以及利用第二显微镜取得的与上述试料的上述预定面相关的第二图像中，作为基准点分别检测3点以上的、作为上述试料的上述预定面内的相同位置的像而相互对应的像；和计算单元，计算用于使上述第一图像中的上述基准点的第一坐标系和上述第二图像中的上述基准点的第二坐标系相互变换的变换系数。在本专利技术的第一方式的图像处理装置中，从利用第一显微镜取得的与试料的预定面相关的第一图像以及利用第二显微镜取得的与上述试料的上述预定面相关的第二图像中，作为基准点分别检测3点以上的、作为上述试料的上述预定面内的相同位置的像而相互对应的像，计算用于使上述第一图像中的上述基准点的第一坐标系和上述第二图像中的上述基准点的第二坐标系相互变换的变换系数。本专利技术的第一方式的程序，用于使计算机执行包括以下步骤的处理：从利用第一显微镜取得的与试料的预定面相关的第一图像以及利用第二显微镜取得的与上述试料的上述预定面相关的第二图像中，作为基准点分别检测3点以上的、作为上述试料的上述预定面内的相同位置的像而相互对应的像，计算用于使上述第一图像中的上述基准点的第一坐标系和上述第二图像中的上述基准点的第二坐标系相互变换的变换系数。在本专利技术的第一方式的程序中，从利用第一显微镜取得的与试料的预定面相关的第一图像以及利用第二显微镜取得的与上述试料的上述预定面相关的第二图像中，作为基准点分别检测3点以上的、作为上述试料的上述预定面内的相同位置的像而相互对应的像，计算用于使上述第一图像中的上述基准点的第一坐标系和上述第二图像中的上述基准点的第二坐标系相互变换的变换系数。本专利技术的第二方式的显微镜，能够作为第一显微镜和第二显微镜使用，其包括：基准点检测单元，从作为第一显微镜使用时拍摄试料得到的第一图像以及作为第二显微镜使用时拍摄上述试料得到的第二图像中，检测3点以上的与上述试料的相同位置对应的基准点；和计算单元，根据所检测出的上述基准点，计算用于使上述第一图像中的第一坐标系和上述第二图像中的第二坐标系相互变换的变换系数。在本专利技术的第二方式中，从作为第一显微镜使用时拍摄试料得到的第一图像以及作为第二显微镜使用时拍摄上述试料得到的第二图像中，检测3点以上的与上述试料的相同位置对应的基准点，根据所检测出的上述基准点，计算用于使上述第一图像中的第一坐标系和上述第二图像中的第二坐标系相互变换的变换系数。专利技术效果通过本专利技术的第一或第二方式，能够使得由全反射显微镜拍摄的图像的坐标系和由共焦显微镜拍摄的图像的坐标系相互变换。结果，能够使由全反射显微镜拍摄的图像和由共焦显微镜拍摄的图像简单且正确地重合。附图说明图1是表示将应用了本专利技术的显微镜系统用作共焦显微镜时的构成的图。图2是表示将应用了本专利技术的显微镜系统用作全反射显微镜时的构成的图。图3是表示由显微镜系统的计算机实现的图像处理部的构成例的框图。图4是用于说明由显微镜系统执行的坐标变换系数计算处理的流程图。图5是表示采样试料的例子的图。图6是用于说明由显微镜系统执行的重合处理的第一实施方式的流程图。图7是用于说明TIRF图像的摄影位置的图。图8是表示TIRF图像的一例的图。图9是用于说明共焦图像的摄影位置的图。图10是用于说明共焦图像的一例的图。图11是表示使TIRF图像和共焦图像重合而成的图像的一例的图。图12是用于说明由显微镜系统执行的重合处理的第二实施方式的流程图。图13是用于说明共焦图像的摄影位置的图。图14是表示共焦图像的一例的图。图15是表示TIRF图像的二值化图像的一例的图。图16是表示TIRF图像的辉点的位置的图。图17是表示共焦图像的二值化图像的一例的图。图18是表示共焦图像的辉点的位置的图。图19是用于说明TIRF图像和共焦图像的辉点的位置的不同的图。图20是表示TIRF图像的亮度的分布的例子的图。图21是表示共焦图像的亮度的分布的例子的图。符号说明1：显微镜系统；2：保护玻璃；3：试料；11：显微镜；12：图像生成电路；13：摄像装置；14：图像生成电路；15：计算机；16：显示装置；101：图像处理部；111：基准点检测部；112：坐标变换系数计算部；113：重合部。具体实施方式以下参照附图说明本专利技术的实施方式。图1和图2表示应用了本专利技术的显微镜系统的一个实施方式。显微镜系统1包括显微镜11、图像生成电路12、摄像装置13、图像生成电路14、计算机15和显示装置16。显微镜11通过改变透镜支撑部件35和光学元件支撑部件36的设定位置，而可以用作共焦显微镜或全反射显微镜。具体地说，透镜支撑部件35例如由转塔(rotary turret)等构成，被配置成能够绕旋转轴35a旋转。此外，透镜支撑部件35包括第二中继透本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2009.06.02 JP 2009-1327341.一种图像处理装置，包括：
基准点检测单元，从利用第一显微镜取得的与试料的预定面相关
的第一图像以及利用第二显微镜取得的与上述试料的上述预定面相关
的第二图像中，作为基准点分别检测3点以上的、作为上述试料的上
述预定面内的相同位置的像而相互对应的像；和
计算单元，计算用于使上述第一图像中的上述基准点的第一坐标
系和上述第二图像中的上述基准点的第二坐标系相互变换的变换系
数。
2.根据权利要求1所述的图像处理装置，其中，
上述基准点检测单元从上述第一图像中的辉点和上述第二图像中
的辉点中，作为上述基准点分别检测作为上述试料的上述预定面内的
相同位置的辉点而相互对应的辉点。
3.根据权利要求1所述的图像处理装置，其中，
上述基准点检测单元，在从上述第一图像中的多个辉点中选择的
三个辉点的组合组和从上述第二图像中的多个辉点中选择的三个辉点
的组合组的对中，将以上述三个辉点为顶点的三角形基本相似的对中
包含的上述辉点检测为上述基准点。
4.根据权利要求2或3所述的图像处理装置，其中，
上述基准点检测单元利用第1二值化图像和第2二值化图像来提
取上述辉点，其中，所述第1二值化图像通过利用预定的阈值将上述
第一图像二值化而生成，所述第2二值化图像通过利用预定的阈值将
上述第二图像二值化而生成。
5.根据...

【专利技术属性】
技术研发人员：冈本高明，
申请(专利权)人：株式会社尼康，
类型：发明
国别省市：