一种适用于低孔低渗储层的气、水层识别方法技术

本发明专利技术提供了一种适用于低孔低渗储层的气、水层识别方法，属于石油勘探、开发领域领域。本发明专利技术依据孔隙度测井测量原理，通过分析影响测井孔隙度曲线值大小的因素，给出了在高矿化度泥浆滤液、低孔低渗气藏中识别气层、水层的方法。本发明专利技术提供的基于低孔低渗储层的气、水层识别方法易于实施，可操作性强，识别直观、清晰；利用本发明专利技术可以在节约成本的同时大大提高气层流体识别的准确度；在现场实际中应用范围很广，不论是低孔低渗的火山岩还是碳酸盐和砂泥岩，本发明专利技术均具有很强的可操作性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于石油勘探开发领域，涉及识别储层流体的测井技术，具体涉及一种适用于低孔低渗储层的气、水层识别方法。
技术介绍
在气藏中，利用常规测井曲线识别流体是石油勘探开发过程中常用的测井方法。由于其识别流体直观、迅速、成本低，因此是每口井必备的测井曲线。在现场实际应用中应用范围很广。通常情况下，天然气氢浓度太低，以至于把含天然气的孔隙体积作为岩石骨架还不足以说明天然气的影响，即天然气孔隙体积对快中子的减速能力比石灰岩骨架还低，将显示为负的含氢指数。油气对中子孔隙度测井的这种影响被称为中子孔隙度测井的挖掘效应。在测井曲线剖面中，根据挖掘效应识别气层，如图1中第四道阴影部分所示。但是，挖掘效应在常规砂岩气层中比较明显，当气层为复杂岩性，特别是低孔低渗储层时，由于仪器本身的测量误差、统计误差以及岩石骨架的影响，中子孔隙度测井的挖掘效应不明显，中子孔隙度测井与密度孔隙度测井幅度常有重叠交叉现象发生，以致可能会出现气层、水层或干层解释混乱的现象。具体如图1、图2所示，图1给本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种适用于低孔低渗储层的气、水层识别方法，其特征在于：所述方法基于
孔隙度测井的测量原理，分析影响测井孔隙度曲线值大小的因素，然后对于低
孔低渗储层中的气层，重构含气识别组合曲线，在气层实现孔隙度的重新有序
排列；对于低孔低渗储层中的水层，考虑泥浆滤液矿化度对中子孔隙度的影响；
最终获得所研究地区的储层分类识别依据。
2.根据权利要求1所述的适用于低孔低渗储层的气、水层识别方法，其特征在
于所述方法包括以下步骤：
(1)将补偿中子、密度测井曲线根据各自的响应方程分别计算并得到相对
应的孔隙度测井曲线，建立孔隙度测井曲线组合；
(2)对所述孔隙度测井曲线进行校正，根据校正后的孔隙度测井曲线组合，
结合自然伽玛、自然电位、电阻率等其他常规测井曲线组成测井曲线剖面图；
(3)依据步骤(2)得到的测井曲线剖面图，结合生产测试，寻找已知储<...

【专利技术属性】
技术研发人员：李浩，魏修平，
申请(专利权)人：中国石油化工股份有限公司，中国石油化工股份有限公司石油勘探开发研究院，
类型：发明
国别省市：