存储卡读写信号测试装置制造方法及图纸

一种存储卡读写信号测试装置，用于测试一待测印刷电路板的存储卡读写信号，测试装置包括测试设备及转接卡，待测印刷电路板上包括卡槽，测试装置包括转接卡槽、开关单元及存储卡槽，开关单元包括若干开关，每一开关的两端分别连接转接卡槽中的一引脚及存储卡槽中的一引脚，每一开关两端的任意位置设备一测量点，转接卡连接所述测试设备上的转接卡槽与待测印刷电路板上的卡槽，测试设备上的存储卡槽用于插接一存储卡。存储卡读写信号测试装置通过转接卡及测试设备即可实现对待测印刷电路板上存储卡读写信号的测试，而不需要在待测印刷电路板上焊接测试点，节省了测试成本，方便了测试。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种测试装置，特别涉及一种存储卡读写信号测试装置。
技术介绍
电子设备发展日新月异，功能越来越多，大部分电子产品支持各种各样的存储卡， 如Memory Stick (MS)、Multi Media Card (MMC)、Secure DigitalMemory (SD)、Compact Flash Card(CF)等。在对这些电子产品的印刷电路板上的存储卡的读写信号进行测试时， 目前的测试方法是在电子产品的印刷电路板上引出线来进行测试，这种测试方法需要焊接测试点，给测试带来不便，且焊接时容易短路，可能造成测试不准确。
技术实现思路
鉴于上述内容，有必要提供一种测试准确、使用方便的存储卡读写信号测试装置。一种存储卡读写信号测试装置，用于测试一待测印刷电路板的存储卡读写信号， 所述存储卡读写信号测试装置包括一测试设备及一转接卡，所述待测印刷电路板上包括一卡槽，所述测试设备包括一转接卡槽、一开关单元及一存储卡槽，所述开关单元包括若干开关，每一开关的两端分别连接所述转接卡槽中的一引脚及所述存储卡槽中的一引脚，每一开关两端的任意位置设备一测量点，所述转接卡用于连接所述测试设备上的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：徐凤，
申请(专利权)人：鸿富锦精密工业深圳有限公司，鸿海精密工业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：