一种存储卡读写信号测试装置，用于测试一待测印刷电路板的存储卡读写信号，测试装置包括测试设备及转接卡，待测印刷电路板上包括卡槽，测试装置包括转接卡槽、开关单元及存储卡槽，开关单元包括若干开关，每一开关的两端分别连接转接卡槽中的一引脚及存储卡槽中的一引脚，每一开关两端的任意位置设备一测量点，转接卡连接所述测试设备上的转接卡槽与待测印刷电路板上的卡槽，测试设备上的存储卡槽用于插接一存储卡。存储卡读写信号测试装置通过转接卡及测试设备即可实现对待测印刷电路板上存储卡读写信号的测试，而不需要在待测印刷电路板上焊接测试点，节省了测试成本，方便了测试。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种测试装置，特别涉及一种存储卡读写信号测试装置。
技术介绍
电子设备发展日新月异，功能越来越多，大部分电子产品支持各种各样的存储卡， 如Memory Stick (MS)、Multi Media Card (MMC)、Secure DigitalMemory (SD)、Compact Flash Card(CF)等。在对这些电子产品的印刷电路板上的存储卡的读写信号进行测试时， 目前的测试方法是在电子产品的印刷电路板上引出线来进行测试，这种测试方法需要焊接测试点，给测试带来不便，且焊接时容易短路，可能造成测试不准确。
技术实现思路
鉴于上述内容，有必要提供一种测试准确、使用方便的存储卡读写信号测试装置。一种存储卡读写信号测试装置，用于测试一待测印刷电路板的存储卡读写信号， 所述存储卡读写信号测试装置包括一测试设备及一转接卡，所述待测印刷电路板上包括一卡槽，所述测试设备包括一转接卡槽、一开关单元及一存储卡槽，所述开关单元包括若干开关，每一开关的两端分别连接所述转接卡槽中的一引脚及所述存储卡槽中的一引脚，每一开关两端的任意位置设备一测量点，所述转接卡用于连接所述测试设备上的转接卡槽与所述待测印刷电路板上的卡槽，所述测试设备上的存储卡槽用于插接一存储卡。相较现有技术，所述存储卡读写信号测试装置通过所述转接卡及所述测试设备即可实现对待测印刷电路板上存储卡读写信号的测试，而不需要在待测印刷电路板上焊接测试点，节省了测试成本，方便了测试。附图说明下面参照附图结合具体实施方式对本专利技术作进一步的描述。图1为本专利技术存储卡读写信号测试装置连接一待测印刷电路板及一存储卡的较佳实施方式的方框图。主要元件符号说明测试设备100待测印刷电路板200转接卡300存储卡400卡槽210基板310,101接脚330,320转接卡槽110开关单元120存储卡槽130开关121测量点12具体实施例方式请参照图1，本专利技术存储卡读写信号测试装置用于测试一待测印刷电路板200的存储卡读写信号，其较佳实施方式包括一测试设备100及一转接卡300。所述待测印刷电路板200的印刷电路板上包括一卡槽210。所述转接卡300包括一基板310。所述基板310的对应两边缘上分别设置若干接脚320、330(即俗称的“金手指”)。所述测试设备100包括一基板101、一转接卡槽110、一开关单元120及一存储卡槽130。其中，所述开关单元120 包括若干开关121，通过选择性的闭合所述开关121即可使插接在所述存储卡槽130中的一存储卡400与所述待测印刷电路板200进行通信。所述转接卡槽110、所述开关121及所述存储卡槽130均设置在所述基板101上。在本实施方式中，所述基板310及101均为印刷电路板。所述存储卡槽130用于插接不同类型的存储卡，如Memory Stick(MS)^Multi Media Card (MMC), Secure DigitalMemory (SD)、Compact Flash Card (CF)。针对每一类型的存储卡选择与所述存储卡类型相同的转接卡300。因为不同类型的存储卡的外形及厚度不同，因此在测试时只需选择与所述存储卡类型相同的转接卡130并根据所述存储卡类型选择性的闭合所述开关121即可通过所述测试设备100对待测印刷电路板200上不同类型的存储卡的读写信号进行测试。所述转接卡槽110中的每一引脚均通过一开关121连接所述存储卡槽130中的一对应引脚。所述转接卡300上的接脚320与所述测试设备100上的转接卡槽110中的引脚一一对应，所述转接卡300上的接脚330与所述待测印刷电路板200上的卡槽210中的引脚一一对应，所述转接卡300上的接脚320与接脚330 —一对应连接。所述测试设备100 上的存储卡槽130用于插接所述存储卡400，所述存储卡槽130上的引脚与所述存储卡400 上的引脚一一对应，所述每一开关121两端的任意位置设置一测量点122，一测量仪器的探针电性连接所述测量点122以在所述开关121闭合时通过所述卡槽210从所述待测印刷电路板200获取待测存储卡读写信号。测试时，首先选择一种类型的存储卡400插入所述存储卡槽130中，并选择与所述存储卡400的类型对应的转接卡300，再将所述转接卡300上的接脚330插接入所述待测印刷电路板200上的卡槽210中，同时将所述转接卡300上的接脚320插接入所述测试设备 100上的转接卡槽110中，再根据选择的存储卡400的类型选择性的闭合所述开关121以使所述存储卡400与所述待测印刷电路板200进行通信，即可通过所述测量设备100上的测量点122对所述待测印刷电路板200上的对应所述存储卡400的存储卡读写信号进行测试。在测试待测印刷电路板200上的一存储卡读写信号时，将所述测量仪器的探针连接至待测存储卡读写信号对应的开关121两端的测量点122，即可在所述测量仪器上获得所述待测存储卡读写信号的显示结果，以便测试人员进行分析。测试所述印刷电路板200上其他类型的存储卡的读写信号的原理与上述相同，在此不再赘述。所述存储卡读写信号测试装置通过所述转接卡300及所述测试设备100即可实现对待测印刷电路板上不同类型的存储卡读写信号进行测试，而不需要在待测印刷电路板上焊接测试点，节省了测试成本，方便了测试。权利要求1.一种存储卡读写信号测试装置，用于测试一待测印刷电路板的存储卡读写信号，所述存储卡读写信号测试装置包括一测试设备及一转接卡，所述待测印刷电路板上包括一卡槽，所述测试装置包括一转接卡槽、一开关单元及一存储卡槽，所述开关单元包括若干开关，每一开关的两端分别连接所述转接卡槽中的一引脚及所述存储卡槽中的一引脚，每一开关两端的任意位置设置一测量点，用于电性连接一测量仪器，所述转接卡用于连接所述测试设备上的转接卡槽与所述待测印刷电路板上的卡槽，所述测试设备上的存储卡槽用于插接一存储卡。2.如权利要求1所述的存储卡读写信号测试装置，其特征在于所述测试装置还包括一第一基板，所述转接卡槽、所述开关及所述存储卡槽均设置在所述第一基板上。3.如权利要求1所述的存储卡读写信号测试装置，其特征在于所述转接卡包括一第二基板，所述第二基板的两边缘上分别设置若干第一接脚及若干第二接脚，所述转接卡上的第一接脚与所述测试设备上的转接卡槽中的引脚一一对应，所述转接卡上的第二接脚与所述待测印刷电路板上的卡槽中的引脚一一对应。4.如权利要求3所述的存储卡读写信号测试装置，其特征在于所述第一及第二基板为印刷电路板。全文摘要一种存储卡读写信号测试装置，用于测试一待测印刷电路板的存储卡读写信号，测试装置包括测试设备及转接卡，待测印刷电路板上包括卡槽，测试装置包括转接卡槽、开关单元及存储卡槽，开关单元包括若干开关，每一开关的两端分别连接转接卡槽中的一引脚及存储卡槽中的一引脚，每一开关两端的任意位置设备一测量点，转接卡连接所述测试设备上的转接卡槽与待测印刷电路板上的卡槽，测试设备上的存储卡槽用于插接一存储卡。存储卡读写信号测试装置通过转接卡及测试设备即可实现对待测印刷电路板上存储卡读写信号的测试，而不需要在待测印刷电路板上焊接测试点，节省了测试成本，方便了测试。文档编号G11C29本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：徐凤，
申请(专利权)人：鸿富锦精密工业深圳有限公司，鸿海精密工业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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