一种光源老化试验测量装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种光源老化试验测量装置，包括试验室，在试验室内设有被测光源和取样装置，在试验室内部或外部还设有稳定发光的参比光源，被测光源和参比光源与可程控供电电源电连接，取样装置接收被测光源和参比光源发出的光线，并将光信号传输到与其相连接的测光仪表中。本光源老化试验测量装置通过引入参比光源，并在被测光源老化前后比较测量参比光源和被测光源的光学参数，校正了由测量仪表自身变化而引入的不确定因素，大幅减小了测量误差，提高了光源老化试验的准确性。（*该技术在2021年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

一种光源老化试验测量装置
本技术属于光辐射测量领域，具体涉及一种光源老化试验测量装置。
技术介绍
LED等新型光源以其寿命长、绿色环保等优势逐渐替代传统光源成为市场主流，然而上述优点却成为了为准确评价其性能而进行的试验的障碍。例如，新型光源的长寿命、高稳定性等特点决定了其在正常工作条件下短时间内燃点，其光电性能几乎不发生改变。因此，必须通过加速试验的方法才能正确评价其性能。公开号为CN101799357A以及CN201017022Y的技术专利都公开了光源加速试验方法及其装置，都将被测光源置于温控试验室内，通过温控试验室来改变被测光源的环境条件，进行加速老化试验，并通过测量其光电参数随时间的变化数据，推算被测光源的与寿命和可靠性相关的各项特性参数，这是目前较为典型、也是较为先进的光源加速老化和寿命试验方法。上述公开文件中，都存在同样的没有解决的问题假如测量仪表本身状态发生变化，则无法区别这种变化是来自被测光源还是来自测量仪表自身，给试验带来极大的不确定性。
技术实现思路
为了克服现有技术中存在的上述缺陷，本技术通过引入参比光源，旨在提供设计简单，操作方便，能消除或校正测量仪表自身变化的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：潘建根，
申请(专利权)人：杭州远方光电信息股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：