用于光学检查混浊介质的内部的设备制造技术

提供一种用于光学检查混浊介质的内部的设备。所述设备包括：光源（３），其适于发射用于辐照混浊介质的光；检测器单元（４），其适于检测从混浊介质放射的光；以及光导，其适于将从光源发射的光引导至混浊介质。光导包括支撑（１０；１００），所述支撑包括的支撑表面（２０；１２０）用于支持待检查的混浊介质并且用于将由光源（３）发射的光通过支撑表面（２０；１２０）耦合到所述混浊介质中。所述设备被构造为使得来自光源（３）的光仅在支撑表面被接触的位置处通过支撑表面（２０；１２０）离开。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

【技术保护点】
１．一种用于光学检查混浊介质的内部的设备，包括：光源（３），其适于发射用于辐照所述混浊介质的光；检测器单元（４），其适于检测从所述混浊介质放出的光；以及光导，其适于将由所述光源发射的光引导到所述混浊介质；其中，所述光导包括支撑（１０；１００），所述支撑包括支撑表面（２０；１２０），其用于支持待检查的所述混浊介质并且适于将由所述光源（３）发射的光通过所述支撑表面（２０；１２０）耦合到所述混浊介质中，其中，所述设备被构造为使得来自所述光源（３）的光仅在所述支撑表面被接触的位置处通过所述支撑表面（２０；１２０）离开。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：W·H·J·伦森，
申请(专利权)人：皇家飞利浦电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：NL