光学信息记录介质、记录方法、再生方法以及记录再生装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种光学信息记录介质，具备：基板、覆盖层、被所述基板以及所述覆盖层所夹的第１信息层，通过从所述覆盖层一侧照射光束，在所述第１信息层记录信息，对记录于所述第１信息层的信息进行再生，所述第１信息层包含：记录膜、和配置于所述记录膜和所述覆盖层之间的保护膜，所述覆盖层和所述记录膜之间的距离为０．５ｎｍ以上１２ｎｍ以下。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及通过激光等的光束来记录、再生信息的光学信息记录介质、记录方法、 再生方法以及记录再生装置。
技术介绍
近年来，能通过激光照射来记录信息的光学信息记录介质被广泛研究开发、商品化。在这样的光学信息记录介质中，有改写型和追记型，其中改写型能记录信息，能删除或改写已经记录有信息的介质，追记型能记录信息，但不能删除已记录的信息或用新的信息来进行改写。作为追记型的光学信息记录介质的一种，例如，已知在信息层上具备以氧化物作为基础材料、包含分散了金属元素的材料、更具体地包含了 Te和TeO2的混合物TeOx(0 < χ <2)的信息记录膜的光学信息记录介质。包含TeOxW记录膜在不实施激光退火等的初始化处理而形成记录膜之后，就保持非晶相的状态不变地使用。即，在形成包含TeOx的记录膜之后，能不进行热处理而以非晶相的状态来记录信息。因此，具有光学信息记录介质的制造简单、能以低成本来制造的优点。若在这样的光学信息记录介质上照射比规定强度大的激光，则在照射了激光的区域中，记录膜从非晶相改变为结晶相，形成记录标记(record mark)。例如，在记录层的轨道上形成以基于根据要记录的信息而调制的信号的长度来表征的空白以及标记的组合。由于包含TeOx的记录膜中的在非晶相和结晶相中反射率有较大的不同，若用具有不在记录膜产生相变程度的强度的激光来扫描已记录有信息的轨道，则能获得具有与空白以及标记对应的强度变化的反射光，能再生被记录于光学信息记录介质的信息。由于包含TeOx的记录膜中的从非晶相向结晶相的变化为不可逆过程，因此，不能进行基于信息覆写的修改或删除。近年来，追求记录容量更大的光学信息记录介质。作为使光学信息记录介质的记录容量变大的方法，一般是使用通过使激光的波长变短、或使对激光进行聚光的物镜的数值口径变大来缩小聚光的光斑径，并提高记录面密度的方法。另外，为了使每个光学信息记录介质的记录面积增大，层叠了多个信息层的多层构造的光学信息记录介质也在近年被实用化。为了和这样的高密度记录或多层记录对应，也提出了调整在TeOx中添加PcUAu等的记录材料的组成、以及记录膜的厚度的光学信息记录介质(例如参照专利文献幻。另外，在提高了光学信息记录介质的记录密度的情况下，会有反射光的强度降低或标记间的热干扰的问题。为了解决这些课题，提出了通过和记录膜相邻来设置反射膜，由此利用光学干涉效应来提高记录膜的光吸收率从而提高记录灵敏度，并且，将在记录膜产生的热扩散到反射膜，抑制标记间的热干扰(例如参照专利文献3)。专利文献1 JP特开昭50-46317号公报专利文献1 国际公开W098/09823号手册专利文献2 JP特开2002-251778号公报在进行如上所述的高密度记录，特别是进行使用了蓝紫色激光的记录的情况下，由于激光加热而产生的热负载，记录膜容易受到损伤。其结果，会有在再生信号中包含较多的噪声等再生信号的质量恶化的可能性。另外，即使在记录时所受到的热负载不会立即使再生信号的质量恶化的情况下，也认为通过长时间保存光学信息记录介质，热负载带来的影响会显现，再生信号劣化。如上所述，近年来追求使光学信息记录介质的记录容量进一步增大。另外，追求能以高倍速来记录信息的光学信息记录介质。因此，需要提高记录密度、增大上限记录线速度、增加信息层的层数。与此相伴，光学信息记录介质的记录膜受到的热负载有进一步增大的倾向。因此，缓和热负载并提高保存可靠性越来越重要。
技术实现思路
本专利技术解决这样的课题，目的在于提供一种光学信息记录介质，其高密度、高线速度记录中的再生信号的质量良好，且保存可靠性高。本专利技术的光学信息记录介质具备基板；覆盖层；和被所述基板以及所述覆盖层所夹的第1信息层，通过从所述覆盖层一侧照射光束，在所述第1信息层记录信息，对记录于所述第1信息层的信息进行再生，所述第1信息层包含记录膜、和配置于所述记录膜和所述覆盖层之间的保护膜，所述覆盖层和所述记录膜之间的距离为0. 5nm以上12nm以下。通过覆盖层和记录膜之间的距离为0. 5nm以上12nm以下，保护记录膜不受到热损伤，另外，能抑制保护膜的剥离，能实现高密度、高线速度记录中的再生信号的质量良好且保存可靠性高的光学信息记录介质。在某优选的实施方式中，光学信息记录介质还具备设于所述基板和所述第1信息层之间的第2信息层。由此，即使在层叠了信息层的记录容量大的光学信息记录介质中，也能实现高密度、高线速度记录中的再生信号的质量良好且保存可靠性高的光学信息记录介质。在某优选的实施方式中，所述记录膜包含追记型的记录材料。在某优选的实施方式中，所述追记型的记录材料包含从由Cr-0、Zn-0、(ia-0、In-0、 Sn-0, Sb-0, Bi-O以及1Te-O构成的群中选出的至少一种。在某优选的实施方式中，所述光学信息记录介质中，所述第1信息层还具有设于所述记录膜和所述基板之间的反射膜。在某优选的实施方式中，所述第1信息层具有设于所述记录膜和所述反射膜之间的中间膜。在某优选的实施方式中，所述保护膜包含从由ai-0、Te-0以及Sn-O构成的群中选出的至少一种，在所述保护膜中，Zn、Te以及Sn的合计相对于除了氧以外的全部原子的比例为50at%以上。在某优选的实施方式中，所述保护膜分别包含从由ai-0、Te-0以及Sn-O构成的群中选出的至少一种、和从由Cr-0、Sb_0、Bi-0、In-0以及fei-0构成的群中选出的至少一种， 在所述保护膜中，ZruTe以及Sn的合计相对于除了氧以外的全部原子的比例为33at%以上 96at %以下，Cr、Sb、Bi、In以及( 的合计相对于除了氧以外的全部原子的比例为4at %以上67at%以下。在某优选的实施方式中，所述第1信息层的槽的间距为1 μ m以下。本专利技术的光学信息记录介质的记录方法，在上述任一种的光学信息记录介质中， 用波长为450nm以下的光束来记录信息。本专利技术的光学信息记录介质的再生方法，用波长为450nm以下的光束对记录于上述任一种所述的光学信息记录介质中的信息进行再生。本专利技术的记录再生装置在上述任一种所述的光学信息记录介质中，用波长为 450nm以下的光束来记录信息；和用波长为450nm以下的光束对记录于上述任一种所述的光学信息记录介质中的信息进行再生。根据本专利技术，通过覆盖层和记录膜之间的距离为0. 5nm以上12nm以下，可保护记录膜不受到热损伤，另外，能抑制保护膜的剥离，且能实现高密度、高线速度记录中的再生信号的质量良好且保存可靠性高的光学信息记录介质。附图说明图1是表示本专利技术的光学信息记录介质的一个实施方式的示意性的部分剖面图。图2是表示本专利技术的光学信息记录介质的其它实施方式的示意性的部分剖面图。图3是表示本专利技术的光学信息记录介质的其它实施方式的示意性的部分剖面图。图4是表示本专利技术的记录再生装置的一个实施方式中的主要部分的概略图。(符号说明)1基板2第1信息层3记录膜4保护膜5 覆盖层(cover layer)6激光7物镜8反射膜9中间膜10分离层11第2信息层12激光二极管13半反射镜14电动机15光学信息记录介质16光检测器具体实施例方式下面，说明本专利技术的光学信息记录介质的实施方式。图1是表示本专利技术的光学信息记本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种光学信息记录介质，具备：基板；覆盖层；和被所述基板以及所述覆盖层所夹的第１信息层，通过从所述覆盖层一侧照射光束，在所述第１信息层记录信息，对记录于所述第１信息层的信息进行再生，所述第１信息层包含：记录膜、和配置于所述记录膜和所述覆盖层之间的保护膜，所述覆盖层和所述记录膜之间的距离为０．５ｎｍ以上１２ｎｍ以下。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：北浦英树，
申请(专利权)人：松下电器产业株式会社，
类型：发明
国别省市：JP