HJ-1A卫星超光谱成像仪在轨辐射定标方法技术

本发明专利技术公开了HJ-1A卫星超光谱成像仪在轨辐射定标方法，具体为：1)根据大气参数，将场地平均反射率重新采样成2.5nm间隔，并计算出2.5nm间隔的表观反射率曲线；2)利用超光谱成像仪各通道中心波长对表观反射率曲线进行插值，得到超光谱成像仪各通道等效表观反射率；3)计算超光谱成像仪各通道对应的表观辐亮度；4)提取出超光谱成像仪图像各通道平均DN值；5)计算得到各通道的表观辐亮度定标系数。本发明专利技术的超光谱成像仪在轨辐射定标方法，利用大气参数，然后利用相关公式实现表观辐亮度的计算，有效避免了根据6S模型计算结果计算量大的问题。另外，在定标过程中采用线性插值方法对表观反射率曲线进行插值，提高了处理速度，简化了定标过程。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及航空遥感成像领域，尤指一种超光谱成像仪在轨辐射定标方法。
技术介绍
同多光谱传感器相比，超光谱成像仪具有波段数目多，光谱分辨率高等特点。在对多光谱进行在轨辐射定标时，通常将地表、大气、观测几何及传感器各通道光谱响应函数输入辐射传输模型，依次得到各通道的定标系数。而超光谱成像仪的波段数目高达115个，如果分波段进行辐射定标计算，不仅工作量大，计算过程复杂，而且由于超光谱成像仪未能提供各通道光谱响应函数，传统的多光谱定标方法无法直接应用。
技术实现思路
针对现有技术存在的问题，本专利技术提供一种新的辐射定标方法，实现了超光谱成像仪各通道的快速定标。为实现上述目的，本专利技术的HJ-1A卫星超光谱成像仪在轨辐射定标方法，具体为：1)根据大气参数，将场地平均反射率重新采样成2.5nm间隔，并计算出2.5nm间隔的表观反射率曲线；2)利用超光谱成像仪各通道中心波长对表观反射率曲线进行插值，得到超光谱成像仪各通道等效表观反射率；3)根据各通道的相对光本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．ＨＪ－１Ａ卫星超光谱成像仪在轨辐射定标方法，具体为：１）根据大气参数，将场地平均反射率重新采样成２．５ｎｍ间隔，并计算出２．５ｎｍ间隔的表观反射率曲线；２）利用超光谱成像仪各通道中心波长对表观反射率曲线进行插值，得到超光谱成像仪各通道等效表观反射率；３）根据各通道的相对光谱响应函数，计算超光谱成像仪各通道对应的表观辐亮度；４）根据场地位置，提取出超光谱成像仪图像各通道平均ＤＮ值；５）根据各通道平均ＤＮ值和各通道的表观辐亮度，计算得到各通道的表观辐亮度定标系数。

【技术特征摘要】
1.HJ-1A卫星超光谱成像仪在轨辐射定标方法，具体为：1)根据大气参
数，将场地平均反射率重新采样成2.5nm间隔，并计算出2.5nm间隔
的表观反射率曲线；2)利用超光谱成像仪各通道中心波长对表观反
射率曲线进行插值，得到超光谱成像仪各通道等效表观反射率；3)
根据各通道的相对光谱响应函数，计算超光谱成像仪各通道对应的表
观辐亮度；4)根据场地位置，提取出超光谱成像仪图像各通道平均
DN值；5)根据各通道平均DN值和各通道的表观辐亮度，计算得到各
通道的表观辐亮度定标系数。
2.如权利要求1所述的HJ-1A卫星超光谱成像仪在轨辐射定标方法，其
特征在于，所述大气参数包括大气层半球反射率、大气吸收透过率、
太阳入射方向大气散射透过率、卫星观测方向大气散射透过率和大气
层自身反射率。
3.如权利要求2所述的HJ-1A卫星超光谱成像仪在轨辐射定标方法，其
特征在于，所述大气参数通过以下方法获得：将大气气溶胶、大气类
型、观测天顶角、观测方位角、太阳天顶角、太阳方位角、大气类型
和气溶胶模式参数输入6S模型，计算出大气参数。
4.如...

【专利技术属性】
技术研发人员：顾行发，余涛，高海亮，李小英，巩慧，李家国，程天海，孙源，
申请(专利权)人：中国科学院遥感应用研究所，
类型：发明
国别省市：11