The invention discloses a implementation method of calculating the position of the target imaging spectrometer, spot imaging position through the target image to obtain the imaging spectrometer acquisition in the preset time of the corresponding integral calculation, then the multiple spot imaging position calculated from the weighted average, the weighted average as the final position of the spot image the value of. The technical scheme for weighted by a plurality of target image spot imaging position average as the final target position, effectively avoids the calculation error caused by the fluctuation of the spot position, to ensure the accuracy of target position, to a certain extent to improve the accuracy of positioning, improve the system accuracy of imaging spectrometer, and then improve the measurement the accuracy of imaging spectrometer. In addition, the embodiment of the invention also provides the corresponding realization device for the method of calculating the position of the target by the imaging spectrometer, and further makes the method more practical.
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及成像光谱仪应用
,特别是涉及一种成像光谱仪计算目标位置的方法及装置。
技术介绍
传统的成像系统只能获得目标景物的空间图像信息,传统的光谱仪是通过得到随着波长变化的辐射强度曲线的光谱信息来确定物质特性,从而得到目标光谱信息。成像光谱技术将光学成像技术与光谱探测技术相结合形成了新型遥感技术,解决了传统光学成像仪有像无谱和传统光谱仪有谱无像的问题。成像光谱仪,也叫高光谱分辨率遥感,其光学系统由前置望远系统与光谱成像系统组成,通过入射狭缝将二者组合在一起。光学成像系统在获得被测目标的空间信息时,通过光谱系统把被测物体的辐射分解成不同波长的辐射,每一个像元可在一个光谱范围内获得几十甚至几百个连续的窄波段信息,能够将这些信息转化为一条平滑而且连续的光谱曲线,从而通过对光谱曲线的分析进行物质的识别与分类。由于成像光谱仪测量精度受光学系统畸变、相机输出信号、电子随机噪声、目标位置计算精度、零件加工精度误差、系统装调精度误差、温度漂移、系统定标误差等众多因素影响,为了保证成像光谱仪系统整体精度,就需在上述影响精度的因素中各自定义其精度范围。在对成像光谱仪进行定标过程中,计算目标位置对于光谱仪精度的影响至关重要,分配到图像处理算法的计算目标精度指标要优于0.1个像素。举例来说,图1为中阶梯成像光谱仪谱图矩阵,右图为左图局部放大显示的原始数据,第一行对应图像中位置的x坐标,第一列为对应图像中位置的y坐标,非零数据为该位置对应的波长(单位为mm)。从右图表格中可见,有效光谱相邻很近,如果在x方向上误差大于0.5个像素(这些误差主要为定标时计算目标精度误差、非 ...
【技术保护点】
一种成像光谱仪计算目标位置的方法,其特征在于,包括:分别在各预设积分时间内获取成像光谱仪采集的目标图像;根据第一预设公式计算各积分时间内的目标图像对应的光斑成像位置;将各所述光斑成像位置对应的数值取加权平均数,以完成目标位置的计算。
【技术特征摘要】
1.一种成像光谱仪计算目标位置的方法,其特征在于,包括:分别在各预设积分时间内获取成像光谱仪采集的目标图像;根据第一预设公式计算各积分时间内的目标图像对应的光斑成像位置;将各所述光斑成像位置对应的数值取加权平均数,以完成目标位置的计算。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述分别在各预设积分时间内获取成像光谱仪采集的目标图像为:分别在各所述积分时间内获取所述成像光谱仪采集预设幅数的子图像;从各所述积分时间对应的子图像中根据预设的方式选择一幅子图像作为相应积分时间的目标图像。3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述从各所述积分时间对应的子图像中根据预设的方式选择一幅子图像作为相应积分时间的目标图像为:根据第二预设公式分别计算各所述积分时间对应的各子图像的光斑成像位置;从各所述子图像的光斑成像位置对应的数值中选择数值为中值的子图像;将光斑成像位置数值为中值的子图像作为相应积分时间的目标图像。4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述根据第二预设公式分别计算各所述积分时间对应的各子图像的光斑成像位置为:根据标准重心公式计算各所述积分时间对应的各子图像的光斑成像位置。5.根据权利要求1至4任意一项所述的方法,其特征在于,所述根据第一预设公式计算各积分时间内的目标图像对应的光斑成像位置为:根...
【专利技术属性】
技术研发人员:王明佳,尹禄,张锐,王宇庆,朱继伟,崔继承,
申请(专利权)人:中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,
类型:发明
国别省市:吉林;22
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