无管脚测试模式制造技术

本发明专利技术涉及无管脚测试模式。本申请提供了用于在不使用专用于发起测试的接口电路的输入的情况下在接口电路中发起测试的装置和方法。在示例中，测试模式接口电路可以包括：电压比较器，被配置为将第一电压与第二电压进行比较；波纹计数器，被配置为在电压比较器指示第一电压大于第二电压时对来自处理器的脉冲进行计数；以及其中，所述测试模式接口电路被配置为向包括所述测试模式接口电路的接口电路提供测试模式启用信号和对所期望的测试模式的指示。

【技术实现步骤摘要】
无管脚测试模式要求优先权在35U. S. C Section 119 (e)下，本专利申请要求于2010年7月23日提交的、 Turner的序列号61/367280的美国临时专利申请的优先权，其全部内容通过引用合并于此。
技术介绍
移动计算设备以及其他电子设备在非常紧凑的设备内提供了使得对音频和数据信息的通信、消息收发和交换在用户来看透明的多个特征。在制造这些设备期间，进行了测试，以降低交付具有有缺陷的集成电路的设备的可能性。同时，向集成电路提供管脚专用电路测试可能消除利用芯片或包括芯片的设备提供附加特征的机会。附图说明附图不一定按比例绘制，在附图中的不同视图中，相似的数字可以描述相似的组件。具有不同字母后缀的相似数字可以表示相似组件的不同实例。作为示例而非限制，附图总体上示意了本文献中讨论的各个实施例。图1总体上示意了采用示例测试模式接口电路的系统。图2总体上示意了电子设备的示例附件接口电路的框图。图3总体上示意了附件接口电路的示例测试模式接口电路。具体实施例方式本专利技术的主题包括接口电路，被配置为检测与电子设备相连接的附件并自动处理电子设备的处理器与附件之间的信息。更具体地，本专利技术的主题包括用于包括测试模式接口电路在内的接口电路的方法和装置，允许在不向专用于测试模式操作的接口电路添加输入或输出的情况下测试接口电路，从而降低制造成本并节省针对包括接口电路的电子设备的附加特征的输入和输出不动产(real estate) 0电路制造商通常在制造和封装电路期间多次测试电路。该测试可以确保不在有缺陷的电路上浪费进一步的处理。进一步的测试还可以确保针对制造商的客户获得功能合适的电路。测试模式可以允许设计者和制造处理团队观察到对外部世界来说不可见的电路的模拟和数字行为。此外，测试模式可以避开电路预期操作所需的、但与所期望的测试结果不相关的延迟，使得可以以更及时的方式获得所期望的测试结果。可以将多个测试模式设计进接口电路，每个测试模式可以集中于要测试的接口电路的不同方面。电路测试器可以连接至电路的端子，以在测试期间控制电路并记录每个测试的结果。本专利技术的主题提供了包括针对电路的预期接口操作的端子在内的接口电路的示例。接口电路还可以包括可发起的一个或多个测试模式以及所记录的结果，而无需附加的电路端子，例如专用于测试模式的端子。本专利技术的主题是有利的，这是由于电路不需要针对专用测试输入和输出的附加物理不动产，从使用电路的电子设备制造的观点来看，该附加物理不动产可能增加制造成本并且是电路的不期望元素。在示例中，当将与接口电路耦合的第一电源电压提高至高于与接口电路耦合的第二电源电压时，可以进入接口电路的测试模式。可以以第一频率使开关输入形成脉冲，该开关输入被配置为检测与电子设备的端口相连的附件。可以以高于第一频率两倍的频率使接口电路的启用信号形成脉冲，使得可以感测开关输入的每次升高和降低。波纹计数器(例如，基于波纹计数器的电路)可以在开关输出转移时递增计数。在使波纹计数器的比特循环至所期望的状态或比特模式时，可以将第一电源的电压降低至第二电源电压的电平处或低于该电平，以发起由波纹计数器比特中的一个或多个的状态指示的测试模式。在示例中，在第一电源电压降至第二电源电压之后的预定数目振荡器周期中，捕获波纹计数器的3个最高有效比特的状态。如果波纹计数器的3个高比特的最低有效比特 (LSB)处于逻辑低状态，则可以发起测试模式。其余2个比特可以指示要执行的期望测试模式。如果波纹计数器的3个高比特的LSB为高(缺省状态)，则不进入测试模式，并重置波纹计数器。在示例中，直到发起测试模式，电路的附件检测输入(J_DET)和电路的启用输入 (EN)才可以影响一个或多个状态机的操作，就好像未尝试测试模式一样。 图1总体上示意了采用根据本专利技术主题的一个示例的接口电路的系统100。该系统包括电子设备102和音频附件101。在示例中，电子设备102的接口电路可以提供对音频附件101的接口。电子设备102可以包括移动电子设备，例如但不限于蜂窝电话、个人数字助理、个人媒体播放器、以上各项的组合、或者具有音频端口的其他电子设备。音频附件101 可以是包括与电子设备102的音频端口物理接口连接的连接器103(如音频插口)的耳机或耳塞的集合。在各个示例中，附件101可以是包括麦克风的耳机或耳塞的集合。在一些示例中，麦克风可以包括开关，例如，用于发起和结束蜂窝电话呼叫的发送/结束开关。在一些示例中，耳机或耳塞的集合可以包括仅一个耳机或耳塞。需要理解，这里的主题不限于针对音频附件的接口电路，而是也可以植入其他类型的附件。图2总体上示意了用于将音频附件201与电子设备处理器204进行接口连接的示例附件接口电路200的框图。附件接口电路200可以包括第一电源输入VIO和第二电源输入VDD、用于将附件接口电路200连接在电子设备的端口 205与电子设备的处理器204之间的各个输入和输出。在各个示例中，端口 205被配置为与附件201的连接器(如音频插口连接器206)相连接。音频插口连接器206可以包括针对一个或多个耳机(如左耳机207、 右耳机208)的端子。音频插口连接器206可以包括接地端子GND。音频插口连接器206可以包括与附件201的麦克风209相连的端子。音频插口连接器206可以包括与附件201的开关210相连的端子。在示例中，附件201的麦克风209和开关210共享连接器206的端子。在示例中，附件接口电路200可以包括比较器222，被配置为在头戴式耳机麦克风端(J_MIC)处接收麦克风信号；施密特触发器223，被配置为在音频插口检测管脚(J_ DET)处接收音频插口检测信号；以及电流源2M (如0. 5 μ A电流源等)。在示例中，端口 205可以包括开关器件211，在特定示例中，开关器件211作为通常开启的开关而操作。在示例中，电流源2 可以被配置为在端口 205为空时在施密特触发器223处提供电压，当音频插口 206与端口 205相连时，端口 205可以被拉至地。在示例中，施密特触发器223可以被配置为向逻辑214和处理器204提供检测信号。检测信号可以包括端口 2055处于未连接状态时的逻辑高信号以及端口 205与附件201的音频插口连接器206连接时的逻辑低信号。在另一示例中，开关器件211的通常开启配置以及附件接口电路200的电流源 224(如0.5μΑ电流源等)可以被具有通常闭合(NC)配置的开关器件以及电流宿(如 0.5μΑ电流宿等)替换。在其他示例中，可以使用一个或多个其他示例组件或系统。在其他示例中，附件接口电路200可以使用一个或多个其他组件来检测音频插口 206并向处理器204提供对检测到的音频插口的指示。在特定示例中，附件接口电路200可以包括连接至端口 205中与每个附件连接器端子相对应的端的输入。在特定示例中，端口 205可以包括JDET开关207，用于检测与端口 205相连或与端口 205配对的音频插口连接器206的存在。在一些示例中，JDET开关通常打开，并在音频插口连接器206连接至端口 205时闭合。在一些示例中，JDET开关207可以通常闭合，并可以在附件连接器连接至端口 205时打开。附件接口电路200可以本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种测试模式接口电路，包括：电压比较器，被配置为将第一电压与第二电压进行比较；波纹计数器，被配置为在电压比较器指示第一电压大于第二电压时对来自处理器的脉冲进行计数；以及其中，所述测试模式接口电路被配置为向包括所述测试模式接口电路的接口电路提供测试模式启用信号和对所期望的测试模式的指示。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：约翰·R·特纳，纳塔恩·查尔兰德，
申请(专利权)人：飞兆半导体公司，
类型：发明
国别省市：US