一种平板金属框架定位孔磨损测试装置及其测试方法制造方法及图纸

一种平板金属框架定位孔磨损测试装置及其测试方法，属孔径测试技术领域，测试装置特征在于：定位圆柱的一端与测试平台固定连接，另一端与电极环的内侧面紧密贴合，电极环的外径与待测金属框架定位孔的内径匹配吻合；测试平台一侧置有与气动装置相连的推杆，高度与金属定位框架高度平齐一致。测试方法特征在于：金属定位框架置于测试平台上，定位圆柱带电极环一端置于金属定位框架的定位孔内，当推杆从一个方向轻轻推动金属定位框架，接触到定位圆柱后，由于框架的导电，依次排列的定位圆柱形成串联回路，指示灯亮灯，显示定位孔无磨损，合格。任何一个定位孔如因磨损变大，则串联回路断开指示灯不亮。测试装置结构简单，测试方法方便易行。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种平板金属构件定位孔的磨损状况的测试装置及其测试方法，属孔径测试

技术介绍
在使用薄片型金属框架加工多联式产品时，一般将金属框架由定位孔固定在产品的加工设备上，以薄片型金属框架为定位模板，反复加工生产后续产品。如印刷电路扳生产过程中，PCB板先要准确定位、打元器件安装孔，然后再通过贴片机，移动贴装头把表面贴装元器件准确地放置PCB焊盘上。要保准做到PCB板准确定位，方法之一为先将金属框架通过定位孔固定在产品的加工设备上，PCB板再置于金属框架的中心孔内，在打孔、贴装元器件操作完成后取出PCB板，再放入新的PCB板重复上述步骤。金属框架经长期反复使用后， 定位孔可能因磨损而造成金属框架定位的微小偏移，金属框架无法精确定位，导致影响后续产品的质量。为了保证金属框架的定位精度，通常需要经常用百分卡、千分卡或游标卡尺，检测金属框架上的定位孔是不是有磨损，但检测效率很低，不能满足大批量工业自动化生产的需要。建立一种快速、有效的检测金属定位框架上的定位孔的是否磨损的装置和测量方法， 对于提高产品合格率和生产效率，有着非常积极的意义。
技术实现思路
本专利技术的目的在于，提供一种结构简单、操作方便的平板金属框架定位孔磨损测试装置及其测试方法，以便快速、有效地检测出框架上的定位孔是否磨损。为达到上述目的，采用的技术方案是一种平板金属框架定位孔磨损测试装置，包括测试平台和定位圆柱，其特征在于所述定位圆柱的一端与所述测试平台固定连接，另一端的外表面与电极环的内侧面紧密贴合，所述电极环的外径与待测定位孔的内径匹配吻合；所述定位圆柱数量二个以上，依次排列，排序首、尾二个定位圆柱的电极环分别与指示灯电连接；置于所述测试平台一侧的与气动装置相连的推杆，高度与待测的平板金属框架高度平齐一致。所述定位圆柱的另一端，周边置有多个镶嵌有金属电极销的嵌槽，均布，外径与待测定位孔的内径匹配吻合。所述定位圆柱和所述测试平台由绝缘材料制作。所述测试装置的测试方法，其特征在于所述金属框架置于所述测试平台之上，使定位圆柱的带电极环一端置于金属框架上定位孔中，控制所述推杆向另一侧轻轻平移推动金属框架，直至所述金属框架上定位孔内壁与测试平台上定位圆柱外表面相接为止，指示灯亮表示定位孔未被磨损，合格。本专利技术的积极效果在于与气动装置相连的推杆从一个方向轻轻推动金属定位框架，框架接触到定位圆柱的电极环(或电极销)后，由于框架的导电，依次排列的定位圆柱形成串联回路，指示灯亮显示定位孔无磨损，任何一个定位孔如因磨损变大，框架接触不到定位圆柱的电极环(或电极销)，串联回路不能形成，指示灯不亮显示定位孔已经磨损不合格。 所述平板金属框架定位孔磨损测试装置结构简单，测试方法方便易行。附图说明以下以附图说明和具体实施方式对本专利技术作进一步说明。图1为本专利技术结构示意图2为图1的A-A剖面结构示意图； 图3为所述定位圆柱剖面结构示意图(放大)； 图4为图3 B向的结构示意图(电极环)； 图5为图3 B向的另一结构示意图(嵌槽内镶嵌电极销)； 图6为指示灯连接电路示意图。图中，1 一测试平台；2—定位圆柱；3—金属框架；4 一定位孔；5—电极环；6 — 推杆；7 —气动装置；8 —指示灯；9 一电极销。具体实施例方式图1和图2为本专利技术结构示意图，图3 图5示出了定位圆柱的结构，图6为指示灯连接电路示意图。由图可见，一种平板金属框架定位孔磨损测试装置，包括测试平台1和定位圆柱2，其特征在于所述定位圆柱2的一端与所述测试平台1固定连接，另一端的外表面与电极环5的内侧面紧密贴合，所述电极环5的外径与待测定位孔4的内径匹配吻合； 所述定位圆柱2数量二个以上，依次排列，排序首、尾二个定位圆柱2的电极环5分别与指示灯8电连接；置于所述测试平台1 一侧的与气动装置7相连的推杆6，高度与待测的平板金属框架3高度平齐一致。所述定位圆柱2的另一端，周边置有多个镶嵌有金属电极销的嵌槽，均布，所述定位圆柱2的外径与待测定位孔的内径匹配吻合。所述所述定位圆柱和所述测试平台由绝缘材料制作。所述平板金属框架定位孔磨损测试装置的测试方法，其特征在于所述金属框架 3置于所述测试平台1之上，使定位圆柱2的带电极环5 —端置于金属框架3上定位孔4 中，控制所述推杆6向另一侧轻轻平移推动金属框架3，直至所述金属框架3上定位孔4的内壁与测试平台1上定位圆柱2的外表面相接为止。图1和图6中定位孔4和定位圆柱2 的数量以4为例，4个定位圆柱2分别标记为2-1、2-2、2-3、2-4。定位孔4完整无损时，框架定位孔4的内表面与定位圆柱2的电极环(或电极销)外侧面相接触，由于框架的导电，定位圆柱2依次排列形成串联回路，指示灯8亮灯；如任何一个定位孔4因磨损变大，金属定位框架3定位孔4内表面与定位圆柱2的电极环(或电极销)外侧面不相接触，串联回路不能形成，因而指示灯8不亮，表示定位孔4已磨损不合格。权利要求1.一种平板金属框架定位孔磨损测试装置，包括测试平台和定位圆柱，其特征在于 所述定位圆柱的一端与所述测试平台固定连接，另一端的外表面与电极环的内侧面紧密贴合，所述电极环的外径与待测定位孔的内径匹配吻合；所述定位圆柱数量二个以上，依次排列，排序首、尾二个定位圆柱的电极环分别与指示灯电连接；置于所述测试平台一侧的与气动装置相连的推杆，高度与待测的平板金属框架高度平齐一致。2.根据权利要求1所述一种平板金属框架定位孔磨损测试装置，其特征在于所述定位圆柱的另一端，周边置有多个镶嵌有金属电极销的嵌槽，均布，外径与待测定位孔的内径匹配吻合。3.根据权利要求1所述一种平板金属框架定位孔磨损测试装置，其特征在于所述定位圆柱和所述测试平台由绝缘材料制作。4.权利要求1所述测试装置的测试方法，其特征在于所述金属框架置于所述测试平台之上，使定位圆柱的带电极环一端置于金属框架上定位孔中，控制所述推杆向另一侧轻轻平移推动金属框架，直至所述金属框架上定位孔内壁与测试平台上定位圆柱外表面相接为止，指示灯亮表示定位孔完整未磨损，合格。全文摘要，属孔径测试
，测试装置特征在于定位圆柱的一端与测试平台固定连接，另一端与电极环的内侧面紧密贴合，电极环的外径与待测金属框架定位孔的内径匹配吻合；测试平台一侧置有与气动装置相连的推杆，高度与金属定位框架高度平齐一致。测试方法特征在于金属定位框架置于测试平台上，定位圆柱带电极环一端置于金属定位框架的定位孔内，当推杆从一个方向轻轻推动金属定位框架，接触到定位圆柱后，由于框架的导电，依次排列的定位圆柱形成串联回路，指示灯亮灯，显示定位孔无磨损，合格。任何一个定位孔如因磨损变大，则串联回路断开指示灯不亮。测试装置结构简单，测试方法方便易行。文档编号G01B7/13GK102331228SQ20111015987公开日2012年1月25日 申请日期2011年6月15日 优先权日2011年6月15日专利技术者上村真也, 卞方勇, 小泉泰秀, 赵志明, 陆静 申请人:上海京瓷电子有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种平板金属框架定位孔磨损测试装置，包括测试平台和定位圆柱，其特征在于：所述定位圆柱的一端与所述测试平台固定连接，另一端的外表面与电极环的内侧面紧密贴合，所述电极环的外径与待测定位孔的内径匹配吻合；所述定位圆柱数量二个以上，依次排列，排序首、尾二个定位圆柱的电极环分别与指示灯电连接；置于所述测试平台一侧的与气动装置相连的推杆，高度与待测的平板金属框架高度平齐一致。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：陆静，上村真也，小泉泰秀，卞方勇，赵志明，
申请(专利权)人：上海京瓷电子有限公司，
类型：发明
国别省市：31