【技术实现步骤摘要】
本技术涉及测试机领域，更具体地说，涉及一种用在测试机上的开关控制卡。
技术介绍
传统测试机样式较多，琳琅满目。传统测试机的测试速度较慢。
技术实现思路
本技术所要解决的技术问题是提供一种结构简单的能够提高测试机的测试速度的用在测试机上的开关控制卡。为了解决上述技术问题，本技术采用了以下技术方案一种用在测试机上的开关控制卡，在测试机上安装有开关控制卡，该开关控制卡为双面开关控制卡，在每一面的开关控制卡上设有1 个开关通道而形成双面开关控制具有256个开关通道。本技术由于采用了上述结构，通过采用双面开关控制卡，在每一面的开关控制卡上设有1 个开关通道而形成双面开关控制具有256个开关通道，因此，本技术使测试机的测速速度得到极大提高，同时，本技术结构简单。在结合附图阅读本技术的实施方式的详细描述后，本技术的特点和优点将变得更加清楚。附图说明图1是本技术的实施方式的示意图。具体实施方式下面以一个实施方式对本技术作进一步详细的说明，但应当说明，本技术的保护范围不仅仅限于此。参阅图1，一种用在测试机上的开关控制卡，在测试机上安装有开关控制卡1，该开关控制卡1为双面开关控制卡，在每一面的开关控制卡上设有1 个开关通道2而形成双面开关控制具有256个开关通道2。虽然结合附图描述了本技术的实施方式，但是本领域的技术人员可以在所附权利要求的范围之内作出各种变形或修改，只要不超过本技术的权利要求所描述的保护范围，都应当在本技术的保护范围之内。权利要求1. 一种用在测试机上的开关控制卡，其特征在于在测试机上安装有开关控制卡(1)， 该开关控制卡(1)为双面开关控制卡，在每一面的开关控...
【技术保护点】
１．一种用在测试机上的开关控制卡，其特征在于：在测试机上安装有开关控制卡（１），该开关控制卡（１）为双面开关控制卡，在每一面的开关控制卡上设有１２８个开关通道（２）而形成双面开关控制具有２５６个开关通道（２）。
【技术特征摘要】
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。