一种轴直径检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种轴直径检测装置，该轴直径检测装置包括定位台、定位孔、第一检测模块、第二检测模块和控制模块，用于对被测轴进行定位的定位孔设置在定位台上，第一检测模块包括第一发射模块和用于接收第一发射模块发射的第一平行激光束的第一接收模块。第二检测模块包括第二发射模块和用于接收第二发射模块发射的第二平行激光束的第二接收模块。控制模块分别与第一接收模块和第二接收模块连接。第一平行激光束与第二平行激光束平行位于定位孔两侧，第一平行激光束与第二平行激光束之间的垂直距离小于定位孔的直径。本实用新型专利技术结构简单，测量精度高，测量过程无磨损。（*该技术在2021年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及工艺检测领域，更具体涉及一种轴直径检测装置，适用于工艺检测过程中对轴直径的测量。
技术介绍
目前主要的轴直径检测装置包括手动数显轴颈检测装置和自动接触检测装置。手动数显轴直径检测装置通过电感位移变送器对被测轴进行测量、该检测装置由数显显示测量结果，直观。但因由人工手提操作并且采用接触式测量，所以存在重复性和精度难以保证、测量效率不高等缺点。自动接触检测装置采用在线式测量方式、测量过程均由设备自动完成、测量效率高、测量重复性及测量精度也较高，但采用接触式测量长时间使用存在检测装置磨损、造成测量尺寸不是要求测量截面直径等问题，使用稳定性较差。
技术实现思路
本技术的目的是针对现有技术存在的上述缺点，提供了一种轴直径检测装置，采用非接触式测量方式，测量过程无磨损且精度高。为了实现上述的目的，本技术采用以下技术方案一种轴直径检测装置，包括定位台、定位孔、第一检测模块、第二检测模块和控制模块，用于对被测轴进行定位的定位孔设置在定位台上，第一检测模块和第二检测模块设置在定位台上并分别设置在定位孔两侧，控制模块分别与第一检测模块和第二检测模块连接。如上所述的第一检测模块包括第一发射模块和用于接收第一发射模块发射的第一平行激光束的第一接收模块；所述的第二检测模块包括第二发射模块和用于接收第二发射模块发射的第二平行激光束的第二接收模块，第一接收模块和第二接收模块分别与控制模块连接。如上所述的定位孔为圆形；所述的第一平行激光束与第二平行激光束分别平行位于定位孔两侧，第一平行激光束与第二平行激光束垂直距离小于定位孔的直径。与现有技术相比，本技术的有益效果为1、结构简单，操作方便；2、采用非接触式测量，测试过程无磨损，避免了接触式测量由于接触磨损引起的测量误差；3、采用高精度的激光定位，测量精度高。附图说明图1是一种轴直径检测装置示意图；其中1-第一发射模块(GaN LED) ；2_第一接收模块(S-7000) ；3_第二发射模块 (GaN LED) ；4-第二接收模块(S-7000) ；5-第一平行激光束；6-第二平行激光束；7-定位台；8-定位孔；9-控制装置(8051)。具体实施方式以下结合附图对本技术作进一步的说明如图1所示，一种轴直径检测装置，包括定位台7、定位孔8、第一检测模块、第二检测模块和控制模块9，用于对被测轴进行定位的定位孔8设置在定位台7上，第一检测模块和第二检测模块设置在定位台7上并分别设置在定位孔8两侧，控制模块9分别与第一检测模块和第二检测模块连接。第一检测模块包括第一发射模块1和用于接收第一发射模块 1发射的第一平行激光束5的第一接收模块2 ；第二检测模块包括第二发射模块3和用于接收第二发射模块3发射的第二平行激光束6的第二接收模块4，第一接收模块2和第二接收模块4分别与控制模块9连接。定位孔8为圆形；第一平行激光束5与第二平行激光束6 分别平行位于定位孔8两侧，第一平行激光束5与第二平行激光束6垂直距离小于定位孔 8的直径。本技术在测量被测轴直径之前，需要对第一平行激光束5和第二平行激光束 6进行定位。通过在定位孔8垂直穿入一直径小于被测轴的标准轴，标准轴的直径为E，通过调整第一发射模块、第一接收模块2、第二发射模块3和第二接收模块4的相对位置，校正第一平行激光束5与第二平行激光束6的垂直距离为E，完成定位工序。完成定位工序后需要测得第一发射模块1和第二发射模块3发送的第一平行激光束5与第二平行激光束6的激光束宽度，控制模块9通过对第一接收模块2和第二接收模块4接收到的第一平行激光束5和第二平行激光束6的宽度信息进行处理，得到第一平行激光束5与第二平行激光束6宽度分别为A和B。在对被测轴进行检测时，将被测轴垂直穿入定位孔8。此时被测轴会挡住第一平行激光束5与第二平行激光束6的部分光线，第一接收模块2和第二接收模块4将接收到的被遮挡的第一平行激光束5与第二平行激光束6的宽度信息输入到控制模块9，控制模块9 对第一接收模块2和第二接收模块4发送的宽度信息进行处理，得到被遮挡后的第一平行激光束5与第二平行激光束6的激光束宽度分别为C和D，被测轴的直径为A+B+E-C-D。本技术中第一发射模块1和第二发射模块3可以是GaN LED,第一接收模块 2，第二接收模块4可以是S-7000系列高速、高精度CCD测量器，控制模块9可以是8051单片机。本技术结构简单，操作方便；测量方式采用采用非接触式测量，测试过程无磨损，避免了接触式测量由于接触磨损引起的测量误差；采用高精度的激光定位，测量精度尚ο本文中所描述的具体实施例仅仅是对本技术精神作举例说明。本技术所属
的技术人员可以对所描述的具体实施例做各种各样的修改或补充或采用类似的方式替代，但并不会偏离本技术的精神或者超越所附权利要求书所定义的范围。权利要求1.一种轴直径检测装置，其特征在于该轴直径检测装置包括定位台(7)、定位孔(8)、 第一检测模块、第二检测模块和控制模块(9)，用于对被测轴进行定位的定位孔(8)设置在定位台(7)上，第一检测模块和第二检测模块设置在定位台(7)上并分别设置在定位孔(8) 两侧，控制模块(9 )分别与第一检测模块和第二检测模块连接。2.根据权利要求1所述的一种轴直径检测装置，其特征在于所述的第一检测模块包括第一发射模块(1)和用于接收第一发射模块(1)发射的第一平行激光束(5)的第一接收模块(2);所述的第二检测模块包括第二发射模块(3)和用于接收第二发射模块(3)发射的第二平行激光束(6)的第二接收模块(4)，第一接收模块(2)和第二接收模块(4)分别与控制模块(9)连接。3.根据权利要求2所述的一种轴直径检测装置，其特征在于所述的定位孔(8)为圆形；所述的第一平行激光束(5)与第二平行激光束(6)分别平行位于定位孔(8)两侧，第一平行激光束(5)与第二平行激光束(6)垂直距离小于定位孔(8)的直径。专利摘要本技术公开了一种轴直径检测装置，该轴直径检测装置包括定位台、定位孔、第一检测模块、第二检测模块和控制模块，用于对被测轴进行定位的定位孔设置在定位台上，第一检测模块包括第一发射模块和用于接收第一发射模块发射的第一平行激光束的第一接收模块。第二检测模块包括第二发射模块和用于接收第二发射模块发射的第二平行激光束的第二接收模块。控制模块分别与第一接收模块和第二接收模块连接。第一平行激光束与第二平行激光束平行位于定位孔两侧，第一平行激光束与第二平行激光束之间的垂直距离小于定位孔的直径。本技术结构简单，测量精度高，测量过程无磨损。文档编号G01B11/08GK202092609SQ20112018705公开日2011年12月28日 申请日期2011年6月3日 优先权日2011年6月3日专利技术者刘许安, 卢明珠, 石广 申请人:黄石邦柯科技股份有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种轴直径检测装置，其特征在于：该轴直径检测装置包括定位台（７）、定位孔（８）、第一检测模块、第二检测模块和控制模块（９），用于对被测轴进行定位的定位孔（８）设置在定位台（７）上，第一检测模块和第二检测模块设置在定位台（７）上并分别设置在定位孔（８）两侧，控制模块（９）分别与第一检测模块和第二检测模块连接。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：卢明珠，石广，刘许安，
申请(专利权)人：黄石邦柯科技股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：42