自适应场强变化的A/B模式检测电路制造技术

本发明专利技术公开了一种自适应场强变化的A/B模式检测电路，包括：分压偏置电路，其检测输入信号包络；RC滤波电路，对所述分压偏置电路得到的分压信号进行滤波，得到RC滤波信号，所述RC滤波电路中的电阻为一压控电阻；迟滞比较电路，其通过所述分压信号和RC滤波信号得到A/B模式检测的输出；电压检测电路，其对所述RC滤波信号的幅值进行检测，并通过解调电路输出数据信号下降沿触发的D触发器采样，采样结果对所述RC滤波电路中的压控电阻阻值进行调整，调整RC滤波参数。本发明专利技术能够根据场强自适应地调整模式检测电路的检测能力，保证在要求的整个场强范围内都能够有效可靠地识别A/B模式信号。适用于非接触式IC卡和射频识别标签。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种模式检测电路，特别是涉及一种自适应场强变化的A/B模式检测 电路。
技术介绍
目前，在地铁、公交、身份认证、物流、门票等行业中普遍使用的非接触式IC卡或 射频识别标签正逐步取代传统的纸质票证，具有越来越广泛的应用。非接触式IC卡或射频识别标签系统包括读写器与非接触式IC卡或射频识别标签 芯片两部分。图1示出了为完成读写器与非接触式IC卡或射频识别标签之间正常通讯，非接触 式IC卡或射频识别标签内部射频接口所需要的功能电路。其中，整流及限幅滤波电路一 方面将天线端耦合过来的交流信号转变为经过限幅滤波的直流信号，然后送入后续稳压电 路、解调电路和A/B模式检测电路进行处理，另一方面通过负载调制的方式将逻辑信号Din 发射出去。时钟产生电路生成同步时钟Clk。稳压电路产生稳定电压vdd给内部电路供电。 复位电路根据电压Vdd的高低产生复位信号Por。解调电路通过对包络信号的检测恢复读 写器传输数据Dout。如果非接触式IC卡或射频识别标签兼容IS014443A/B两种模式，那么 非接触式IC卡或射频识别标签芯片还包括一个A/B模式检测电路。A/B模式检测电路同 样通过对包络信号的检测判断读写器发送的信号属于A模式还是B模式，输出Mdet。由于 非接触式IC卡或射频识别标签需要在一定的读写器场强范围内都能够正常工作，因此A/ B模式检测电路需要在要求的整个场强范围内都能够正确识别读写器发送的信号属于A模 式还是B模式。A/B模式是根据读写器发送的幅度调制信号的调制比例区分的。同一场强下，调制 比例大、调制幅度深的为A模式，调制比例小、调制幅度浅为B模式。A/B模式检测电路对调 制幅度深的A模式信号响应，而对调制幅度浅的B模式信号不做响应，从而识别出读写器发 送信号属于A模式还是B模式。如前所述，非接触式IC卡或射频识别标签需要能够在要求 的整个场强范围内识别读写器发送的信号属于A模式还是B模式，这样就会出现一种情况， 即大场强时B模式信号的调制幅度大于小场强时A模式信号的调制幅度，如果在大、小场 强下A/B模式检测电路的识别能力相同，将会导致无法在整个场强范围内都将A/B模式信 号识别出来。因此需要一个自适应场强变化的A/B模式检测电路，不同的场强，对应的模式 检测电路识别能力不同，从而保证在整个场强范围内，非接触式IC卡或射频识别标签芯片 都能够正确识别读写器发送信号的类型，保证非接触式IC卡或射频识别标签在要求的场 强范围内都能够正常工作。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题是提供一种自适应场强变化的A/B模式检测电路，不同 的场强，对应的模式检测电路时别能力不同，从而保证在整个场强范围内，非接触式IC卡或射频识别标签芯片都能够正确识别读写器发送信号的类型，保证非接触式IC卡或射频 识别标签在要求的场强范围内都能够正常工作。为解决上述技术问题，本专利技术提供了一种自适应场强变化的A/B模式检测电路， 包括分压偏置电路，其检测输入信号包络；RC滤波电路，对所述分压偏置电路得到的分压 信号进行滤波，得到RC滤波信号，所述RC滤波电路中的电阻为一压控电阻；迟滞比较电路， 其通过所述分压信号和RC滤波信号得到A/B模式检测的输出；电压检测电路，其对所述RC 滤波信号的幅值进行检测，并通过解调电路输出数据信号下降沿触发的D触发器采样，采 样结果对所述RC滤波电路中的压控电阻阻值进行调整，调整RC滤波参数。本专利技术的有益效果在于由于采用本专利技术的电路，利用电压检测电路检测与场强 相关的RC滤波信号，被采样的电压检测电路输出信号对RC滤波参数进行调整，使得大场强 时RC滤波参数小，送入迟滞比较器的两个输入信号压差小；小场强时RC滤波参数大，送入 迟滞比较器的两个输入信号压差大，增强了 A/B模式检测电路在整个场强范围内的适应能 力，保证在整个场强范围内都能够正确识别读写器发送信号的类型。附图说明下面结合附图与具体实施方式对本专利技术作进一步详细的说明图1是非接触式IC卡或射频识别标签芯片的射频接口电路原理框图；图2是本专利技术自适应场强变化的A/B模式检测电路实施例的原理图。具体实施例方式如图2所示，当读写器发送到空间的交流载波信号被非接触式IC卡或射频识别 标签的天线端耦合并送入整流滤波电路后产生输出信号，即直流包络信号Demin。该包络 信号Demin含有读写器发送信号的调幅信息，幅度调制处，包络信号会有一个凹槽出现；同 时，该包络信号Demin幅值的高低直接与非接触式IC卡或射频识别标签所处场强相关，所 处场强越大，包络信号Demin幅值越高，所处场强越小，包络信号Demin幅值越低。所述包络信号Demin送入由接成二极管形式的MP1，MP2，MP3构成的分压偏置电 路，产生分压信号Vdiv。所述分压信号Vdiv含有读写器发送信号的调幅信息，同时该分压 信号Vdiv的幅值与非接触式IC卡或射频识别标签所处场强相关。所述分压信号Vdiv通 过一个RC滤波电路产生滤波信号Vrc。所述RC滤波电路由压控电阻Rvcon和电容C组成。 所述滤波信号Vrc的直流值与所述分压信号Vdiv的直流值相同。所述分压信号Vdiv和所 述滤波信号Vrc分别送入迟滞比较器Compl的正、负输入端。当非接触式IC卡或射频识别标签进入场强并稳定后，首先接收到载波信号，此时 所述包络信号Demin没有凹槽，所述分压信号Vdiv也没有凹槽。在场强稳定之前，由于所述 迟滞比较器的正向输入端为所述分压信号Vdiv，反向输入端为所述滤波信号Vrc，因此Vrc 建立稳定的速度要慢于Vdiv，迟滞比较器输出Mdec为高电平。当读写器发送经过幅度调 制的凹槽信号时，所述包络信号Demin产生一个下降沿，Vdiv随即开始随着所述包络信号 Demin的下降而下降，而Vrc由于RC滤波的作用而保持相对不变。如果读写器发送的是A 模式信号，Vdiv的下降幅度比较大，Vdiv就会比Vrc低AVl ；如果读写器发送的是B模式 信号，Vdiv的下降幅度比较小，Vdiv就会比Vrc低AV2，AV2< AVI。合理设置迟滞比较器的迟滞量ΔΥ3，使得M2< AV3< Δ VI，那么仅仅在读写器发送A模式信号时，所述迟 滞比较器发生翻转，输出Mdec变为低，而读写器发送B模式信号时所述迟滞比较器不发生 翻转，迟滞比较器的输出Mdec维持高电平不变。这样就实现了对读写器发送信号的A/B模 式识别。读写器发送的A/B模式信号是根据读写器发送的幅度调制信号的调制幅度比例 区分的，而A/B模式检测电路是对调制幅度绝对值的检测。如前所述，非接触式IC卡或射 频识别标签需要能够在一定场强范围内响应读写器发送的信号。这样就会出现一种情况， 即大场强时B模式信号的调制幅度大于小场强时A模式信号的调制幅度，导致无法在整个 场强范围内都将A/B模式信号识别出来。因此，不同的场强需要不同的模式检测电路识别 能力。这可以通过由比较器Comp2和D触发器Dl实现的电压检测电路的输出信号Vcon控 制所述压控电阻Rcon的大小来实现。当读写器发送的经过幅度调制的凹槽信号来临之前，所述的解调电路输出的读写 器传输数据Dout维持为高电平，由于下降沿触发的D触发器Dl的存在，比较器本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种自适应场强变化的Ａ／Ｂ模式检测电路，其特征在于，包括：分压偏置电路，其检测输入信号包络；ＲＣ滤波电路，对所述分压偏置电路得到的分压信号进行滤波，得到ＲＣ滤波信号，所述ＲＣ滤波电路中的电阻为一压控电阻；迟滞比较电路，其通过所述分压信号和ＲＣ滤波信号得到Ａ／Ｂ模式检测的输出；电压检测电路，其对所述ＲＣ滤波信号的幅值进行检测，并通过解调电路输出数据信号下降沿触发的Ｄ触发器采样，采样结果对所述ＲＣ滤波电路中的压控电阻阻值进行调整，调整ＲＣ滤波参数。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：刘曙斌，刘颖，赵林春，
申请(专利权)人：上海华虹集成电路有限责任公司，
类型：发明
国别省市：31